• Journal of the Optical Society of Korea
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• 제15권4호
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• pp.352-356
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• 2011

Dual-wavelength holography has a better axial range than single-wavelength holography, allowing unambiguous phase imaging. Partial coherence sources reduce coherent noise, resulting in improved reconstructed images. We measured a ball-grid array using dual-wavelength holography with partial coherence sources. This holography method is useful for measurement samples that exhibit coherence noise and have a step height larger than the single wavelength used in holography.

• 한국광학회지
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• 제22권3호
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• pp.129-133
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• 2011

2-파장 홀로그래피에서 수정된 화인 맵을 이용하여 2-파장 홀로그래피에서 발생하는 잡음 증폭현상을 줄이는 연구를 수행하였다. 일반 적인 화인 맵은 측정체의 단차가 2-파장 홀로그래피에 사용되는 광원의 파장보다 작은 경우에는 잡음을 잘 줄일 수 있으나, 단차가 파장 보다 큰 경우에는 측정 결과에 영향을 주어 잘못 된 측정 결과를 보인다. 이러한 오차를 줄이기 위하여 수정된 화인 맵을 이용하였으며, 그 결과 측정체의 단차가 파장 보다 큰 경우에도 측정에 영향을 주지 않고 잡음을 줄일 수 있음을 확인 하였다.

• 한국광학회지
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• 제23권6호
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• pp.251-254
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• 2012

이 파장 디지털 홀로그래피는 단파장 디지털 홀로그래피에 비해 보다 큰 단차를 얻는데 사용할 수 있다. 이파장 홀로그래피 방법을 이용하기 위해서는 각각의 파장에서 얻은 홀로그램으로부터 재생된 위상 이미지 크기가 동일하여야하는데, 위상 이미지 크기는 재생거리와 파장에 의존한다. 이러한 문제점을 해결하기 위하여 프레즈렐-불루스타인 변환법이 제안되었다. 이변환법은 재생상의 크기를 재생거리와 파장에 의존하지 않고 자유롭게 만들 수 있다. 본 연구에서는 프레즈렐-불루스타인 변환법을 이파장 홀로그래피에 적용하여 파장에 의존하지 않는 동일한 위상 재생상을 얻을 수 있음을 실험적으로 확인하였다.

• Journal of the Optical Society of Korea
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• 제13권2호
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• pp.173-177
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• 2009

Digital holographic microscopy allows optical path difference measurement. Optical path difference depends on the both refractive index and morphology of sample. We developed a dual-wavelength in-line digital holographic microscope that can measure simultaneously the refractive index and morphology of a sample, providing highly precise three-dimensional information. Here we propose theoretical and experimental methods for dual-wavelength in-line digital holographic microscopy. The measured data were reasonable, although there was data error. By improving the experimental method, we could measure the refractive index more precisely and obtain more accurate three-dimensional information on samples.

• Journal of the Optical Society of Korea
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• 제18권5호
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• pp.495-499
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• 2014

In this paper, a method is proposed for simultaneously measuring the front and back surface profiles of transparent micro-optical components. The proposed method combines a dual-wavelength digital holographic microscope with liquids to record holograms at different wavelengths, and then numerically reconstructs the three-dimensional phase information to image the front and back sides of the sample. A theoretical model is proposed to determine the surface information, and imaging of an achromatic lens is demonstrated experimentally. Unlike conventional interferometry, our proposed method supports nondestructive measurement and direct observation of both front and back profiles of micro-optical elements.