Kim, Yeon-Jung;Hyun, June-Won;Kim, Hee-Soo;Lee, Joo-Ho;Yun, Mi-Young;Noh, S.J.;Ahn, Yong-Hyun
Bulletin of the Korean Chemical Society
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제30권6호
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pp.1267-1273
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2009
The correlation between the sintering temperature and dielectric properties in the $Nb^{5+}\;and\;Ta^{5+}$ doped BaTi$O_3$ solid solutions have been investigated. The samples were sintered at temperatures ranging from 1250 to 1350 ${^{\circ}C}$ for 4 h in air. SEM, XRD and SEM/EDS techniques were used to examine the structure of the samples with particular focus on the incorporation of $Nb^{5+}\;and\;Ta^{5+}$ ions into the BaTi$O_3$ crystal lattice. The X-ray diffraction peaks of (111), (200) and (002) planes of BaTi$O_3$ solid solution doped with different fractions of $Nb^{5+}\;and\;Ta^{5+}$ were investigated. The dielectric properties were analyzed and the relationship between the properties and structure of doped BaTi$O_3$ was established. The fine-grain and high density of the doped BaTi$O_3$ ceramics resulted in excellent dielectric properties. The dielectric properties of this solid solutions were improved by adding a small amount of dopants. The transition temperature of the 1.0 mole% $Ta^{5+}$ doped BaTi$O_3$ solid solution was $\sim$110 ${^{\circ}C}$ with a dielectric constant of 3000 at room temperature. At temperatures above the Curie temperatures, the dielectric constant followed the Curie-Weiss law.
The properties of the n-type impurities nitrogen and phosphorus in diamond have been investigated by means of electronic band structure calculations within the framework of the semiempirical extended Huckel tight-binding method. For diamond with the nitrogen and phosphorus substitutional impurities, calculated density of states shows the impurity level deep in the band gap. This property can be derived from the substantial <111> relaxation of the impurity and nearest-neighbor carbon atoms, which is associated with the population of an antibonding orbital between them. The passivated donor property of the P-vacancy complex which lies deep in the gap is also discussed.
The temperature and frequency dependence of the dielectric constant of the BaTiO3 substituted with two types of donor dopants, Nb5+ and Ta5+, respectively, were compared and analyzed. Dielectric specimens of four specific compositions, Ba0.95Nb0.05TiO3, Ba0.90Nb0.10TiO3, Ba0.95Ta0.05TiO3, and Ba0.90Ta0.010TiO3 were prepared by calcining at 1100 ℃ and sintering at 1300 ℃ to have a perovskite structure to measure capacitance. XRD and SEM analysis were used to observe the structure, with particular focus on the integration into the Nb5+ and Ta5+ substituted BaTiO3 crystal lattice. X-ray diffraction peaks in the (200) and (002) planes were observed between 45.10° and 45.45° of the BaTiO3 solid solution substituted with different fractions of Nb5+ and Ta5+. The dielectric properties were analyzed and the relationship between the properties and structure of the substituted BaTiO3 was established. The fine particles and high density of the substituted BaTiO3 were maintained like pure BaTiO3, and in particular, a shift toward the low temperature side of the phase transition temperature range was clearly found, unlike pure BaTiO3. In addition, the phase transition at a temperature higher than the Curie temperature relatively satisfies the modified Curie-Weiss law.
Yoon, Jhin-Yeong;Lee, Jeong Seob;Yoon, Seung Soo;Kim, Young Kwan
Bulletin of the Korean Chemical Society
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제35권6호
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pp.1670-1674
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2014
Two red emitters, 2-(7-(4-(diphenylamino)styryl)-2-methyl-4H-chromen-4-ylidene)malonitrile (Red 1) and 2-(7-(julolidylvinyl)-2-methyl-4H-chromen-4-ylidene)malonitrile (Red 2) have been designed and synthesized for application as red-light emitters in organic light emitting diodes (OLEDs). In these red emitters, the julolidine and triphenyl moieties were introduced to the emitting core as electron donors, and the chrome-derived electron accepting groups such as 2-methyl-(4H-chromen-4-ylidene)malononitrile were connected to electron donating moieties by vinyl groups. To explore the electroluminescence properties of these materials, multilayered OLEDs using red materials (Red 1 and Red 2) as dopants in $Alq_3$ host were fabricated. In particular, a device using Red 1 as the dopant material showed maximum luminous efficiencies and power efficiencies of 0.82 cd/A and 0.33 lm/W at $20mA/cm^2$. Also, a device using Red 2 as a dopant material presented the CIEx,y coordinates of (0.67, 0.32) at 7.0 V.
본 연구에서는 $TiO_2$에 나이오븀 (Nb) 도펀트가 주입되었을 때의 활성화 에너지를 홀 효과 측정 시스템과 온도에 따른 photoluminescence (PL) 실험을 통하여 살펴보았다. Nb 이 도핑 된 n형 아나타제 $TiO_2$ 박막은 pulsed laser deposition (PLD) 기법으로 $SrTiO_3$기판에 성장되었다. 측정 결과, Nb 도너의 활성화 에너지 값은 홀 효과 측정에서는 14.52 meV, PL 측정에서는 6.72 meV로 다소 차이를 보였다. 이 결과는 기존의 어셉터 물질의 활성화 에너지들과는 차이를 나타내고 있으며, 향후 본 연구와 같은 shallow 도너 준위의 활성화 에너지 연구에 대한 더 많은 연구가 필요할 것으로 판단된다.
Doping effects and semiconductor behaviors of the dispersed p- and n-Si, p- and n- GaAs particles in the aqueous electrolyte have been studied using microelectrophoretic, voltammetric and chronoamperometric techniques. The cations (K$^{+}$) are adsorbed on both the p- and n- Si particle surfaces regardless of the sign of space charges in the depletion layers, i.e. doping profiles. The surface states are negatively charged acceptor states. On the other hand, the anions (CI$^{-}$) are adsorbed on both the p- and n- GaAs particle surfaces regardless of the sign of space charges in the depletion layers, i.e. doping profiles. The surface states are positively charged donor states. Under the same conditions, electrophoretic mobilities, electrochemical processes, doping effects and related semiconductor behaviors of the Si and the GaAs particles are similar regardless of the doping profiles, i. e. dopants and doping concentrations. The doping effects and related semiconductor behaviors of the dispersed p- and n- type semiconductor particles are gradually lost with decreasing dimensions.
($Zr_{0.8}, Sn_{0.2})TiO_4$의 소결온도를 저하시키고 품질계수 향상의 목적으로 첨가한 $V_2O_5$가 다른 donor형태의 화합물과 달리 품질계수의 저하를 가져오는 원인을 $Ta_2O_5$가 첨가된 ($Zr_{0.8}, Sn_{0.2})TiO_4$와 미세 구조변화, 전기전도도, 산화상태의 관점에서 비교 분석하였다. 일반적으로 donor형태의 화합물의 첨가는 ($Zr_{0.8}, Sn_{0.2})TiO_4$의 산소공공의 농도를 감소시켜 품질계수의 증가를 가져오는 것으로 알려져 있다. $V_2O_5$의 첨가의 경우는 액상소결에 의한 결정입계상 존재, 섬유상 형태의 $V_2O_5-TiO_2$rich 이차상 형성 및 Vanadium 이온의 산화상태 불안정에서 기인된 산소공공의 농도 증가가 복합적으로 ($Zr_{0.8}, Sn_{0.2})TiO_4$의 품질계수 저하 요인으로 작용하였다.
PBN 도가니를 이용하여 Si이 도핑된 GaAs 단결정을 수직경사 응고법으로 성장시켰다. PBN 도가니에 산화막인 $B_{2}O_{3}$의 양을 $0{\sim}0.2wt%$ 범위에서 변화시키면서, 성장 후 캐리어 농도를 측정하였다. $B_{2}O_{3}$ 첨가량이 증가함에 따라, 초기 0.1 정도의 Si 도판트의 편석계수는 0.01 부근까지 급격히 감소하고, 동시에 캐리어 농도도 감소하는 것을 알 수 있었다. 이는 성장도중 도판트인 Si이 $B_{2}O_{3}$과 반응하며 도너인 Si 양을 감소시키며, 동시에 억셉터인 B 양을 증가시키기 때문으로 보인다. 한편 PBN 도가니 내면에 얇은 유리질의 $B_{2}O_{3}$층 형성이 용이한 고온 산화막 처리가 결함감소에 효과적임을 확인하였다.
Ba0.5Sr0.5TiO3박막을 RF 마그네트론 스퍼터링법을 이용하여 Pt/Ti/SiO2/Si(100) 기판에 증착하였다 .누설전류에 영향을 주는 것으로 알려진 열처리 조건, dopant 효과 등을 평가하고자 이온반경이Ti와 유사하고 대부분이 Ti 자리를 치환하는 것으로 알려진 Nb와 Al을 각각 danor와 acceptor로 선택하여 BST 박막에 첨가한 후 누설전류를 측정하였다. 고온에서 in-situ 증착된 BST 박막은 거친 표면 형상을 보이며 낮은 전압에서 파괴가 발생하고, Nb 첨가로 누설전류가 증가하였다. 삼온 증착후 후열처리된 박막은 표면 형상도 평할도가 증가하였으며 in-situ로 제조된 박막에 비해 높은 파괴전압과 낮은 누설전류를 나타내었다. 특히 Al이 첨가된 BST 박막의 누설전류밀도는 ~10A/cm2로 도핑을 하지 않은 박막이나 Nb가 첨가된 박막에 비해 매우 낮은 누설전류밀도를 나타내었으며, 이는 산화로 인한 산소공공의 감소, 이동 가능한 hole의 감소와 후열처리과정중 계면 및 입계의 산화로 Schottky 장벽에 높아진 결과로 판단된다.
Kim, Kyung-Man;Byun, Seung-Hyun;Yang, Pan;Lee, Yoon-Ho;Lee, Jai-Yeoul;Lee, Hee-Young
한국전기전자재료학회:학술대회논문집
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한국전기전자재료학회 2008년도 하계학술대회 논문집 Vol.9
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pp.331-332
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2008
Couplings between electric, magnetic, and structural order parameters result in the so-called multiferroic phenomena with two or more ferroic phenomena such as ferroelectricity, ferromagnetism, or ferroelasticity. The simultaneous ferroelectricity and ferromagnetism (magnetoelectricity) permits potential applications in information storage, spintronics, and magnetic or electric field sensors. The perovskite BiFeO3(BFO) is known to be antiferromagnetic below the Neel temperature of 647K and ferroelectric with a high Curie temperature of 1043K. It exhibits weak magnetism at room temperature due to the residual moment from a canted spin structure. It is likely that non-stoichiometry and second-phase formation are the factors responsible for leakage current in BFO. It has been suggested that oxygen non-stoichiometry leads to valence fluctuations of Fe ions in BFO, resulting in high conductivity. To reduce the large leakage current of BFO, one attempt is to make donor-doped BFO compounds and thin films. In this study, (Bi1-x,Ndx)(Fe1-y,Tiy)O3 thin films have been deposited on Pt(111)/TiO2/SiO2/Si substrates by pulsed laser deposition. The effect of dopants on the phase evolution and surface morphology are analyzed. Furthermore, electrical and magnetic properties are measured and their coupling characteristics are discussed.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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