• Korean Journal of Crystallography
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• v.11 no.4
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• pp.238-240
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• 2000

A helminth glutathione S-transfease, 26 kDa isozyme from Clonorchis sinensis was cocrystallized with inhibitors by the hanging-drop method with monomethylether 550 as a precipitant. The crystals, grown in the presence of S-methylglutathione or trans-4-phenyl-3-buten-2-one, suitable for X-ray analysis, belong to the hexagonal space group P6₂(or P6₄), with unit cell parameters a= b= 97.6Å, c=117.4Å. X-ray diffraction data were collected with 2.5Å resolution.

• Proceedings of the Korea Crystallographic Association Conference
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• 2000.11a
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• pp.20-20
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• 2000

• Korean Journal of Crystallography
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• v.12 no.4
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• pp.227-232
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• 2001

Structure-physical properties relationships for Aurivillius ceramics are discussed, with empha-sis in symmetry considerations. Single-crystal materials and polycrystal ceramics are analysed. Electric and magnetic coupling properties are considered. Colour Symmetry Groups and Texture Analysis tool are emploed. Symmetry conditions for polarisation vectors and inverse pole figures related to Aurivillius phases are given. The influence of crystallographic texture of the physical properties of polycrystalline Aurivillius ceramics is evaluated.

• Proceedings of the Korea Crystallographic Association Conference
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• 2002.05a
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• pp.18-18
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• 2002

• Proceedings of the Korea Crystallographic Association Conference
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• 2003.05a
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• pp.10-10
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• 2003

EXAES 분석은 Normalized absorption spectrum의 Fourier transform을 기초로 분석되고 있기 때문에 EXAFS 분석에서의 R-space 분해능은 흡수 스펙트림에서 넓은 에너지 영역에서 EXAFS 신호가 얻어질수록 증가된다. 그러나 EXAFS 스펙트럼의 신호는 에너지가 증가함에 따라 지수적으로 감소하기 때문에 매우 한정된 범위의 스펙트럼이 측정되고 따라서 EXAFS 분석은 R-space에서의 분해능은 매우 제한적이다. 이것을 극복하기 위하여 신호 처리에서 Regularization방법을 도입하여 R-space에서의 분해능이 기존의 EXAES보다 현저히 증가될수 있음을 확인하였다.

• Proceedings of the Korea Crystallographic Association Conference
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• 2002.11a
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• pp.27-27
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• 2002

[Cp＊Rh(H₂O)₃](OTf)₂ (1) reacts with a stoichiometric amount of A and B [ A = Me₃SiN₃, B = 4,4'-bipridyl, (2a), A = Me₃SiNCO, B = 4,4'-bipridyl (2b)] in acetone at room temperature for 3 h to give the supramolecular complexes [Cp＊₄Rh₄(μ-A)₄(μ-B)₂] [A = Me₃SiN₃, B = 4,4'-bipridyl, (2a), A = Me₃SiNCO, B = 4,4'-bipridyl (2b)]. Complexes 2a and 2b have been structurally characterized by X-ray diffraction.

• Proceedings of the Korea Crystallographic Association Conference
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• 2002.11a
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• pp.28-28
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• 2002

The hydrothermal reaction of Ni(NO₃)·6H₂O with 4.4'-oxybis(benzoic acid) (OBCH₂) and trans-1,2-bis(4-pyridyl)ethylene (bipyen) led to the formation of a 3-dimensional coordination polymer with the empirical formular of [Ni(OBC)(bipyen)]·H₂O. The complex has been characterized by X-ray diffraction, elemental analysis, TGA, IR, X-ray power diffraction (XRPD), It crystallized triclinic space group P1 with a = 9.280(2)Å., b = 11.317(4) Å, c = 12.442(3) Å, Z = 2, R (ωR₂) = 0.0346 (0.0846).

• Proceedings of the Korea Crystallographic Association Conference
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• 2002.11a
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• pp.44-44
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• 2002

방사광 X-선 반사도를 이용하여 나노 스케일의 두께를 가진 oxynitride 박막의 계면 구조 및 두께를 측정하였다. Oxynitride 박막에서 nitrogen 분포의 분석은 두께가 극도로 얇아지는 요즘의 반도체 제작에서 매우 중요한 과제로 대두되고 있다. (1) X-선 반사도 측정을 분석하여 박막 깊이에 따른 전자밀도분포와 계면에서의 거칠기 및 각 층의 두께가 결정되었다. X-선 반사도 측정 분석으로부터 Nitrogen은 SiO₂와 Si substrate 계면에 위치하며, 화학조성분포와 층 구조의 상관성을 SIMS를 이용한 조성분포 측정과 비교하였다.

• Proceedings of the Korea Crystallographic Association Conference
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• 2002.11a
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• pp.7-7
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• 2002

실공간 (real space)에서 원자분해능을 보여주는 STM의 작동원리를 핵심사항을 중심으로 설명하며 또한 실제 제작 시 고려해야 하는 사항들을 구체적으로 검토한다. 반도체의 경우 전자들이 원자부근에서 국소화가 잘 되므로 STM으로 표면의 원자상을 얻기가 비교적 쉽다. 특히 실리콘은 그 물질의 중요성과 결부되어 STM으로 많이 연구되어 왔으며 다른 방법으로는 알 수 없는 독특한 결과들을 보여주었다. STM의 응용사례로써 오랫동안 수수께끼였던 Si(001) 표면에서 생기는 점결함(point defect)과 계단 (step)부근의 원자구조 및 최근의 몇 가지 연구결과에 대한 기본적인 결과들을 소개한다.

• Proceedings of the Korea Crystallographic Association Conference
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• 2002.11a
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• pp.51-51
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• 2002

나노기공물질은 특정 기반물질(matrix) 내부에 대략 나노미터크기의 기공을 함유하고 있는 물질이며 나노기공물질의 특성은 기반물질의 특성과 더불어 기공의 형태, 크기, 분포에 의해서 결정된다. 나노기공물질의 기공에 대한 정보를 측정하는 방법으로는 TEM, 흡착법, FE-SEM과 더불어 중성자 또는 X-ray 빔의 산란을 이용하는 소각중성자산란 (Small-Angle Neutron Scatering, SANS), 소각 X-ray 산란 (Small-Angle X-ray Scattering, SAXS), 중성자반사율측정 (Neutron Relfectimetry, NR), X-ray 반사율측정 (X-Ray Reflectometry, XRR) 등이 사용되고 있다. 본 발표는 대략 1 nm - 100 nm 영역의 bulk 구조와 층상구조를 측정할 수 있는 소각 중성자 산란과 중성자 반사율 측정기법을 이용한 나노기공 측정기술을 다룬다.