경각형 결정화에 의하여 벤젠-사이클로헥산 혼합물로부터 벤젠의 결정화에서 결정에 내포된 불순물(사이클로헥산)의 분포가 조사되었다. 결정의 순도에 미치는 결정성장속도의 영향을 파악하였으며 모든 실험결과는 Wintermantel 모델에 의해 도시될 수 있었다. 결정의 순도는 과냉각 정도가 클수록, 주입조성이 낮을 수록, 결정성장속도가 클 수록 낮았으며 결정성장속도는 불순물의 내포를 지배하는 가장 중요한 변수이다. 결정화 초기에 형성된 결정은 불순물을 많이 내포하고 있으며 결정의 두께가 증가함에 따라 불순물은 잔여용융액쪽으로 이동되어 배제됨을 알 수 있었다. 경막결정화에서 결정에 내포된 불순물은 일정두께의 결정층에 온도구배를 이용하여 결정을 부분용해시키면 불순물의 확산에 의하여 제거될 수 있음을 알 수 있었다.
The ${\alpha}-In_2S_3:Co^{2+}$ single crystal with a good quality and stabilized property were gained successfully by the CTR(Chemical Transport Reaction)method. XRD analysis showed that the grown single crystals were cubic structure. The optical absorption spectra of ${\alpha}-In_2S_3:Co^{2+}$ single crystal showed impurity absorption peaks due to cobalt impurity. These impurity absorption pesks were assigned to the ligand transition between the split energy levels of $Co^{2+}$ ions sited in $T_d$ symmetry of these semiconductor host lattice.
N type single crystal CdTe is grown by doping Gallium as 0.01 percent, by using zone melting method. And also p type CdTe is grown by doping Ag, Sb, and Te as 0.01%. Resistivity and Concentration of the n.p type single crystal are measured. And then Li ions are implanted on the n type CdTe by high voltage accellerator with different amount of impurity. Indium is evaporated on the p type in high vacuum condition. These sample are heated so as to make P-N Junction in Argon gas flow. Electrical properties for solar cell are investigated. Photovoltage and current are found to be varyed according to following factor: 1) amount of impurity 2) diffusion thickness 3) temperature and time for making P-N junction. Efficiency of the P-N Junction evaporated Indium is 6.5 when it is heated at 380.deg. C for 15 minutie.
Single crystal of $In_2S_3$ and $In_2S_3:Co^{2+}$ were grown successfully with a good quality by the CTR(Chemical Transport Reaction)method. XRD analysis showed that the grown In2S3 and $In_2S_3:Co^{2+}$ single crystals were cubic structure. The optical absorption spectra of $In_2S_3:Co^{2+}$ single crystal showed impurity absorption peaks due to cobalt impurity. These impurity absorption pesks were assigned to the ligand transition between the split energy levels of $Co^{2+}$ ions with $T_d$ symmetry of these semiconductor host lattice.
High quality CdTe single crystal for the solar cell fabrication was grown by vertical Bridgman method. The etch pits patterns of (111) surfaces of CdTe etched by Nakagawa solution was observed the (111)A compesed of Cd atoms with typical triangle etch pits of pyramid mode. From the photoluminescence measurement on (111)A, we observed free exciton ($E_{x}$) existing only high quality crystal and neutal acceptor bound exciton ($A^{0}$,X) having very strong peak intensity. Then, the full width at half maximum and binding energy of neutral acceptor bound exciton were 7 meV and 5.9 meV, respectively. By Haynes rule, an activation enery of impurity was 59 meV. Therefore, the origins on impurity level acting as a neutral acceptor were associated Ag or Cu elements.
We developed a new RF indirect-heating LPE furnace. The thermal gradient of our newly developed furnace is less than that of direct heating, and is as gentle as that of the resistance-heating LPE furnace. With this new furnace, the heating and/or cooling is faster than that of the resistance-heating furnace. Impurity-doped YIG film was grown from a $PbO-B_{2}O_{3}$, based flux on a (111) GGG substrate. To study the effect of the impurities on the MSSW threshold power and the saturation response time, we used two microstrip lines to excite and propagate the MSSW at 1.9 GHz. The MSSW threshold power and saturation response time was found to be related to the $\Delta$H.
한국전기전자재료학회 2004년도 춘계학술대회 논문집 반도체 재료 센서 박막재료 전자세라믹스
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pp.42-45
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2004
High quality CdTe single crystal for the solar cell fabrication was grown by vertical Bridgman method. The etch pits patterns of {111}surfaces of CdTe etched by Nakagawa solution was observed the {111} A composed of Cd atoms with typical triangle etch pits of pyramid mode. From the photoluminescence measurement on {111}A, we observed free exciton($E_x$) existing only higy quality crystal and neytral acceptor bound exciton($A^0$,X) having very strong peak intensity. Then, the full width at half maximum and binding energy of neutral acceptor bound exciton were 7 meV and 5.9 meV, respectively. By Haynes rule, an actibation energy of impurity was 59 meV. Therefore, the origins on impurity level acting as a neutral acceptor were associated Ag or Cu elements.
For Ar=5, Pr=1.18, Le=0.15, Pe=2.89, Cv=1.06, $P_B$=20 Torr, the effects of impurity $(N_2)$ on thermally and solutally buoyancy-driven convection ($Gr_t=3.46{\times}10^4$ and $Gr_s=6.02{\times}10^5$, respectively) are theoretically investigated for further understanding and insight into an essence of thermo-solutal convection occurring in the vapor phase during the physical vapor transport. For $10K{\leq}{\Delta}T{\leq}50K$, the crystal growth rates are intimately related and linearly proportional to a temperature difference between the source and crystal region which is a driving force for thermally buoyancy-driven convection. Moreover, both the dimensionless Peclet number (Pe) and dimensional maximum velocity magnitudes are directly and linearly proportional to ${\Delta}T$. The growth rate is second order-exponentially decayed for $2{\leq}Ar{\leq}5$. This is related to a finding that the effects of side walls tend to stabilize the thermo-solutal convection in the growth reactor. Finally, the growth rate is found to be first order exponentially decayed for $10{\leq}P_B{\leq}200$ Torr.
The stochiometric mix of evaporating materials for the ZnGa$_2$Se$_4$ single crystal thin films was prepared from horizontal furnace. To obtain the single crystal thin films, ZnGa$_2$Se$_4$ mixed crystal was deposited on thoroughly etched semi-insulating GaAs(100) substrate by the Hot Wall Epitaxy (HWE) system. The source and substrate temperature were 61$0^{\circ}C$ and 45$0^{\circ}C$, respectively. The crystalline structure of single crystal thin films was investigated by the photoluminescence and double crystal X-ray diffraction (DCXD). The carrier density and mobility of ZnGa$_2$Se$_4$ single crystal thin films measured from Hall effect by van der Pauw method are 9.63x10$^{17}$ cm$^{-3}$ , 296 $\textrm{cm}^2$/V.s at 293 K, respectively, From the photocurrent spectrum by illumination of perpendicular light on the c-axis of the ZnGa$_2$Se$_4$ single crystal thin film, we have found that the values of spin orbit splitting $\Delta$So and the crystal field splitting $\Delta$Cr were 251.9 MeV and 183.2 meV at 10 K, respectively. From the photoluminescence measurement on ZnGa$_2$Se$_4$ single crystal thin film, we observed free excition (E$_{x}$) existing only high quality crystal and neutral bound excition (A$^{0}$ ,X) having very strong peak intensity. Then, the full-width-at-half-maximum(FWHM) and binding energy of neutral acceptor bound excition were 11 meV and 24.4 meV, respectivity. By Haynes rule, an activation energy of impurity was 122 meV.on energy of impurity was 122 meV.
In this research, thermoluminescent pellets were prepared by adding Mg, Cu, Na and Si impurities to lithium fluoride (LiF) crystal powder via melting and quenching methods to study dosimetric characteristics. Here, its reproducibility, dose response, dosimeter sensitivity, thermal and optical fading were investigated and the obtained results were compared with the properties of LiF: Cu, Mg, P crystal nominated as GR-200.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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