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TTCN-3 적합성 시험 언어를 이용한 IEC61850 상호 연동성 시험기 개발 (The Development of Interoperability Tester for the IEC 61850 based on TTCN-3)

  • 송병권;이숙희
    • 전기전자학회논문지
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    • 제14권3호
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    • pp.210-218
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    • 2010
  • TTCN-3(Testing & Test Control Notation Version 3)은 2001년 ETSI에서 표준화한 국제 표준 테스트 언어이다. TTCN-3은 프로토콜 적합성 시험에 일반적으로 사용하고, 특정 부분의 모듈이나, CORBA 기반의 플랫폼 및 API 시험 등에 적용이 가능하다. 또한 적합성 시험뿐만 아니라 연동 시험, 반복 시험, 플랫폼 시험 등의 다양한 시험에 적용이 가능하다. IEC61850 은 SCADA(Supervisory Control And Data Acquisition) 시스템에서 SAS(Substation Automation System)를 위해 제안된 프로토콜이다. 본 논문에서는 TTCN-3 적합성 시험 언어를 이용하여 IEC 61850 상호 연동성 시험기를 Windows 환경에서 구현하였다. SUT(System Under Test)로는 리눅스 운영체제 기반의 IEC61850 Server Simulator를 사용하였다. 본 논문에서 시험한 적합성 시험 항목은 "IEC61850 - Part10" 문서의 테스트 항목들 중 "Server, Logical device, Logical node, and data model"의 Positive test case_Srv5 항목을 시험하였다.