Gas phase compositions of the hot filament-assisted diamond CVD reaction were analyzed by on-line quadrupole mass analysis(QMA) technique. D2 isotope experiments showed that methance molecules were decomposed into atomic state and then recombined in to acetylene during transport the probe line. Although acetylene or ethylene was supplied instead of methane similar gas compositions were obtained when filament temperature was above 1500$^{\circ}C$ Therefore this system could be assumed near thermal equilibrium state. Filament temperature and reaction pressure variation experiments exhibited the same tendency between acetylene concentration and diamond growth rate and these results implied that acetylene molecule played the role of the reactive species in the diamond CVD reaction.
On the effect of substrate bias at first stage of diamond synthesis at lower substrate temperature(approximately 673K) using microwave plasma CVD and effect of reaction gas system for the bias enhanced nucleation were studied. The reaction gas was mixture of methane and hydrogen or carbon monoxide and hydrogen. The nucleation density of applied bias -150V using $CH_4-H_2$ reaction gas system, significantly higher than that of $C-H_2$ reaction gas system. When the $CH_4-H_2$ reaction was used, nucleation density was increased because of existence of SiC as a interface for diamond nucleation. By use of this negative bias effect for fabrication of CVD diamond film using two-step diamond growth without pre-treatment, fabrication of the diamond film consist of diamond grains $0.2\mu\textrm{m}$ in diameter was demonstrated
Ultrafine $SnO_2$ powder was prepared by the diffusion mixing gas-phase reaction of $SnCl_4$(g) and water vapor. The effects of reaction variables, such as the chloride partial pressure, the reaction temperature, and the residence time is the reactor, on the powder size were examined systematically. Calculated concentration and distribution of chemical species, using the Burke-Schumann diffusion mixing model, were compared with the experimetal results. The effects of the reaction variables on the powder size were also discussed qualitatively.
Transactions on Electrical and Electronic Materials
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제4권5호
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pp.33-37
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2003
This study was performed to investigate the deposition mechanism of SiO$_2$ by ArF excimer laser(l93nm) CVD with Si$_2$H$\_$6/ and N$_2$O gas mixture and evaluate laser CVD quantitatively by modeling. With ArF excimer laser CVD, thin films can be deposited at low temperature(below 300$^{\circ}C$), with less damage and good uniformity owing to generation of conformal reaction species by singular wavelength of the laser beam. In this study, new model of SiO$_2$ deposition process by laser CVD was introduced and deposition rate was simulated by computer with the basis on this modeling. And simulation results were compared with experimental results measured at various conditions such as reaction gas ratio, chamber pressure, substrate temperature and laser beam intensity.
The purpose of this study is to clarify the influence of the reaction temperature and $AlCl_3$ content on the aluminide coating formation on Ni-based superalloy IN713C in CVD process and to compare its throwing power with that of Pack Cementation process. Aluminide coating was formed by CVD in hot-wall stainless tube reactor from an $AlCl_3-H_2$ mixture in the temperature range $850{\sim}1050^{\circ}C$. At reaction temperature $850^{\circ}C$, the coating thickness and the content of aluminium at the surface were increased as $AlCl_3$ heating temperature was raised. At reaction temperature $1050^{\circ}C$, they were not influenced by the variation of $AlCl_3$ heating temperature. When $AlCl_3$ heating temperature was fixed $125^{\circ}C$, the phases of the coatings were varied from $Ni_2Al_3$ to Al-rich NiAl and to Ni-rich NiAl with the reaction temperature. Therefore, in this study the reaction temperature has been found to be a major factor in determining the phase formed in CVD process. The throwing power of CVD was superior to that of Pack Cementation.
Tungsten (W) thin film was deposited at $400^{\circ}C$ using pulsed chemical vapor deposition (pulsed CVD); film was then evaluated as a nucleation layer for W-plug deposition at the contact, with an ultrahigh aspect ratio of about 14~15 (top opening diameter: 240~250 nm, bottom diameter: 98~100 nm) for dynamic random access memory. The deposition stage of pulsed CVD has four steps resulting in one deposition cycle: (1) Reaction of $WF_6$ with $SiH_4$. (2) Inert gas purge. (3) $SiH_4$ exposure without $WF_6$ supply. (4) Inert gas purge while conventional CVD consists of the continuous reaction of $WF_6$ and $SiH_4$. The pulsed CVD-W film showed better conformality at contacts compared to that of conventional CVD-W nucleation layer. It was found that resistivities of films deposited by pulsed CVD were closely related with the phases formed and with the microstructure, as characterized by the grain size. A lower contact resistance was obtained by using pulsed CVD-W film as a nucleation layer compared to that of the conventional CVD-W nucleation layer, even though the former has a higher resistivity (${\sim}100{\mu}{\Omega}-cm$) than that of the latter (${\sim}25{\mu}{\Omega}-cm$). The plan-view scanning electron microscopy images after focused ion beam milling showed that the lower contact resistance of the pulsed CVD-W based W-plug fill scheme was mainly due to its better plug filling capability.
Hydrogenated amorphous silicon solar cells which are fabricated by photo-chemical vapor deposition (photo-CVD) system has been investigated. In the photo-CVD system which consists of three separate reaction chambers, low-pressure mercury lamp has been used as a light source. The main reactant ($Si_2H_6/He$) gases which are premixed with a small amount of mercury vapor in a mercury-vaporizer kept at $50^{\circ}C$ have been used. Using $C_2H_2$ and $SiH_2(CH_3)_2$ as the carbon source, p-type wide band gap a-SiC:H films have been obtained. The result has been found that the undoped layers of the pin/substrate solar cells are influenced by the residual impurities, such as phosphorus and boron during the deposition process. By minimizing the effect of the impurities in the i-layer and optimizing conditions at the p-layer and p/i interface, the energy conversion efficiency of 9.61 % under AM-1 ($100mW/Cm^2$) has been achieved for pin/substrate solar cells illuminated through their p-layers, using the three separate reaction chamber apparatus. It is expected that a-SiC:H solar cells with the energy conversion efficiency over 10% have been fabricated by Photo-CVD method.
Diamond thin films were synthesised from the mixed gases of $CH_4$ and $H_2$ on silicon substrate by R.F plasma CVD and films deposited were investigated by SEM. XRD and Raman spectroscope. From these result, cubo-octahedral diamond particles were synthesised under the following condition: methane concentration. 1.0vol% ; pressure of reactor, 0.3torr ; R.F power, 500W ; reaction time, 20hr.
Aluminum thin films were deposited on the silicon substrate by the pyrolysis of TrilsoButylAluminum (TIBA) in a cold wall LPCVD reactor. The effect of substrate on the surface topograply and the decomposition reaction was investigated. The activation energy for the decomposition of TIBA was turned out to be 1 eV from the Arrhenious plot. The surface topography of the CVD aluminum could be improved by the application of thin metal film, which was in-situ deposited on the silicon prior to CVD process.
This study was performed to investigate the deposition mechanism of $SiO_2$ by ArF excimer Laser(193nm) CVD with $Si_2H_6$ and $N_2O$ gas mixture and evaluate Laser CVD quantitatively by modeling. In this study, new model of $SiO_2$ deposition process by Laser CVD is introduced and deposition rates are simulated by computer with the basis on this modeling. And simulation results are compared with experimental results measured at various conditions such as reaction gas ratio, chamber pressure, substrate temperature and laser beam intensity.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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