온도 변화 및 Gate bias stress time에 따른 MICC, ELA TFT성능 변화 비교 분석 (Analysis of MICC, ELA TFT performance transition according to substrate temperature and gate bias stress time variation)
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- 한국전기전자재료학회:학술대회논문집
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- 한국전기전자재료학회 2010년도 하계학술대회 논문집
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- pp.368-368
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- 2010