We used time-of-flight method to analyze transport properties of charge carrier which is produced by X-ray exposure. It is the research of charge transport and specific property of trap that is performed in direct digital x-ray image receptor. But the results shows us different measurement value of electron and charge drift mobility and it is difficult to precise analysis about charge transport properties and trap mechanism. We measured transit time and drift mobility of charge carriers using time-of-flight method to evaluate the correlation of a-Se thickness change and electric field. We made a testing glass with a-Se of 400 ${\mu}m$ thickness on coming glass using thermoevaporation method and built Au electrode with 300nm, $2{\varphi}$ on both sides of a-Se, As a result of this experiment, electron and hole transit time was each $229.17{\mu}s$ and $8.73{\mu}s$ at $10V/{\mu}m$ electric field and Drift mobility was each $0.00174 cm^{2}/V{\cdot}s$, $0.04584cm^{2}/V{\cdot}s$.
In recent years, there has been keen interest in developing f1at panel detectors for all modalities of radiology, including gerneral radiology, fluoroscopy(angiography and cardiology), electronic portal imaging, and mammography. In this paper, we report the new hybrid x-ray detector consisted of CsI(Tl) photoemission layer and a-Se photoconductor layer to resolve conventional x-ray detector such as the direct detector using a-Se and the indirect detector using CsI(Tl)/a-Si. To design the structure of CsI(Tl)/a-Se detector, the penetrated energy spectrum and absorption fraction was estimated using MCNP 4C code. Experimental results showed that the absorption fraction of $500{\mu}m-Se$ film and $150{\mu}m-CsI\left(Tl \right)/a-Se\left( 30{\mu}m \right)$ film is 70% at 70 kVp. The absorption energy is 90% at $350{\mu}m-CsI(Tl)$.
Transactions on Electrical and Electronic Materials
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제8권6호
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pp.250-254
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2007
Applying the moving photo-carrier grating(MPG) technique and time-of-flight(TOF) measurements, we studied the transport properties of stabilized amorphous selenium typical of the material used in direct conversion X-ray imaging devices. For MPG measurement, we obtained electron and hole mobility and the recombination lifetime of $\alpha-Se$ films with arsenic(As) additions. We found an apparent increase in hole drift mobility and recombination lifetime, especially when 0.3 % As was added into $\alpha-Se$ film, whereas electron mobility decreased with the addition of As due to the defect density. For TOF measurement, a laser beam with pulse duration of 5 ns and wavelength of 350 nm was illuminated on the surface of $\alpha-Se$ with a thickness of 400 ${\mu}m$. The measured hole and electron transit times were about 8.73 ${\mu}s$ and 229.17 ${\mu}s$, respectively.
We used time-of-flight method to analyse transport properties of charge carrier which is produced by X-ray exposure. It is the research of charge transport and specific property of trap that is performed in direct digital x-ray image receptor. But the results shows us different measurement value of electron and charge drift mobility and it is difficult to precise analysis about charge transport properties and trap mechanism. We measured transit time and drift mobility of charge carriers using time-of-fight method to evaluate the correlation of a-Se thickness change and electric field. We made a testing glass with a-Se of 470 ${\mu}{\textrm}{m}$ thickness on corning glass using thermoevaporation method and built Au electrode with 300nm, 2$\phi$ on both sides of a-Se. As a result of this experiment, electron and hole transit time was each 229.17 $\mu$s and 8.737 $\mu$s at 10V/${\mu}{\textrm}{m}$ electric field and Drift mobility was each 0.00174 $\textrm{cm}^2$/V.s, 0.04584 $\textrm{cm}^2$/V.s.
In recent years, there has been keen interest in developing flat panel detectors for all modalities of radiology, including gerneral radiology, fluoroscopy, electronic portal imaging, and mammography. In this paper, we report the new hybrid x-ray detector consisted of ZnS(Ag) photoemission layer and a-Se photoconductor layer to resolve problem of conventional x-ray detector such as the direct detector and the indirect detector. To design the structure of ZnS(Ag)/a-Se detector, the penetrated energy spectrum and absorption fraction was estimated using MCNP 4C code. Also, we carried out the experiment to demonstrate the result of MCNP 4C code. Experimental results showed that the absorption fraction of $500{\mu}m$-ZnS(Ag) film was above 87%, 75% at 60 and 80 kVp. As a results, we can determined the thickness of suitable phosphor and the thickness of photoconductor.
This paper is about research of scintillator layer, which is used for Hybrid method to increase electric signals in a-Se, the material of Direct method. In case of the thermal evaporation, CsI has column structure which is an disadvantage as scintillator. But it decreases scattering of incident X-ray, has better Light output intensity than other scintillation materials. CsI was made by Thermal evaporation. The Doping material, Na, 0.1, 0.3, 0.5, 0.7g were added in each sample. Analysis of absorbed wavelength, PL(Photoluminescence), Light output intensity, SEM, and XRD analysis were performed to analyze optical characteristics. Doping rate of CsI:Na to use as scintillation layer in a-Se based detector could be optimized.
Present1y the X-Ray diagnosis system is a real condition that is changing by digital ways in it's existent analog ways. This digital radiation detector is divided by the direct method and the indirect method. The indirect method of applied voltage has special qualities that the resolution is low than direct method by diffusion effect that happens. The conversion process ( radiation${\rightarrow}$visible ray${\rightarrow}$electrical signal of two times, has shortcomings that the energy conversion efficiency of electrical signal is low. The direct method has shortcomings that need strong electric fie1d to detect electrical signal efficiently. This research achieved to develop digital detector of the Hybrid method that have form that mixes two ways to supplement shortcoming of direct. indirect method. A studied electrical characteristic by Iodine's Mixture ratio change is added to selenium in the detector which has a multi-layer structure (Oxybromide + a-Se). There are 8 kinds of Manufactured compositions to amorphous selenium Iodine each 30ppm, 100ppm, 200 ppm, 300ppm, 400ppm, 500ppm, 600ppm, 700ppm by a doped photoconductor through a vacuum thermal evaporation method. The phosphor layer is consisted of Oxybromide ($BrO_2$) which uses optical adhesives multi-layer structure. The manufactured compositions calculates and compares Net Charge and signal to noise ratio measuring Photocurrent about Darkcurrent and X-ray. When doped Iodine Mixture ratio is 500ppm to the multi-layer structure (Oxybromide + a-Se), applied voltage of $3V/{\mu}m$, leakage current of compositions $2.61nA/cm^2$ and net charge value by 764pC/$cm^2$/mR then the best result appeared.
본 연구에서는 a-Se 기반 디지털 X-선 영상장치의 저대조도 특성을 평가하기 위하여 contrast-detail 곡선 해석을 수행하였다. 본 실험에 사용된 X-선 영상장치는 픽셀크기가 $139mm{\times}139mm$이고 유효면적이 $46.7cm{\times}46.7cm$인 a-Si TFT 기판 위에 500mm 두께의 광전도체가 코팅된 구조를 갖고 있다. Contrast-detail 곡선을 측정하기 위하여 우선 주어진 촬영조건(즉, 40, 50, 60, 70, 80 kVp, and 16 mA.s)에서 상용 팬톰인 CDRAD 2.0을 사용하여 X-선 영상을 획득한 후, 그 영상으로부터 IQFinv 인자를 사용하여 그 특성을 최종 평가하였다. 평가된 IQFinv 값은 주어진 광 플루언스(즉, $1.8{\times}105$, $5.9{\times}105$, $11.3{\times}105$, $19.4{\times}105$, and $29.4{\times}105$ photons/$mm^2$)에서 각각 24.4, 35.3, 39.2, 41.5, 43.4으로 광 플루언스가 증가할수록 점진적으로 증가하였으며 이는 광 플루언스가 증가할수록 영상의 가독성이 향상됨을 나타낸다.
요오드화수은은 우수한 엑스선 민감도 특성을 가진 광도전체로 비정질 셀레늄을 대체할 수 있는 후보물질로 많은 연구가 진행되고 있지만 높은 누설전류로 인해 상용화에 많은 한계점을 나타내고 있다. 본 연구에서는 요오드화수은의 높은 누설전류를 저감하기 위해 요오드화수은에 비해 입자가 작은 이산화규소 및 이산화티타늄을 물리적으로 혼합하여 단위시편을 제작하였으며 제작된 단위시편의 전기적 특성을 비교 분석하였다. 그 결과 혼합한 두 물질 모두 요오드화수은의 높은 누설전류를 저감하는데 효과가 있었으며 요오드화수은-이산화티타늄 혼합물에서는 방사선 민감도 특성이 상당히 높아짐을 확인하였다.
moving photocarrier grating(MPG)기술을 이용하여 디지털 X-선 변환물질 a-Se:As 필름에서 As 첨가효과에 관하여 연구하였다. 이 방법은 시료를 조사하기 위하여 주파수를 변화시킨 2개 레이저 빔의 중첩으로 얻어진 움직이는 간섭패턴을 이용한다. 시료의 수송변수는 시료에서 변조 방향으로 유도되는 grating-속도에 의존하는 전류밀도로부터 얻어진다. As 첨가에 따른 a-Se 필름의 전자와 정공 이동도 그리고 재결합 수명을 구하였다. 전자의 이동도는 결함 상태 때문에 As 첨가에 따라 감소하는 반면, 특히 a-Se 필름에 0.3% As 첨가할 때 정공 이동도와 재결합 수명이 증가하였다. MPG 기술로 얻은 As가 첨가된 a-Se 필름의 수송성질을 a-Se:As로 제작한 X-선 detector의 X-선 감도와 비교하였다. 실험결과 0.3% As가 첨가된 a-Se으로 제작한 X-선detector가 가장 우수한 X-선 감도를 나타내었다.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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