• 한국정보통신학회논문지
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• 제24권9호
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• pp.1180-1186
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• 2020

임베디드 시스템 중 하나인 TPU (Tiny Processing Unit)를 사용하는 데에는 많은 제약들이 따른다. 외부 충격에 의해 데이터 통신 중 잡음이 발생하거나, 충분한 전력이 공급되지 않아 문턱전압을 넘지 못해 올바른 값 전달이 이루어지지 않는 경우가 있다. 이러한 문제점들을 해결하기 위해 많은 임베디드 시스템에서는 ECC (Error Correcting Code)를 사용하는데, ECC를 추가하게 되면서 메모리에서 데이터를 읽어오는 시간이 더 오래 걸리게 되는 문제점이 발생한다. 따라서 우리는 ECC 처리된 코드를 읽어오는 과정을 병렬처리하여 병목현상을 완화하고 TPU의 속도 및 데이터 안정성을 높이는 모델을 제안한다. 제안된 구조는 기존 구조에 비해 메모리를 조금 더 사용하여 안정성과 더 빠른 속도를 보여준다. 실험은 행렬의 연산을 사용하여 진행되었으며, 제안된 구조는 이전의 구조보다 7% 빠른 속도를 보여준다.