• 한국산업정보학회논문지
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• 제25권4호
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• pp.17-27
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• 2020

본 논문에서는 무기체계 양산에 활용되는 자동시험장비 (Automatic Test Equipment: ATE)의 유효성 입증을 위한 검증 방안을 제안하였다. 검증되지 않은 시험장비의 시험 데이터는 신뢰성이 미흡하여 객관적인 자료로써 활용이 제한되므로 ATE를 활용한 시험대상품의 품질 수준을 확보하기 위해서 시험장비의 검증이 필수적이다. 제시된 방법을 통해 전술정보통신체계 ATE에 적용하여 검증 결과를 확인하고 유효성 입증 결과를 기술한다.

• 한국컴퓨터정보학회논문지
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• 제22권8호
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• pp.1-7
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• 2017

In this paper, we proposed the test equipment that can perform separate performance tests to mass-produce the Automatic Test Equipment. Until now, the performance test of the ATE has been performed after it has been assembled perfectly. It is possible to perform the performance test only when the external device manufacturing and setting of measurement resources and the internal wiring work have been completed. So we have been studying test equipment that separately tested the switching devices that played a key role in the performance of the ATE. To build the test equipment, we reviewed the circuit card assemblies that make up the switching devices. We designed a test equipment that satisfies the performance test and apply the completed test equipment to the actual production process to analyze whether it was effective in improving the time and workability of the performance test. The test equipment has the advantage that it can be used universally in the mass production process of ATE with the same type of switching device.

• 한국산학기술학회논문지
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• 제21권9호
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• pp.144-150
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• 2020

본 논문에서는 국외에서 정의하는 자동화시험시스템과 자동화시험장비(ATE)의 비교를 통해 국내 ATE 재정립을 비롯해 국내 유도무기 분야의 ATE 현황을 살펴보면서 국방 분야 ATE의 유효성 확인 방안을 모색해 보았다. 국내 무기체계 개발단계 ATE 장비 유효성 확인 방안 모색을 위한 활동으로 국내 유도무기 분야의 ATE 장비 현황을 분석하고 ATE 유효성 확인 방안을 살펴보았다. 신규 제작되는 ATE에 대해 반복성, 재현성 확인 방안 및 현재 사용되는 ATE의 유효성 확인을 위하여 특정 유도제어부 영상성능에 대해 오류 주입시험을 수행해 보았다. 개발단계부터 유효성 확인을 위한 방안으로 ATE의 설계 및 구현시 사전점검단계 기능을 요구사항으로 반영되야 할 필요성을 논하였으며, 국내 ATE 개발 시 표준화된 국제표준시험시스템 테스트 스크립트 언어를 활용하여 효율적인 유효성 확인과 SW 신뢰성 확보 가능성을 검토해 보았다. 이를 통하면 장기적으로 주장비와 시험장비 간 상호 연동성을 확보할 수 있으며 시험자는 표준화된 시험방식을 지원하는 시험시스템 플랫폼을 확보할 수 있어 무기체계별 특정 ATE 유효성 확인에 효과적일 것으로 판단된다.

• 한국컴퓨터정보학회논문지
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• 제23권3호
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• pp.9-16
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• 2018

In this paper, I purpose one of the development methods for portable Automatic field Test Equipment(ATE) with VME form factor. Almost portable ATE have not used to standards form factor and they are connected by mechanical non-rigid general connectors and wire harnesses among the components. Furthermore, it is hard to reuse developed board. So, it decreases to reusability of developed board and it is hard to maintenance of ATE. Even those things have weakness for vibration and drop test especially in portable ATE. The XK9A1 ATE using VME form factor has environmental reliability through vibration, drop, temperature test. It consists of 5 developed board called the control board, the wire & wireless communication board, the power supply board, the load board and the mother board. It is connected by two wire harnesses between mother board and extern circular connectors. The control board send the data and address to other board though each 16-bit data and 20-bit address line. You can develop the function board what you want to using those data & address line when it comes to needing other function board.

• 한국항행학회논문지
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• 제21권5호
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• pp.508-513
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• 2017

공학 용어로 유지보수성(maintainability)은 제품의 유지/관리에 대한 용이성을 의미한다. 비행체 자동점검장비(ATE)는 점검대상장비(UUT)의 기능/성능 특성에 따라 점검절차가 개발되기 때문에 UUT의 설계 변경에 많은 영향을 받는다. 더욱이 통합 ATE가 다수의 UUT를 점검하는 환경이라면 UUT 설계 변경에 대한 ATE의 유지보수가 쉽지 않다. 개발자는 ATE의 유지보수성 향상을 위하여 쉽고 명확한 개발 방식을 선정하여 개발 담당자의 변경에 유연하게 대처할 수 있어야 한다. 또한 UUT 설계 변경에 영향을 받는 영역을 특정 범위로 제한하여 수정될 부분을 최소화할 수 있어야 한다. 본 논문에서는 비행체 ATE 개발 과정을 기반으로 유지보수성 향상에 초점을 둔 ATE 개발 방안을 제안한다.

• 전자공학회논문지SC
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• 제49권1호
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• pp.80-87
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• 2012

본 논문에서는 열상장비의 광 검출기에서 검출된 미약한 전기적 신호를 영상신호처리를 하기 위한 신호로 증폭을 해 주는 전단 증폭부의 성능 검사용 ATE(Automatic Test Equipment)를 개발하였다. 기존 ATE 장비는 주로 반도체 소자 양품검사 분야에서 활발히 개발되고 있었으나 최근에는 장비의 성능검사 분야에서도 연구되고 있다. 그러나 열상장비 성능검사 분야의 ATE 에 대한 연구는 다른 분야에 비해 미진하여 우리군의 핵심적인 감시 장비인 열상장비는 정비가 제한되었다. 이에 따라 본 논문에서는 새로운 열상장비 분야의 ATE 연구가 필요하여 전단증폭부 및 열상장비의 다른 회로카드의 범용적인 개발이 가능하도록 Matrix Relay를 개발하였다. 개발된 ATE로 전단증폭부의 증폭도를 측정한 결과 증폭 전압은 평균 2.71 Vpp로써 이론적인 분석 범위 내에 있음이 확인되어 개발된 ATE가 우수한 성능임이 검증되었다.

• 반도체디스플레이기술학회지
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• 제5권4호
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• pp.17-22
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• 2006

In the manufacturing processes of semiconductor, test process is important for quality of products. In the manufacturing process of dynamic memory, memory test is more important. So, automatic test equipment(ATE) is used necessarily. But, according to increase of speed of dynamic memory operation, the rapid test equipment is needed. Impedance matching between ATE and dynamic memory is expected to be an important problem for making a rapid test equipment over 1Gbps. According to increase of speed, inner impedance of ATE also works on important parameter for test. This paper is about the method that is for impedance matching of inner impedance and coaxial cable occurring in manufacturing of ATE. We proved effects of inner impedance by electric theory and verified the method of impedance matching using computer simulation.

• JSTS:Journal of Semiconductor Technology and Science
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• 제13권3호
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• pp.259-262
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• 2013

Multi-site testing is considered as a solution to reduce test costs. This paper presents a new channel sharing architecture that enables I/O pins to share automatic test equipment (ATE) channels using simple circuitry such as tri-state buffers, AND gates, and multiple-input signature registers (MISR). The main advantage of the proposed architecture is that it is implemented on probe cards and does not require any additional circuitry on a target device under test (DUT). In addition, the proposed architecture can perform DC parametric testing of the DUT such as leakage testing, even if the different DUTs share the same ATE channels. The simulation results show that the proposed architecture is very efficient and is applicable to both wafer testing and package testing.

• 한국컴퓨터정보학회논문지
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• 제22권7호
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• pp.9-16
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• 2017

In this paper, we propose a development method of portable Automatic Test Equipment based on PXIe platform. Legacy VME form factor structured test equipment has limited reuse and expansion of modules due to unapplied bus specification. In particular, these limitations can cause development periods and costs to increase, and the reliability of environmental conditions is lacking due to non-standard modules. The test equipment of the proposed PXIe platform can use diverse COTS modules to shorten the development period and minimize the instability between developments. The PXIe development module works with standard Xilinx FPGAs, PXIe Windows device drivers, and applications on standard PXIe buses. The use of standard bus and COTS modules increases scalability and reusability, enabling rapid development and excellent maintenance. Through the test, we show the proposed test equipments can be implemented efficiently between the development processes and proved their reliability through function tests and environmental tests.

• 한국컴퓨터정보학회논문지
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• 제27권1호
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• pp.51-59
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• 2022

무기체계의 소프트웨어 기능 의존성이 높아짐에 따라 소프트웨어는 무기체계를 제어하는 핵심요인으로 자리매김하였다. 또한 국내/외적으로 소프트웨어 개발이 중요해지면서 소프트웨어에 대한 검증이 쟁점이 되고 있다. 최근 방산시장에서 이러한 점을 인식하고 무기체계 소프트웨어 유지보수를 위한 방안을 요구하고 있다. 본 논문에서는 자동화시험장비(Automatic Test Equipment, ATE)를 이용하여 무기체계 소프트웨어 유지보수 방안을 제시한다. 그 구체적인 방안은 시뮬레이터를 활용하여 소프트웨어 기능을 확인하고 고장 케이스를 식별하는 것이다. 이는 개발업체가 고장 케이스를 식별하는 시간을 줄임으로써 무기체계 총 고장정비시간(Total Corrective Maintenance Time, TCM)을 감소시킬 수 있는 효과적인 방법이다. 제안된 소프트웨어 유지보수 기능 추가된 자동화시험장비(ATE)는 기존 대비 정비도 및 운용가용도(OA)가 개선됨을 입증하였다.