Z-scan 방법에 의한 비정질 $As_2S_3$ 박막의 비선형 굴절률 측정
(Nonlinear refractive index measurement for amorphous $As_2S_3$ thin film by Z-scan method)
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- 한국광학회지
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- 제9권5호
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- pp.342-347
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- 1998