• 제목/요약/키워드: 3X3 Masking

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고투명도 지르코니아의 두께 및 하부 배경에 따른 색조 차단 효과 (Effects of thickness and background on the masking ability of high-trasnlucent zirconias)

  • 김영곤;정지혜;공현준;김유리
    • 구강회복응용과학지
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    • 제37권4호
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    • pp.199-208
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    • 2021
  • 목적: 이 연구의 목적은 고투명도 3종류의 지르코니아의 두께 및 하부 배경에 따른 색조 차단 효과를 비교, 평가하는 것이다. 연구 재료 및 방법: 3 종류의 고투명도 지르코니아(Ceramill zolid fx white, Ceramill zolid ht+ white, Ceramill zolid ht+ preshade A2)를 각각 CAD/CAM 방식으로 직경 10 mm의 원판 형태의 4가지 두께(0.6 mm, 1.0 mm, 1.5 mm, 2.0 mm)로 10개씩 시편을 제작하였다. 하부 배경은 직경 10 mm, 두께 10 mm로 A1, A2, A3 레진 하부 배경, 청색의 코어 레진 하부 배경, Ni-Cr 합금 하부 배경을 제작하였으며, 추가로 분광 광도계 제조사에서 제공하는 검정색 및 흰색 하부 배경을 사용하였다. 지르코니아 시편과 기준 배경을 접착제없이 겹쳐 분광 광도계로 L, a*, b* 값을 측정하고 다른 하부 배경과의 ΔE 값을 계산하였다. 계산된 평균 ΔE 값을 인지 한계 1.0과 허용 한계 3.7 값을 기준으로 색조 차단 효과를 비교하였다. 통계적 유의성 검증을 위해 비모수 검정인 Kruskal-Wallis 검정을 시행하였다(α = 0.05). 결과: 지르코니아 종류, 하부 배경 및 두께 변화에 따른 평균 ΔE 값의 유의한 차이를 보였다(P = 0.000). 결론: 본 연구 결과에 의하면, 색조를 가지는 고투명도 지르코니아는 청색 레진 코어를 제외한 치아, 복합레진 및 지대주상에 수복될 때 원하는 지르코니아 색조를 얻을 수 있다.

배경 색조 차단 목적의 불투명 복합 레진의 두께와 반투명도 (Thickness and translucency of opaque shade composite resin for masking effect)

  • 백경원;김성준
    • 대한치과의사협회지
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    • 제49권4호
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    • pp.203-210
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    • 2011
  • The aims of this study were to evaluate the adequate thickness of opaque resins for situations such as an oral black cavity and discolored tooth structure, as well as the translucency of each opaque material at various thicknesses. Six opaque-shade composite resins (Z-350 OA3, Amelogen Universal A2O, Esthet-X A2O, Esthet-X A4O, Charmfil UO and Aelite Universal OA3) were prepared in metal molds with a hole of 8 mm in diameter and various thicknesses (0.5mm, 1.0mm, 1.5mm, 2.0mm, 2.5mm, 3.0 mm and 4.0mm). Four backgrounds (white tile, black tile, C4 shade porcelain and opaque resin itself) were used to determine the translucency parameter (between black and white backgrounds). and to mimic a black oral cavity (between black and opaque resin backgrounds) and a discolored tooth structure (between C4 and opaque resin backgrounds). Color measurements were made by a colorimeter to determine the CIELAB values of each specimen with each background and to calculate the translucency parameter and ${\Delta}E^*$ value difference among the specimens on the backgrounds. The translucency parameter and ${\Delta}E^*$ obtained between black and opaque resin backgrounds decreased in similar pattern as thickness increased. A C4 background was masked by resin thicknesses of 0.5-1.0mm, while a black background required thicknesses of 1.0-2.0mm. Adequate knowledge about differences in the optical character like translucency of the materials used is essential, together with the accumulated experience of the individual clinician.

인쇄회로기판 검사를 위한 단일조사 이중에너지 엑스선 영상기법의 유용성에 관한 연구 (Feasibility of Single-Shot Dual-Energy X-ray Imaging Technique for Printed-Circuit Board Inspection)

  • 김승호;김동운;김대천;김준우;박지웅;박은평;김진우;김호경
    • 방사선산업학회지
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    • 제9권3호
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    • pp.137-141
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    • 2015
  • A single-shot dual-energy x-ray imaging technique has been developed using a sandwich detector by stacking two detectors, in which the front and rear detectors respectively produce relatively lower and higher x-ray energy images. Each detector layer is composed of a phosphor screen coupled with a photodiode array. The front detector layer employs a thinner phosphor screen, whereas the rear detector layer employs a thicker phosphor screen considering the quantum efficiency for x-ray photons with higher energies. We have applied the proposed method into the inspection of printed circuit boards, and obtained dual-energy images with background clutter suppressed. In addition, the single-shot dual-energy method provides sharper-edge images than the conventional radiography because of the unsharp masking effect resulting from the use of different thickness phosphors between the two detector layers. It is promising to use the single-shot dual-energy x-ray imaging for high-resolution nondestructive testing. For the reliable use of the developed method, however, more quantitative analysis is further required in comparisons with the conventional method for various types of printed circuit boards.

Opaque shade 복합레진의 opacity와 배경 색상 차단 능력의 평가 (OPACITY AND MASHING EFFECT OF THE OPAQUE SHADE COMPOSITE RESINS)

  • 박수정;황윤찬;오원만;황인남
    • Restorative Dentistry and Endodontics
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    • 제32권4호
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    • pp.356-364
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    • 2007
  • 본 연구에서는 현재 임상에 사용되고 있는 opaque shade 복합레진의 opacity와 배경색 차단 능력을 평가하였다. 24개의 배경 시편 (직경 5.5 mm, 두께 3 mm)을 Tescera ATL Root dentin Mustard로 제작하고 배경판 레진 상에 7종의 opaque shade 복합레진 (Universal composite, Filtek Z350, Charisma, Clearfil ST, Palpaque Estelite, Esthet-X, Metafil Flo)과 통상적인 복합레진인 Estelite Sigma를 3.0 mm 적층 수복하였다. 적층된 opaque shade 복합레진의 표면 색상을 측정한 후, 적층한 두께가 0.5 mm가 될 때까지 0.3 mm 간격으로 적층된 면을 연마하면서 각 두께에서의 표면 색상을 측정하였다. 연마 후 각 두께에서 측정된 opaque shade 복합레진의 표면 색상과 적층 전의 배경판 색상, 그리고 연마전의 표면 색상 간의 색차를 계산하여 두께에 따른 배경색 차단 능력을 평가하였다. 또한 1 mm 두께의 시편을 제작하고 opacity를 측정하여 다음의 결과를 얻었다. Opaque shade 복합레진의 opacity는 Clearfil ST, Metafil Flo, Filtek Z350, Palpaque Estelite, Universal composite, Charisma, Esthet-X 순으로 감소하였다 (p < 0.05). Opaque shade 복합레진의 두께의 감소에 따라 $L^*$ 값은 감소하는 양상을, $a^*$ 값은 증가하는 양상을 보였다. 연마 전 표면 색상과 연마 후 각 두께에서의 색차 (${\Delta}E^*$)는 Clearfil ST 군은 모든 군에서, Metafil Flo 군은 1.0 mm 이상에서 3 이하의 색차를 보였다. 배경 색상에 대한 각 opaque shade 복합레진의 색차는 모든 두께에서 10 이상의 색차를 보였으며, Clearfil ST와 Metafil Flo가 가장 큰 색차를 보였다 (p < 0.05). 현재 임상에 사용되고 있는 opaque shade 복합레진들은 제조사에 따라 서로 다른 opacity와 색상을 가진다. 따라서 재료의 선택에 있어 적용하고자 하는 병소의 특성에 따라 opaque shade 복합레진의 opacity와 색상에 대한 충분한 고려가 필요하리라 사료된다.

RIE 공정으로 제조된 블랙 실리콘(Black Silicon) 층을 사용한 표면 증강 라만 산란 기판 제작 (Fabrication of surface-enhanced Raman scattering substrate using black silicon layer manufactured through reactive ion etching)

  • 김형주;김봉환;이동인;이봉희;조찬섭
    • 센서학회지
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    • 제30권4호
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    • pp.267-272
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    • 2021
  • In this study, Ag was deposited to investigate its applicability as a surface-enhanced Raman scattering substrate after forming a grass-type black silicon structure through maskless reactive ion etching. Grass-structured black silicon with heights of 2 - 7 ㎛ was formed at radio-frequency (RF) power of 150 - 170 W. The process pressure was 250 mTorr, the O2/SF6 gas ratio was 15/37.5, and the processing time was 10 - 20 min. When the processing time was increased by more than 20 min, the self-masking of SixOyFz did not occur, and the black silicon structure was therefore not formed. Raman response characteristics were measured based on the Ag thickness deposited on a black silicon substrate. As the Ag thickness increased, the characteristic peak intensity increased. When the Ag thickness deposited on the black silicon substrate increased from 40 to 80 nm, the Raman response intensity at a Raman wavelength of 1507 / cm increased from 8.2 × 103 to 25 × 103 cps. When the Ag thickness was 150 nm, the increase declined to 30 × 103 cps and showed a saturation tendency. When the RF power increased from 150 to 170 W, the response intensity at a 1507/cm Raman wavelength slightly increased from 30 × 103 to 33 × 103 cps. However, when the RF power was 200 W, the Raman response intensity decreased significantly to 6.2 × 103 cps.

3차원 CT자료에서 선정된 계측점을 정중시상면으로 투사한 영상과 두부계측방사선사진상의 계측정의 위치 비교 (Comparison of landmark position between conventional cephalometric radiography and CT scans projected to midsagittal plane)

  • 박재우;김남국;장영일
    • 대한치과교정학회지
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    • 제38권6호
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    • pp.427-436
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    • 2008
  • 본 연구는 두부계측방사선사진에서 선정한 계측점과, 3차원 CT영상에서 계측점을 선정하고 이를 정중시상면으로 투영하였을때 두 계측점 사이의 위치적 연관성에 대해 알아보고자 시행하였다. III급 부정교합을 주소로 서울대학교 치과병원에 내원한 환자 20명을 대상으로 술 전에 CT와 두부방사선사진을 촬영하였다. CT자료에서 계측점을 선정하고, 정중시상면을 기준으로 투사영상을 얻은 후에 이것을 110%로 확대하였다. 전두면과 후두골의 외연을 기준으로 두부방사선사진 투사도와 CT자료의 정중시상면 투사영상을 중첩하고, FH평면을 기준으로 공통 좌표계를 설정하였다. 이 좌표계를 기준으로 얻은 계측점 좌표값 차이의 평균과 표준편차를 구하고 paired t test를 시행하였다. X축은 $-0.14{\pm}0.65$에서 $-2.12{\pm}2.89\;mm$, Y축은 $0.34{\pm}0.78$에서 $-2.36{\pm}2.55\;mm$ ($6.79{\pm}3.04\;mm$)의 범위를 보였으며, 20개의 계측점 중 X축은 9개에서, Y축은 7개에서 통계적으로 유의한 차이가 없는 것으로 나타났다. 이러한 오차는 촬영자세에 따라 악골의 위치가 변화한 경우, 골단부에 위치함으로써 주변구조물에 가려진 경우, 해부학적 구조물의 중첩에 따른 식별오차, 계측점의 정의가 다른 경우 발생할 수 있다.

Mobile Display 장치를 위한 Adaptive-Filter 기반형 선명도 향상 알고리즘의 하드웨어 구현 (Implementation of Sharpness-Enhancement Algorithm based on Adaptive-Filter for Mobile-Display Apparatuses)

  • 임정욱;송진근;이성진;민경중;강봉순
    • 한국정보통신학회:학술대회논문집
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    • 한국해양정보통신학회 2007년도 추계종합학술대회
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    • pp.109-112
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    • 2007
  • 디지털 카메라의 출현과 Mobile 장비에서의 카메라 적용으로 인하여 디지털화된 이미지의 화질개선이 지속적으로 연구되고 있다. 특히, 센서로부터 입력된 이미지는 영상으로 출려되기 전 ISP(Image Signal Process) 과정을 거치게 되는데, 이 단계에서 이미지는 고주파 성분의 Noise 제거를 위한 LPF(Low Pass Filter)에 의해 고역의 주파수 성분이 상쇄되는 결과를 가진다. 이에 본 논문에서는 LPF(Low Pass Filter)에 의해 고역의 주파수 성분이 상쇄되는 결과를 가진다. 이에 본 논문에서는 LPF에 의해 Blurring된 이미지를 윤곽선 검출 알고리즘을 사용하지 않고, 이미지 윤곽선이 가질 수 있는 다양한 상태를 고려하여 적절한 계수를 가지는 Adaptive-HPF(High Pass Filter)를 사용함으로써 더욱 선명한 영상을 출력하는 알고리즘을 제안한다. 제안된 알고리즘의 하드웨어 구현시 Total Gate Count는 8700여 개로 Mobile 장치에 적용될 수 있다는 것을 검증하였다.

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Pt 금속마스크를 이용하여 제작한 나노패턴 Si(111) 기판위에 성장한 GaN 박막 특성 (Characterization of GaN epitaxial layer grown on nano-patterned Si(111) substrate using Pt metal-mask)

  • 김종옥;임기영
    • 마이크로전자및패키징학회지
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    • 제21권3호
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    • pp.67-71
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    • 2014
  • 본 연구에서는 Si(111) 기판을 이용하여 고품질의 GaN 박막을 성장하기 위하여 다양한 패턴을 갖는 Si 기판을 제작하였다. Si(111) 기판위에 이온 스퍼터(ion-sputter)를 이용하여 Pt 박막을 증착한 후 열처리(thermal annealing)하여 Pt 금속 마스크를 형성하고 유도 결합 플라즈마 이온 식각(inductively coupled plasma-reactive ion etching, ICP-RIE) 공정을 통하여 기둥(pillar)형태의 나노 패턴된 Si(111) 기판을 제작하였고 리소그래피 공정을 통하여 마이크로 패턴된 Si(111) 기판을 제작하였다. 일반적인 Si(111) 기판, 마이크로 패턴된 Si(111) 기판 및 나노 패턴된 Si(111) 기판위에 유기화학기상증착(metal organic chemical vapor deposition, MOCVD) 방법으로 GaN 박막을 성장하여 표면 특성과 결정성 및 광학적 특성을 분석하였다. 나노 패턴된 Si(111) 기판위에 성장한 GaN 박막은 일반적인Si(111) 기판과 마이크로 패턴된 Si(111) 기판위에 성장한 GaN 박막보다 표면의 균열과 거칠기가 개선되었다. 나노 패턴된 Si(111) 기판위에 성장한 GaN (002)면과 (102)면에 x-선 회절(x-ray diffraction, XRD) 피크의 반폭치(full width at half maximum, FWHM)는 576 arcsec, 828 arcsec으로 다른 두 기판위에 성장한 GaN 박막 보다 가장 낮은 값을 보여 결정성이 향상되었음을 확인하였다. Photoluminescence(PL)의 반폭치는 나노 패턴된 Si(111) 기판위에 성장한 GaN 박막이 46.5 meV으로 다른 기판위에 성장한 GaN 박막과 비교하여 광학적 특성이 향상되었음을 확인하였다.

KOMPSAT-5 후방산란계수 자료로 산출된 해상풍 검증 (Validation of Sea Surface Wind Estimated from KOMPSAT-5 Backscattering Coefficient Data)

  • 장재철;박경애;양도철
    • 대한원격탐사학회지
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    • 제34권6_3호
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    • pp.1383-1398
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    • 2018
  • 해상풍은 복잡한 해양 현상을 이해하는 데 가장 기초 요소 중 하나이다. 1990년대 초부터 산란계를 활용하여 전세계 바람장 자료를 생산해왔지만, 낮은 해상도로 인해 해양 연구에 제한적으로 사용되었다. Synthetic Aperture Radar(SAR)는 이러한 한계점을 보완하여 고해상도의 바람장 자료 생산이 가능하다. KOMPSAT-5는 한반도 최초의 X-band SAR 탑재 인공위성으로 고해상도 해상풍 산출이 가능하다. 본 연구는 KOMPSAT-5 후방산란계수 자료를 활용하여 산출한 해상풍의 검증 결과를 최초로 제시하였다. 18장의 KOMPSAT-5 ES 모드 자료를 수집하여 해양 부이와의 일치점 데이터베이스를 생산하였다. 정확한 해상풍 산출을 위해 육지 화소, 스페클 잡음, 선박 화소를 제거하는 전처리 과정을 거쳤고, 해양 부이 실측 자료에 Liu-Katsaros-Businger (LKB) 모델을 통해 10-m 중성 바람으로 변환하여 기준 자료로 활용하였다. XMOD2를 활용하여 산출한 해상풍은 후방산란계수 산출식에 따라 $2.41-2.74m\;s^{-1}$의 평균 제곱근 오차를 보였다. 분석 결과 KOMPSAT-5 후방산란계수 자료를 활용하여 해상풍을 산출하는 경우, 대기 중력파, 파랑, 내부파를 포함한 해양 기상 환경과 레인지 모호성(range ambiguity), 입사각의 이산적 불연속적 분포를 포함한 영상 품질에 의한 잠재적 오차 요인이 존재함을 규명하였다.