• 대한공간정보학회지
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• 제20권1호
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• pp.43-51
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• 2012

수변공간 및 수자원에 대한 효율적 활용 요구가 증대됨에 따라 하천의 수리적인 특성을 보다 정밀하게 모의하고 이를 활용한 의사결정이 필요하다. EFDC 모형은 이러한 의사결정을 지원하기 위한 다차원 수리모형으로 3차원 정밀지형을 활용하여 수체의 수리적인 특성을 분석할 수 있다. 그러나 EFDC 모형의 입력자료로 활용되는 3차원 정밀지형의 경우, 측량간격과 지형보간기법에 의해 많은 영향을 받게 되며 3차원 정밀지형의 변화에 따라 대상 수체의 수리적인 특성이 영향을 받게 된다. 이에 본 연구에서는 다른 측량간격 및 지형보간기법에 따라 도출된 3차원 정밀지형이 EFDC 모형의 모의결과에 미치는 영향을 검토하였다. 연구 대상지역은 낙동강 금호강 유입구간이며, 검토 사상은 2006년 강우사상에 대한 수치모의를 수행하고, 면적-고도 곡선, 수위 및 유속의 모의결과를 비교 분석하였다. 분석결과, 동일한 측량 간격에서는 지형보간기법에 따른 면적고도곡선의 차이는 크지 않았으나, 측량 간격이 160m에서 모든 보간기법에서 차이가 발생하였고 측량간격이 80m 이상이 되면 하상단면의 변화가 발생하였다. 또한, 수위의 경우에 Kriging을 제외한 나머지 기법은 해상도에 따른 차이가 크지 않았고, Kriging은 160m 측량간격에서 다른 기법에 비해 차이가 크게 나타났다. 유속의 경우, 80m 측량간격이상에서 각 보간기법별 차이가 나타나기 시작했으며 160m 측량간격에서 Kriging은 다른 보간기법과 큰 차이를 보이는 것으로 나타났다.

• 대한기계학회논문집
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• 제17권5호
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• pp.1202-1207
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• 1993

본 논문에서는 삼차원형상 측정의 슬릿광 주사방법(slit beam scanning topography)의 형상측정에 응용에 대해 기술한다. 이는 광학적인 방법으로 레이저 평면광을 물체에 주사하여 얻어지는 변형된 광궤적으로부터 광삼각법(optical triangulation)과 컴퓨터비젼 기술을 응용하여 삼차원형상을 측정한다. 기존의 방법 들과 비교하여 슬릿광 주사방법은 고속의 삼차원측정이 가능하여 검사자동화에 용이 하게 적용될 수 있는 장점을 갖는다. 본 논문에서는 슬릿광 주사방법에 대한 기본원 리를 유도하며, 이를 구현할 수 있는 측정시스템의 설계와 실제 측정예를 통해 본 방법이 갖는 장단점에 관하여 검토한다.

• 한국가시화정보학회:학술대회논문집
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• 한국가시화정보학회 2006년도 추계학술대회 논문집
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• pp.1-6
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• 2006

Single-Camera Stereoscopic Vision three-dimensional measurement system has been developed based upon 30-PTV algorithm. The system consists of one camera $(1k\times1k)$ and a host computer. To attain three-dimensional measurements a plate having stereo holes has been installed inside of the lens system. Three-dimensional measurements was successfully attained by adopting the conventional 30-PTV camera calibration methods. As applications of the constructed measurement system, a water droplet mixed with alcohol was constructed on a transparent plastic plate with the contacted fluid diameter 4mm, and the particles motions inside of the droplet have been investigated with the constructed measurement system. The measurement uncertainty of the constructed system was 0.04mm, 0.04mm and 0.09mm for X, Y and Z coordinates.

• 소음진동
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• 제7권3호
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• pp.477-488
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• 1997

In order to control vibration in structures, it is desirable to be able to identify dominant paths of vibration transmission from sources through the structure to some points of interest. Structural intensity vector(power flow per width of cross section) using cross spectra is able to measure the vibration power flow at a point in a structure. This paper describes the structural intensity measurement of 2-dimensional structure. Structural intensity of 2-dimensional structure can be obtained from eight point cross spectral measurement per axis, or two point measurement per axis on the assumption of far field. Approximate formulation of the relation between bending waves in structures and structural intensity makes it possible to separate the wave components by which one can get a state of the vibration field. Experimental results are obtained on an infinite plate at the near and far field in flexural vibration. The measurement error of two point measurement is rather bigger than eight point measurement on account of the assumption that Poisson's ratio is 1. The structural intensity vectors on the plate are checked the ability to identify the path of vibration power flow in random excitation and 200Hz sine excitation, the result of two point measurememt is almost the same as the result of eight point measurement in 200Hz sine excitation.

• 항공우주기술
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• 제3권1호
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• pp.117-125
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• 2004

최근 중ㆍ대형 산업품에 대한 비접촉식 3차원 정밀 측정 장비가 개발되고 있다. 이러한 장비 중 하나인 데오드라이트 측정 시스템이 항공우주산업에 널리 활용되고 있다. 본 논문에서는 데오드라이트 시스템을 이용하여 근역장에서의 RF 프로브에 대한 위성체 탑재 안테나의 레인지 얼라인먼트 측정 방법을 기술하였다. Ku-band 및 Ka-band 안테나의 레인지 얼라인먼트 측정 및 조정을 측정 정확도 ±1 mm 및 ±$0.05^{circ}$도 이내에서 성공적으로 수행하였다.

• 새물리
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• 제68권11호
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• pp.1275-1280
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• 2018

We demonstrated transmission direct phase-measuring deflectometry (DPMD) with a specular phase object having discontinuous surfaces by using two displays and a two-dimensional array detector for display and by recording the distorted fringe patterns. Three-dimensional (3D) information was obtained by calculating the height map directly from the phase information. We developed a mathematical model of the phase-height relationship in transmission DPMD. Unlike normal transmission deflectometry, this method supports height measurement directly from the phase. Compared with other 3D measurement techniques such as interferometry, this method has the advantages of being inexpensive and easy to implement.

• 한국광학회지
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• 제12권2호
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• pp.103-108
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• 2001

플라즈마 디스플레이 패널(plasma display panel :PDP)에서 방출되는 광의 3차원 분포를 측정하기 위한 scanned point-detecting system(SPDS)을 고안하여 제작하였으며 이 시스템을 이용하여 실제 PDP의 3차원 광 방출 특성을 측정하고 해석하였다. SPDS는 상면에 핀홀이 달려 있는 광검출기(point detector)를 위치시킴으로써 특정 지점으로부터 방출되는 광만을 검출할수 있다. 3차원 물체의 특정 지점으로부터 방출된 광은 핀홀을 지나 검출기로 모두 입사되지만 다른 지점으로부터 방출된 광은 핀홀 앞에서 미리 집속되거나 핀홀 뒤에서 집속될것이므로 이러한 광들은 핀홀에 의해 대부분 차단될 것이다. 그러므로 물체의 특정 지점으로부터 방출된 광만이 핀홀이 설치된 검출기에 의해 검출되어 진다. SPDS를 이용하여 PDP cell 내에서 측정된 3차원 광 intensity 분포로부터 cellso의 방전현상을 다음과 같이 유추해낼수 있었다. Z축 측정이 진행될수록광의 intensity는 증가하였고 ITO전극의 안쪽부분에서 검출되는 광의 intensity가 가장 컸고 Y축 scan시 나타나는 X-Z평면에서 광의 intensity가 격벽과 격벽의 중심부분에서 가장 크게 나타났다.

• 한국정밀공학회지
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• 제11권2호
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• pp.149-163
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• 1994

A novel method of dimensional measurement using machine vision, which is called Landmark Tracking System, has been developed. Its advantages come form tracking only the bright, standard shaped "landmarks" which are made from retroreflective sheets. In the design of the LTS, it is essential to know the relationship between optical parameters and their influence on system performance. Such optical parameters include the brightness of landmark image, the illumination system design, and the choice of imaging optics. And the performance of retroreflective material also plays important role in the LTS performances. Influences of such optical parameters on LTS's dimensional measurement characteristics are investigated, with respect to the retroreflective material, the imaging optics, and the illumination system. Measuremtn errors due to parameter variations are also analyzed. Experiments are performed with a LTS prototype. Retroreflective characteristics are verified, and the LTS's measurement performances are measured in the form of repeatability and accuracy. Experimental results shgow that the LTS has repeatability better than 1/30,000 of a field of view(30 degrees), and accuracy better tha 1/3,000 of a field fo view.d fo view.

• 한국정밀공학회지
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• 제14권7호
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• pp.15-21
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• 1997

This paper presented a linear motion accuracy by using two-dimensional probe with the master block and the square for NC machine tools. This measuring system could be measured motion error due to numerical control system. The results of measurement and simulation for motion error were similar, and so, this system had enough accuracy to measure a linear motion accuracy for NC machine tools. The experimental results are as follows. 1. This measuring system could be measured motion error due to mumerical control system. 2. The results of measurement and simulation for motion error were similar. 3. This measuring system had enough accuracy to measure a linear motion accuracy for NC machine tools.

• 한국정밀공학회지
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• 제17권1호
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• pp.129-137
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• 2000

In this paper, a new method of noncontact measurement has been developed for a 3 dimensional topography in semiconductor wafer, implementing a new optical probe based on the precision defocus measurement. The developed technique consists of the new optical probe, precision stages, and the measurement/control system. The basic principle of the technique is to use the reflected slit beam from the specimen surface, and to measure the deviation of the specimen surface. The defocusing distance can be measured by the reflected slit beam, where the defocused image is measured by the proposed optical probe, giving very high resolution. The distance measuring formula has been proposed for the developed probe, using the laws of geometric optics. The precision calibration technique has been applied, giving about 10 nanometer resolution and 72 nanometer of four sigma uncertainty. In order to quantitize the micro pattern in the specimen surface, some efficient analysis algorithms have been developed to analyse the 3D topography pattern and some parameters of the surface. The developed system has been successfully applied to measure the wafer surface, demonstrating the line scanning feature and excellent 3 dimensional measurement capability.