• 제목/요약/키워드: 2-단계 QFD

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QFD 기법을 이용한 CMM 2단계 척도 선정 (QFD application to select CMM level 2 metrics)

  • 김종윤;정호원;김길조
    • 한국경영과학회:학술대회논문집
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    • 한국경영과학회 1997년도 추계학술대회발표논문집; 홍익대학교, 서울; 1 Nov. 1997
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    • pp.45-48
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    • 1997
  • SEI(Software Engineering Institute)의 CMM(Capability Maturity Model)은 소프트웨어 개발 공정 및 조직의 성숙도를 5개의 계층적인 단계로 분류, 평가하며, 성숙도 측정의 기준으로 계량적인 메저먼트를 각 단계별로 제시하고 있다. 본 연구에서는 CMM에 의해 제시된 메저먼트에 근거하여 정의되고 사용된 척도의 선정에 정보시스템 개발 및 품질 관리 기법인 QFD(Quality Function Deployment)를 적용하였다. 척도 사용자 그룹으로부터 CMM의 관심 영역, 사용 척도, 척도 계산에 필요한 측정치, 소프트웨어 개발 생명주기에 이르는 과정을 단계적인 흐름으로 파악하여 적절한 척도를 선택하는 데 본 연구의 목적이 있다.

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QFD 및 Stage-gate 모델을 활용한 국방분야 개발단계 품질관리 방안 연구 (A Study on the development quality control by application of QFD and Stage-gate in defense system)

  • 장봉기
    • 품질경영학회지
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    • 제42권3호
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    • pp.279-290
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    • 2014
  • Purpose: The purpose of this study is to propose adoption of QFD and Stage-gate in order to analyze the quality of korea defense system. Methods: Drawing change data of initial production phase in korea defense system were anlayzed and a practical method was proposed. Results: The results of this study are as follows; Off line Quality Control should be introduced in development phase. Specially, in case of defense system, the best method is QFD(Quality Function Deployment) and Stage-gate process. At first, QFD 1 step defines product planning from VOC(Voice Of Customer), QFD 2 step specifies part planning from product planning, QFD 3 step defines process planning from part planning, QFD 4 step defines production planning from previous process planning. Secondly, Stage-gate process is adopted. This study is proposed 5 stage-gate in case of korea defense development. Gate 1 is located after SFR(System Function Review), Gate 2 is located after PDR(Preliminary Design Review), Gate 3 is located after CDR(Critical Design Review), Gate 4 is located after TRR(Test Readiness Review) and Gate 5 is located before specification documentation submission. Conclusion: Off line QC(Quality Control) in development phase is necessary prior to on line QC(Quality Control) in p roduction phase. For the purpose of off line quality control, QFD(Quality Function Deployment) and Stage-gate process can be adopted.

SE 프로세스와 연계한 시험평가 단계의 QFD 적용방안 연구 (Study on Application Method of QFD in the Test Evaluation Phase in Connection with Se Process)

  • 박종완;이재우
    • 시스템엔지니어링학술지
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    • 제14권2호
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    • pp.1-7
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    • 2018
  • The research and development stage can improve the goal level of the project through systematic operation and management of systems engineering. The test evaluation tasks in the R&D process have a lot of connections with the system engineering in terms of requirement management, and the methodology for deriving the requirements when establishing the test evaluation items has been consistently required. In this paper, we propose the process of effectively establishing and using QFD (Quality Function Deployment), a tool to manage customer requirement, and drawing up HOQ (House of Quality) in the search and exploratory development stage of the self - propelled mortar project.

물류보안 인증을 위한 정부지원 방안 연구 (A Study on Government Support for Logistics Security)

  • 이돈희
    • 한국산업정보학회논문지
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    • 제21권6호
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    • pp.109-123
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    • 2016
  • 본 연구는 물류보안 인증 획득 기업 및 인증 준비단계에 있는 기업을 위한 정부지원 정책 방안을 도출하고자 기업의 요구사항을 파악하고, 우선순위를 분석하기 위하여 AHP와 QFD 기법을 적용하였다. 분석결과, 물류보안 인증 확산을 위한 기업의 요구사항에 대한 우선순위는 물류보안통합시스템(40.3%), 정부지원체계 강화(32.4%), 인증제도의 운영효과(27.2%) 순위로 분석되었다. AHP 분석 결과를 토대로 QFD 기법을 적용한 상대적 가중치 분석결과에서는 생산성 향상(28.38%), 서비스 수준향상(26.70%), 물류비용 절감(21.60%), 정보기술 선진화(19.68%), 환경보호(3.64%) 등의 순위로 나타났다. 본 연구결과는 물류보안 인증 획득 및 유지관리 개선을 하고자 하는 공급망 내 관련 기업뿐만 아니라 다른 기업들에게 물류보안에 관한 가이드라인을 제공해 줄 수 있으며, 기업경쟁력을 강화시키고 글로벌 시장에서 경쟁우위 기업으로 성장할 수 있는 발전 도모에 활용될 수 있다.

초소형 CMOS RF 전압제어발진기 IC 신제품 개발을 위한 신뢰성 평가 프로세스 개발

  • 박부희;고병각;김성진;김진우;장중순;김광섭;이혜영
    • 한국경영과학회:학술대회논문집
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    • 한국경영과학회/대한산업공학회 2005년도 춘계공동학술대회 발표논문
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    • pp.914-921
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    • 2005
  • 신제품으로 개발 중인 초소형 CMOS RF 전압 제어발진기(VCO) IC 에 대한 공인된 시험 규격은 현재 개발되어 있지 않다. 또한 제조업체들은 고유의 시험방법을 보유하고 있을 것이나 공개하지 않고 있는 실정이다. 한편 일부 해외 제조업체에서 국제 규격인 IEC 또는 JEDEC 을 기준으로 시험방법을 제시하고 있지만, 이러한 시험규격들은 개별 부품을 솔더링하는 하이브리드 공정을 이용하여 제작된 VCO 를 대상으로 한 것이다. 그러므로 CMOS 반도체 공정을 이용한 IC 형으로 개발 중인 VCO 를 평가하기에는 적합하지 않다. 이에 본 연구에서는 신개발 부품인 CMOS RF VCO IC 에 대한 신뢰성 시험 및 평가 기준을 수립하고, 신뢰성 확보를 위한 신제품 개발 단계에서의 신뢰성 평가 프로세스를 개발하고자 한다.

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