Seo, Hye-Yeong;Kwon, Hyuk-Joong;Lee, Gu-Youl;Park, Tae-Hyoung
Proceedings of the KIEE Conference
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2007.10a
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pp.163-164
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2007
위폐 판별을 위한 홀로그램 광학 검사 시스템을 제안한다. 이 시스템은 홀로그램의 표준패턴을 생성을 CGH(Computer Generated Hologram)방법에 근거한 주파수 변환을 적용하고, 조명각도에 따라 홀로그램 이미지를 정확하게 획득하여 특성에 적합한 홀로그램 표준패턴을 생성하게 된다. 생성한 표준패턴과 실제 영상과의 패턴매칭을 위해 패턴매칭알고리즘을 적용하여 위폐를 판별하는 검사시스템이다.
Journal of the Korea Academia-Industrial cooperation Society
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v.21
no.6
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pp.640-645
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2020
To produce an input device stably using the transparent electromagnetic pattern of an electromagnetic induction method, pattern inspection is required in advance in the production process. Various methods of inspecting the capacitive pattern for hand-touch have been proposed, but it is difficult to find the related technical data for the pattern inspection method of the transparent electromagnetic induction method. In this study, to develop an inspection system for a fused electromagnetic resonance pen sensor with a copper-etched metal mesh pattern, an inspection algorithm and method for measuring the antenna impedance inside the sensor was proposed by measuring only the exposed FPCB connector. The proposed method was configured as a control board consisting of a microprocessor that forms a loop between specific channels according to the command of a computer, a computer-controlled by the Windows program, an LCR meter measuring the impedance between specific channels, and transmitting the measurement results back to the computer. An evaluation of the proposed system and measurements of nine specimens showed that it could detect the defects of the sensor used in the actual product.
다중패턴 홀로그램을 위한 자동 검사 시스템을 제안한다. 시스템 하드웨어는 조명계, 카메라 그리고 영상처리부로 구성된다. UV LED를 사용하는 다양한 조명은 다른 위치에 놓여 각 위치에서의 이미지 패턴을 획득한다. 시스템 소프트웨어는 전처리, 패턴 생성, 패턴매칭으로 구성된다. 획득한 입력 홀로그램 영상은 패턴매칭 알고리즘에 의해 표준 패턴과 비교한다. 입력 홀로그램의 위치 오차 보정을 위해, 다른 위치에서의 홀로그램 표준 패턴은 온라인상에서 생성되어야만 한다. 본 논문은 표준 패턴의 생성을 위해 CGH(Computer Generated Hologram)방법에 근거한 주파수 변환을 적용한다. 한국지폐의 홀로그램을 위한 실험 결과는 제안한 시스템의 유용성을 증명한다.
The Journal of Korean Institute of Communications and Information Sciences
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v.34
no.1B
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pp.47-55
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2009
In recent network intrusion detection systems, regular expressions are used to represent malicious packets. In order to process incoming packets through high speed networks in real time, we should perform hardware-based pattern matching using the configurable device such as FPGAs. However, operating speed of FPGAs is slower than giga-bit speed network and so, multi-byte processing per clock cycle may be needed. In this paper, we propose a hardware architecture of multi-byte based regular expression pattern matching and implement the pattern matching circuit generator. The throughput improvements in four-byte based pattern matching circuit synthesized in FPGA for several Snort rules are $2.62{\sim}3.4$ times.
실장 PCB에 대한 검사업무는 많은 인력과 시간비용을 요구 제품의 생산성을 저하시킴으로써 제품에 대한 경쟁력 확보에 큰 장애요인이 되고 있다. 따라서, 기업들은 검사 자동화를 추진하여 왔는데, 검사 생산성을 획기적으로 개선하기 위해서는 검사패턴을 자동 생성하고 아날로그 회로나 디지털 회로상의 전자 소자나 회로 기능을 선택적으로 검사함으로써 검사비용을 최소화할 수 있는 다기능 검사 기능이 요구된다. 따라서, 본 연구에서는 회로 보오드상의 부품 특성에 따라 최적의 검사패턴을 자동 작성하고 동시에 실행할 수 있는 지능형 검사 시스템을 개발하고자 한다.
본 논문에서는 열화된 이미지상에서의 자동 패턴 분할을 위해 농담 정규화 정합(NGC)법과 다중 템플레이트를 이용하여 검사 이미지내의 각 문자의 정합 계수치 합을 이용한 문자나 패턴을 자동으로 분할(segmentation)하는 알고리즘을 제안한다. 전통적인 NGC를 사용하는 검사 알고리즘은 기준 패턴의 기하학적인 level 값에 의해 계산되어 지기 때문에 검사 이미지의 획득이 불완전하다면 정합의 부독율(reject rate)은 높아진다. 제안한 알고리즘은 가시화가 좋지 않은 영상 회득 시 문자부와 배경부를 효과적으로 자동으로 분류하며 이미지 영역내의 정보와 정규화 된 상관관계를 이용하여 실제 영상에 적용시켜 제안된 알고리즘의 검증을 목표로 한다.
비젼 검사시스템에서 기판에 존재하는 납 형상의 패턴을 분류함으로써 사전에 불량을 줄일 수 있다. 이러한 경우 대부분의 불량은 부정확한 납의 위치 및 두께로 인해 발생하게 되는데, 이러한 문제를 해결하기 위해 주어진 경계 내에 불분명하게 형성된 납의 형태 및 두께를 정상과 불량으로 분류하기 위해 무게중심점에 기초한 정합과 XOR연산을 이용한 비젼 검사시스템을 제안하였다. 제안한 비젼 검사시스템을 인쇄회로기판상의 납땜형상 패턴에 적용하여 제안한 방법의 성능을 검증하였다.
In this paper we show the LCD simulator for defect inspection using image processing algorithm and neural network. The defect inspection algorithm of the LCD consists of preprocessing, feature extraction and defect classification. Preprocess removes noise from LCD image, using morphology operator and neural network is used for the defect classification. Sample images with scratch, pinhole, and spot from real LCD color filter image are used. From some experiments results, the proposed algorithms show that defect detected and classified in the ratio of 92.3% and 94.5 respectively. Accordingly, in this paper, a possibility of practical implementation of the LCD defect inspection system is finally suggested.
In this paper we show the LCD simulator for defect inspection using image processing algorithm and neural network. The defect inspection algorithm of the LCD consists of preprocessing, feature extraction and defect classification. Preprocess removes noise from LCD image, using morphology operator and neural network is used for the defect classification. Sample images with scratch, pinhole, and spot from real LCD color filter image are used. From some experiments results, the proposed algorithms show that defect detected and classified in the ratio of 92.3% and 94.5 respectively. Accordingly, in this paper, a possibility of practical implementation of the LCD defect inspection system is finally suggested.
Journal of the Korean Institute of Intelligent Systems
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v.22
no.1
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pp.87-93
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2012
In this paper, we proposed a faulty pattern detection algorithm of TCP(Tape Carrier Package)/COF(Chip On Film), and implemented a real-time system for inspecting TCP/COF. Since TCP/COF has very high resolution having several micro meters, the human operator should visually inspect all the parts through microscope. In this work, we implement an inspection system to detect the faulty pattern, so the operator can visually inspect only the designated parts by the inspection system through the monitor. The proposed defects detection algorithm for TCP/COF packages is implemented by the pattern matching method based on subtracting the reference image from test image. To evaluate performance of the proposal system. we made various experiments according to type of CCD camera and light source as well as illumination projection method. From experimental results, it is confirmed that the proposed system makes it possible to detect effectively the defective TCP/COF film.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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