• 제목/요약/키워드: 태그 불량 검출

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RFID 태그 생산 공정 자동화를 위한 부적합품의 자동 검출 및 EPC Code Auto-Writing 알고리즘 개발 (The development of an EPC Code Auto-Writing and Fault Detection Algorithm for Manufacturing Process of a RFID TAG)

  • 정민포;황건용;조혁규;이원열;정덕길;안귀임;박영식;장시웅
    • 한국정보통신학회:학술대회논문집
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    • 한국해양정보통신학회 2009년도 춘계학술대회
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    • pp.321-325
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    • 2009
  • 국내의 RFID 태그 생산업체의 대부분은 칩 본딩 작업 후에 태그 불량 검출을 수작업으로 이루어 지기 때문에 태그 생산의 시간과 비용을 감소시키기 위한 요구가 산업계에서 요구되어 왔다. 이에 따라 이 논문에서는 칩 본딩 과정 이후에 태그 불량 검출 기능을 수행하는 시스템을 설계 및 개발하여 산업 현장에서 요구되는 RFID 태그 불량 검출 자동화 시스템을 구축할 수 있는 소프트웨어 분야의 기초 기반 기술을 제공한다. 개발된 시스템은 태그 불량 검출 작업을 수작업을 처리하는 방법과 비교하여, 처리속도는 700%이상의 성능 향상과 불량검출에 대한 100% 인식률을 보여준다.

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UML과 LVOOP를 활용한 RFID 불량 검출 시스템의 구현 (The Implementation of the Detection System of RFID Defective Tags Using UML and LabVIEW OOP)

  • 정민포;조혁규;정덕길
    • 한국정보통신학회:학술대회논문집
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    • 한국해양정보통신학회 2011년도 추계학술대회
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    • pp.382-386
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    • 2011
  • RFID 태그 생산 분야에서 RFID 칩 본딩 과정 이후에 RFID 태그 불량 검출 기능을 수행하는 불량 검출 시스템 개발이 요구되어 왔다. 그러나 RFID 태그의 특징을 이해하면서 제대로 된 설계 개념을 가지고 구현된 시스템을 설계하기가 어렵고 사소한 기능의 변화에도 시스템을 처음부터 설계를 해야 하는 어려움이 있었다. 이 논문에서는 RFID 태그 불량 검출 기능을 수행하는 불량검출 시스템을 UML을 이용하여 객체지향 기법으로 설계하고 UML로 설계된 모델링을 객체지향을 지원하는 비주얼 언어인 LabVIEW OOP로 적용하는 방법을 제시한다. UML과 LabVIEW OOP로 설계되고 구현된 불량검출 시스템에 대한 성능과 시스템의 기능 변화에 따른 재설계 기법에 대한 기법도 제안한다.

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RFID 태그 생산 공정 자동화를 위한 부적합품 검출 시스템의 구현 (An Implementation of the Fault Detection System in the RFID Tag Manufacturing Automation)

  • 정민포;조혁규;정덕길
    • 한국컴퓨터정보학회논문지
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    • 제16권2호
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    • pp.47-53
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    • 2011
  • 국내 대부분의 RFID 태그 생산업체에서는 칩 본딩 작업 후에 태그 불량품 검출 작업이 수작업으로 수행되기 때문에 태그 생산 시간과 비용을 감소시키기 위한 요구가 산업계에서 요구되어 왔다. 이에 따라 이 논문에서는 태그 불량 검출 기능을 수행하는 시스템을 개발하여 산업 현장에서 요구되는 RFID 태그 부적합품 검출 자동화 시스템을 구축할 수 있는 소프트웨어 분야의 기초 기반 기술을 제공한다. 프로그램의 개발 비용을 낮추고 유지보수를 용이하게 하기 위하여 시스템의 모델링에는 UML을 사용하고 프로그램의 구현에는 JAVA 언어를 사용하여 개발하였다. 개발된 시스템은 태그 불량 검출 작업을 수작업으로 처리하는 방법과 비교하여, 매우 뛰어난 처리속도의 성능 향상과 부적합품 검출에 대한 완벽한 인식률을 보여준다.