• Title/Summary/Keyword: 증착필름

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Fabrication and characteristics of pyroelectric infrared sensors using P(VDF/TrFE) film (P(VDF/TrFE) 필름을 이용한 초전형 적외선 센서의 제작 및 특성)

  • Kwon, Sung-Yeol;Kim, Ki-Wan
    • Journal of Sensor Science and Technology
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    • v.8 no.3
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    • pp.226-231
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    • 1999
  • Pyroelectric infrared sensors have been fabricated using P(VDF/TrFE) film with pyroelectric effect. The weight percent and thickness of the poled P(VDF/TrFE) film are 75/25 percent and $25\;{\mu}m$ respectively. For easier fabrication and connection method new top and bottom electrodes design was adapted for human body detecting pyroelectric infrared sensor. An aluminum infrared absorption electrode and bottom electrode were deposited by thermal evaporator. And the device was mounted in TO-5 housing to detect infrared light of $5.5{\sim}14\;{\mu}m$ wavelength. The responsibility, NEP (noise equivalent power) and specific detectivity $D^*$ of the device were $9.62{\times}10^5\;V/W$, $3.95{\times}10^{-7}\;W$ and $5.06{\times}10^5\;cm/W$ under emission energy of $13\;{\mu}W/cm^2$ respectively.

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Comparison Study of the Modulation Transfer Function of a Prototype a-Se based Flat Panel Detector with Conventional Speed Class 400 Film/screen System (비정질 셀레늄을 이용한 직접방식의 디지털 방사선 검출기와 X-ray film과의 MTF측정을 통한 영상 질(quality) 비교평가에 관한 연구)

  • Park, Jang-Yong;Park, Ji-Koon;Kang, Sang-Sik;Moon, Chi-Woong;Lee, Hyung-Won;Nam, Sang-Hee
    • Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea SC
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    • v.40 no.3
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    • pp.163-171
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    • 2003
  • To evaluate the performance of the digital radiography(DR) system developed in our group, the modulation transfer function(MTF) was measured and compared with that of an analog X- ray detector, film/screen system. The DR system has an amorphous selenium(a-Se) layer vacuum-evaporated on a TFT flat panel detector. The speed class 400 film/screen (Fuji) system has been being used in the clinical field as analog X-ray detectors. Both the square wave and slit method were used to evaluate their MTF. The square method was applied to both film/screen and the DR system. The slit method, however, was applied to only DR system. The full-width half maximum resolution of film/screen was 357${\mu}{\textrm}{m}$(1.4 lp/mm at 50% spatial frequency), and the resolution of DR was limited to 200${\mu}{\textrm}{m}$(2.5 lp/mm at 30%). These results indicate the measured resolution limitations approximate to the pixel pitch, 139 ${\mu}{\textrm}{m}$ of TFT. The MTF of DR is higher than that of film/screen by the factor of 1.785. It is proved that our a-Se based DR system has potential usefulness in the clinical field.

A study on phase change characteristics of $Ge_2Sb_2Te_5$ thin films for phase change random access memory (상변화 메모리를 위한 $Ge_2Sb_2Te_5$ 박막의 상변화 특성 연구)

  • Beak, Seung-Cheol;Song, Ki-Ho;Han, Kwang-Min;Lee, Hyun-Yong
    • Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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    • 2009.06a
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    • pp.70-70
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    • 2009
  • Si 도핑한 $Ge_2Sb_2Te_5$ 박막은 비정질상에서의 열적 안정성증가, fcc에서 hex상으로의 상전이 억제, 활성화 에너지 증가 등의 특성을 보인다. 본 연구에서는 Si 도핑에 의한 $Ge_2Sb_2Te_5$ 박막의 전기적 그리고 구조적인 특성에 관한 실험을 진행하였다. 실험에 사용된 Si 도핑 $Ge_2Sb_2Te_5$ 박막은 Si 기판 위에 radio frequency power supply를 사용해 Si과 $Ge_2Sb_2Te_5$ 타겟을 co-sputtering하여 증착하였다. Si의 sputtering 파워를 달리하여 실리콘의 농도를 다르게 증착 하였고 X-ray photoelectron spectroscopy (XPS)를 사용하여 박막의 Si 농도를 측정하였다. 증착된 박막은 질소 분위기 하에서 $5\;^{\circ}C$/min으로 열처리 하여 여러 온도와 Si 농도에서의 박막의 특성을 측정하였다. 열처리 전, 후의 박막은 X-ray diffraction (XRD) 분석을 통하여 각각의 온도에서의 구조적 특성을 분석하였다. 열처리 온도에 따르는 필름의 전기적 특성 파악을 위해서 four-point probe를 이용하여 박막의 면저항을 측정하였고 그 값은 3 회 이상 측정하여 평균값을 사용하였다. Nano-pulse scanner를 사용하여 다양한 파워범위와 펄스폭 범위에서의 박막의 상변화에 따른 반사도 차이를 측정하여 각 조성에서의 비정질-결정질상 변화속도를 분석하였다.

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Tin Sulphide Thin Films Formed by Sulphidising D.C. Magnetron Sputtered Layers of Tin Using $H_2S$ ($H_2S$ 가스를 이용한 황화주석 박막 증착에 관한 연구)

  • Leach, M.;Jang, D.Y.;Miles, R.
    • Tribology and Lubricants
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    • v.26 no.6
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    • pp.317-321
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    • 2010
  • Thin films of tin sulphide (SnS) have been formed by a novel 2-stage process where-in D.C. magnetron sputtering was used to deposit to thin films of tin (Sn) and the layers then sulphidised using 5% hydrogen sulphide ($H_2S$) gas in Argon. Although it was not found possible to deposit high quality thin films of tin directly onto glass substrates, excellent layers of tin were produced by using molybdenum (Mo) coated glass as the substrate material. The chemical and physical properties of the SnS layers formed were determined using scanning electron microscopy, energy dispersive x-ray analysis, x-ray diffraction studies and using reflectance versus wavelength measurements and these related to the conditions of synthesis. The data shows that it should be possible to produce conventional "substrate structure" devices based on the use of this technology.

Characterization of Thin Film Passivation for OLED by PECVD (PECVD에 의한 OLED 소자의 Thin Film Passivation 특성)

  • Kim, KwanDo;Jang, SeokHee;Kim, JongMin;Chang, SangMok
    • Korean Chemical Engineering Research
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    • v.50 no.3
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    • pp.574-581
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    • 2012
  • The relatively short lifetime is a major obstruction for the commercial applications of OLED. One of the reason for the short lifetime is that the organic materials are interacted with water or oxygen in the atmosphere. Protection of water or oxygen from diffusing into the organic material layers are necessary to increase the lifetime of OLED. Although encapsulation of OLED with glass or metal cans has been established, passivation methods of OLED by organic/inorganic thin films are still being developed. In this paper we have developed in-situ passivation system and thin film passivation method using PECVD by which deposition can be performed at room temperature. We have analyzed the characteristics of the passivated OLED device also. The WVTR (Water Vapor Transmission Rate) for the inorganic thin film mono-layer can be reached down to $1{\times}10^{-2}g/m^2{\cdot}day$ and improved lifetime can be obtained. Thin film passivation methods are expected to be applied to flexible display.

Aging Analysis of Self Hooting MPPF Capacitor Elements (셀프힐링 금속증착 커패시터 소체의 열화 분석)

  • 곽희로;송길목;김영찬
    • Journal of the Korean Institute of Illuminating and Electrical Installation Engineers
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    • v.17 no.3
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    • pp.73-79
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    • 2003
  • This paper describes the characteristics of capacitor elements at self healing. Self healing events were forced to be created by the over-rated voltage of the capacitor elements. The self healing site was photographed by the Scanning Electron Microscope and the by-products of self healing were analyzed by the Energy Dispersive X-ray Spectrometer. Also the self healing site was analyzed by the Differential Scanning Calorimeter and the Fourier Transform Infrared Spectrometer. As a result, the main component of by-products due to the hum cut at self healing was carbon. The Fourier Transform Infrared analysis result of the self-healing specimen was similar to that of the virgin specimen, however, different from that of the specimen thermally treated at 500$^{\circ}C$. It was observed that heat flow peaks of virgin specimen were different from self-healing specimen by the Differential Scanning Calorimeter analysis.

스퍼터링을 이용한 ITO 박막의 저온 증착

  • Jang, Seung-Hyeon;Lee, Yeong-Min;Yang, Ji-Hun;Jeong, Jae-In
    • Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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    • 2010.02a
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    • pp.263-263
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    • 2010
  • 투명도전막(indium tin oxide; ITO)은 투명하면서도 전기 전도도가 높기 때문에, 액정표시소자(LCD; Liquid Crystal Display), 전자발광소자(ELD; Electroluminescent Display) 및 전자 크로믹 소자(Electrochromic Display)를 포함하는 평판형 표시 소자(FPD; Flat Panel Display)와 태양전지 등에 이용되고 있다. 낮은 비저항과 높은 투과율의 ITO 박막은 $300^{\circ}C$ 이상의 고온에서 코팅해야 하는 것으로 알려져 있다. 그러나 최근 플라스틱과 같은 연성 소자가 전자부품에 널리 이용되면서 ITO를 저온에서 증착해야할 필요성이 대두되고 있다. 본 연구에서는 ITO를 플라스틱에 적용하기 위한 저온 코팅 공정 및 시편의 전 후처리공정을 개발하여 박막의 특성을 알아보고자 한다. 실험에 사용된 기판은 고투과율의 고분자(polyethylene terephthalate; PET) 필름이며 $5\;{\times}\;10\;cm^2$의 크기로 절단하여 알코올로 초음파 세척을 실시하였고, 진공 용기에 장입한 후 펄스전원을 이용하여 3분간 in-situ 청정을 실시하였다. ITO 코팅은 마그네트론 스퍼터링을 이용하였으며, 코팅시간, 전처리, 후처리, 기판온도, 산소유량 등 코팅 조건에 따른 박막의 특성을 조사하였다. ITO 박막의 코팅 조건에 따른 박막의 결정구조 분석은 x-선 회절(x-ray diffraction; XRD)을 이용하였고, 박막의 표면형상과 두께 보정 및 단면의 미세조직과 결정 성장 여부 등은 투과전자 현미경(transmission electron microscope; TEM)을 이용하여 분석하였다. 또한 ITO 박막의 면저항과 분광특성은 four-point Probe (CMP-100MP, Advanced Instrument Technology), spectrophotometer (UV-1601, SHIMADZU)를 이용하여 측정하였다. ITO 박막의 광학특성 분석 결과 전광선 투과율은 두께에 따라 변화 하였지만, 색차와 Haze 값은 증착 조건에 따라 큰 차이는 보이지 않았다. 그리고 박막의 결정화에 영향을 주는 가장 중요한 인자는 기판온도이지만, 기판온도를 높이지 못할 경우 비평형 마그네트론(unbalanced-magnetron; UBM)에 의해서 플라즈마 밀도를 높이는 방법으로 유사한 효과를 얻을 수 있음을 확인하였다.

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RF magnetron Sputtering법에 의해 Plasma Etching된 Glass에 증착한 다양한 친수 박막의 특성

  • Lee, Dong-Uk;Baek, Cheol-Heum;Kim, Dong-Yeong;Yang, Jeong-Min;Kim, Hwa-Min;Lee, Jong-Yeong
    • Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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    • 2012.02a
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    • pp.133-133
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    • 2012
  • 일반적으로 TiO2는 광촉매 작용으로 표면 살균성을 가지며, 친수특성으로 인한 자가세정 능력도 가지고 있다. 또한 지구상에 많이 존재하는 광물로 원료의 가격이 저렴하다는 장점이 있어 산업 전반에 사용되고 있다. 하지만 외부의 환경적 오염으로 인한 광촉매 반응 면적의 감소에 따라 반응효율이 저하되는 단점이 있으며, SiO2는 투명한 유리와 같이 비정질상태가 안정하고 높은 굴절률을 가지며 내구성이 외부환경에 강해 무반사 코팅이나 금속박막의 보호층으로 주로 사용된다. WO3는 높은 굴절률과 가시광선 영역에서의 우수한 투과율을 가지고 있으나 conduction band에서 생성된 광캐리어들이 빠르게 재결합 하여 광분해 효율이 좋지 않기 때문에 흔히 쓰이지 않고 있다. 이러한 박막들의 단점을 보완하기 위해 물리적 구조를 변화시켜 반응 면적을 극대화하기 위해 버퍼층이나 다층박막을 사용하는 등 다양한 연구가 진행되고 있다. 본 실험에서는 Slide glass에 Plasma etching 하였을때 친수성이 나타나는 특성을 이용하여 대면적 코팅과 표면 경도를 우수하게 만들 수 있는 RF Magnetron sputtering법으로 Slide glass에 Ar Gas 분위기에서 각 파워별 Plasma etching한 후 TiO2, SiO2, WO3 박막을 증착하여 광학적, 구조적 특성을 분석하였다. 광투과율 측정장치(UV-VIS Spectrophotometer)를 사용하여 투과율을 측정한 결과 모든 박막이 가시광 영역에서 80% 이상의 높은 투과율을 나타내었으며, 접촉각 측정결과 100w로 etching한 glass에 TiO2를 증착한 박막에서 가장 낮은 $3^{\circ}$ 이하의 접촉각을 나타내었다. SEM (Scanning Electron Microscope) 분석을 통해 표면구조를 관찰한 결과 100w로 etching한 후 TiO2를 증착한 박막이 가장 조밀한 구조를 보였으며, AFM (Atomic Force MicroScope) 분석 결과 100w로 etching한 후 TiO2를 증착한 박막의 표면이 가장 거칠어지는 것을 볼 수 있었는데, 이는 물과 닿는 박막의 유효 표면적의 증가로 인하여 광촉매 효과가 증가하였기 때문에 친수성이 향상된 것으로 사료된다. 이러한 박막은 건물 유리벽과 자동차의 내 외장재 전자기기용 광학 필름에 자가세정, 내반사 코팅소재, 디스플레이 표시장치로 활용할 수 있을 것으로 예상된다. 본 연구는 중소기업청에서 지원하는 2011년도 산학연 공동기술개발 지원사업의 연구수행으로 인한 결과물임을 밝힙니다.

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Comparison of Electrical Signal Properties about Top Electrode Size on Photoconductor Film (광도전체 필름 상부 전극크기에 따른 전기적 신호 특성 비교)

  • Kang, Sang-Sik;Jung, Bong-Jae;Noh, Si-Cheul;Cho, Chang-Hoon;Yoon, Ju-Sun;Jeon, Sung-Pyo;Park, Ji-Koon
    • Journal of the Korean Society of Radiology
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    • v.5 no.2
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    • pp.93-96
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    • 2011
  • Currently, the development of direct conversion radiation detector using photoconductor materials is progressing in widely. Among of theses photoconductor materials, mercuric iodide compound than amorphous selenium has excellent absorption and sensitivity of high energy radiation. Also, the detection efficiency of signal generated in photoconductor film varies by electric filed and geometric distribution according to top-bottom electrode size. Therefore, in this work, the x-ray detection characteristics are investigated about the size of top electrode in $HgI_2$ photoconductor film. For sample fabrication, to solve the problem that is difficult to make a large area film, we used the spatial paste screen-print method. And the sample thickness is $150{\mu}m$ and an film area size is $3cm{\times}3cm$ on ITO-coated glass substrate. ITO(Indium-Tin-Oxide) electrode was used as top electrode using a magnetron sputtering system and each area is $3cm{\times}3cm$, $2cm{\times}2cm$ and $1cm{\times}1cm$. From experimental measurement, the dark current, sensitivity and SNR of the $HgI_2$ film are obtained from I-V test. From the experimental results, it shows that the sensitivity increases in accordance with the area of the electrode but the SNR is decreased because of the high dark current. Therefore, the optimized size of electrode is importance for the development of photoconductor based x-ray imaging detector.

Pentacene 이용한 2차원 전이금속 칼코게나이드 물질(MoS2, WSe2)의 도핑 현상 연구

  • Jo, Hang-Il;Jo, Seo-Hyeon;Park, Jin-Hong
    • Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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    • 2015.08a
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    • pp.202.2-202.2
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    • 2015
  • 현재 반도체 산업 전반에 걸쳐 사용되고 있는 실리콘등의 3차원 반도체 물질은 반도체 공정 기술의 발전에 따른 물질적인 한계에 부딪히고 있다. 이러한 물질적인 한계를 극복하기 위하여 Graphene과 같은 2차원 물질 중 전이금속 칼코게나이드 화합물(TMD)의 반도체 특성이 뛰어나 실리콘 등을 대체할 차세대 나노 반도체 물질로 활발한 연구가 이루어지고 있다. 특히 기존 반도체를 도핑시키기 위하여 사용되었던 이온 주입 공정은 TMD의 결정구조에 심각한 손상을 가하여 이를 대체할 새로운 도핑 방법에 대한 연구가 활발히 이루어지고 있다. 우리는 이번 연구에서 기존에 유기반도체 물질로 연구되었던 pentacene을 도핑층으로 활용하고 Raman 분광법 및 전기 측정 등을 통하여 TMD물질이 금속화 되지 않는 정도의 매우 낮은 p형 도핑 현상을 확인하였다. 또한 시간에 따른 측정을 통하여 pentacene의 p형 도핑현상이 필름 증착 직후에는 미약하지만 시간이 지나면서 점점 강해지는 것을 발견하였다.. 이는 도핑현상이 pentacene의 구조에 의해 주로 일어나는 것으로 시간이 지남에 따라 대기중의 수분에 의해 생성된 pentacene 산화물들이 도핑 현상을 증가 시키는 원인으로 보인다.

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