• Title/Summary/Keyword: 적층형 칩인덕터

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Development of High frequency Multi-layered Ceramic Chip Inductor (고주파 적층형 칩 인덕터 개발)

  • 강남기;임욱;유찬세
    • Proceedings of the KAIS Fall Conference
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    • 2001.05a
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    • pp.148-150
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    • 2001
  • 본 논문에서는 소결 후 20 ㎛ 정도의 두께를 갖는 ceramic green sheet를 이용하여 초소형(1005) 칩 인덕터를 제작하였다. 인덕터의 패턴을 최적화함에 있어서 HP사의 HFSS(High Frequency Structure Simulator)를 이용하였고 이 과정에서 인덕터의 전기적 특성, 등가회로등을 추출하였다. 칩 인덕터를 제작함에 있어서 모든 적층 공정을 최적화하였다. 실제 제작한 인덕터와 simulation 결과의 관계성을 도출하고 이를 통해 목표 용량을 tuning하였다. 이와 같은 과정을 통해 1-39 nH의 인덕턴스를 갖는 1005크기의 칩 인덕터를 개발하였고, 이를 선진사의 제품과 비교할 때 우수한 전기적 특성을 나타내었다.

Reliability Evaluation through Failure Analysis and Degradation Characteristics of Ag External Electrodes. (Ag 외부전극재의 열화특성 및 고장해석을 통한신뢰성평가)

  • 김은미;박영식;이의종;김용남;최덕균;송준광;이희수
    • Proceedings of the Materials Research Society of Korea Conference
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    • 2003.11a
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    • pp.227-227
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    • 2003
  • 캐패시터, 인덕터 등의 전자부품들은 적층기술 및 표면 실장 기술 등을 이용하여 적층형 칩형태로 제작되고 있다. 적층형 칩형태의 전자부품들은 전자기적 특성을 부여하는 세라믹스와 전극역할을 하는 금속으로 구성되어 있으며, 전극 부분은 크게 내부전극과 외부전극으로 구분된다. 고장이 발생하게 되면 고장의 형태를 의미하는 고장모드(failure mode)와 제품을 고장에 이르게하는 물리, 화학적, 기계적 과정을 의미하는 고장기구(failure mechanism)을 조사하게 된다. 전자부품에서 고장이 발생하였을 경우, 1차적인 분석대상은 전극재인데 전극재에 기인한 고장으로는 세라믹스와 전극재 사이의 열팽창계수 차이에 기인한 박리현상(Delamination), 인쇄불량에 의한 단락 및 두께 불량, 세라믹스와 전극재 사이의 반응, 산화에 의한 부식 등이 있다. 이러한 고장은 급격한 주위 환경의 변화에 의한 것보다는 일정수준의 스트레스가 축적되어 발생하며, 수명을 예측하기 위해서는 고장의 원인을 규명하고 그 원인에 의한 가속 시험을 수행하는 것이 일반적인 방법이다. 본 연구에서는 Ag 외부 전극재의 수명을 예측하고자 가속시험을 수행하였고, 고장 분석 통하여 Ag외부 전극재의 특성 및 문제점 등을 정확히 파악하기 위한 연구를 하였다.

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Low Firing Temperature Nano-glass for Multilayer Chip Inductors (칩인덕터용 저온소성 Nano-glass 연구)

  • An, Sung-Yong;Wi, Sung-Kwon
    • Journal of the Korean Magnetics Society
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    • v.18 no.1
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    • pp.43-47
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    • 2008
  • [ $ZnO-Bi_2O_3-Al_2O_3-B_2O_3-SiO_2$ ] nano-glass has been prepared by sol-gel method. The mean particle size was 60.3 nm with narrow size distribution. The nano-galss has been used as a sintering aid for the densification of the NiZnCu ferrites. The ferrite was sintered with nano-glass sintering aids at $840{\sim}900^{\circ}C$, 2 h and the initial permeability, quality factor, density, and saturation magnetization were also measured. The initial permeability of 0.5 wt% nano-glass added toroidal sample for NiZnCu ferrites sintered at $900^{\circ}C$ was 193.3 at 1 MHz. The initial permeability and saturation magnetization were increased with increasing annealing temperature. As a result, $ZnO-Bi_2O_3-Al_2O_3-B_2O_3-SiO_2$ nano-glass systems were found to be useful as sintering aids for multilayer chip inductors.

Magnetic Properties of NiZnCu Ferrite for Multilayer Chip Inductors (칩인덕터용 NiZnCu Ferrite의 자기적 특성 연구)

  • An, Sung-Yong;Moon, Byeong-Chol;Jung, Hyun-Chul;Jung, Hyun-Jin;Kim, Ic-Seob;Hahn, Jin-Woo;Wi, Sung-Kwon
    • Journal of the Korean Magnetics Society
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    • v.18 no.2
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    • pp.58-62
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    • 2008
  • $Ni_{0.4}Zn_{0.4}Cu_{0.2}Fe_2O_4$ ferrite was fabricated by solid stat reaction method and sol-gel method. Because of the drawbacks of each method, we combined these two methods together. We proposed and experimentally verified that nanocrystalline ferrite additive was effective on improving the densification behavior and magnetic properties of NiZnCu ferrites for multilayer chip inductors. The initial permeability of the toroidal core Sample with 20 wt% nanocrystalline ferrite increased from 78.1 to 178.2 as annealing temperature is increased from $880^{\circ}C$ to $920^{\circ}C$. The density, shrinkage and saturation magnetization were increased with increasing annealing temperature, which was attributed to the decrease of additive grain size and increase of sintering density.