• 제목/요약/키워드: 위상천이 간섭계

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생산 라인에서의 광 Pick-up용 비구면 대물 렌즈 측정을 위한 안정된 층밀리기 간섭계 (Stable lateral-shearing interferometer for in-line inspection of aspheric pick-up lenses)

  • 조우종;김병창;김승우
    • 한국광학회지
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    • 제8권3호
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    • pp.189-193
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    • 1997
  • 광 pick-up용 비구면 대물 렌즈는 컴퓨터와 멀티미디어 기기 등의 발달로 수요가 급증하고 있으며 사출성형에 의하여 대량 생산되고 있다. 광 pick-up용 비구면 대물 렌즈의 생산성 향상을 위해서는 생산공정중의 전수검사를 요구하며 이는 측정환경에 강인한 측정기를 필요로 하고 있다. 본 연구에서는 생산공정중에 광 pick-up용 비구면 대물 렌즈를 측정할 수 있는 개선된 층밀리기 간섭계를 제안하고자 한다. 본 층밀리기 간섭계는 3개의 직각 프리즘과 1개의 광분할 코팅된 프리즘으로 구성되며 index matching oil에 의하여 상대이동이 가능하도록 조합되어 있다. 간섭무늬를 정확히 분석하기 위한 위상천이와 층밀림량의 조절은 프리즘 간의 상대 이동에 의하여 가능하며 이를 위한 구동 기구부를 제작하였다. 또한, 본 연구에서는 반복연산에 의한 일반 알고리즘을 도입하여 위상천이 시에 발생하는 index matching oil의 유막 두께변화에 의한 기준위상 오차를 보상하였다. 광 pick-up용 비구면 대물 렌즈의 수차량을 정량적으로 산출하기 위하여 Zernike 다항식 맞춤을 수행하였다. 본 간섭계는 측정환경에 매우 강인하며 방진과 밀폐가 없는 열악한 측정환경하에서 반복측정을 수행하였을 때 .lambda./100 이하의 반복능을 얻었다.

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고차 비구면 렌즈의 성능평가 시스템에 관한 연구 (A Study on the System of Performance Test for High-order Aspheric Lens)

  • 장남영;최평석;은재정
    • 융합신호처리학회논문지
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    • 제7권3호
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    • pp.122-129
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    • 2006
  • 본 논문에서는 고차 비구면 렌즈의 성능 평가를 위해, Fizeau 형 위상 천이 간섭계 (FPSI) 시스템을 제안한다. 제안된 Fizeau 형 위상 천이 간섭계 시스템은 광학부와 신호처리부로 나뉘며 이는 하드웨어 운용 프로그램을 통해 구동된다. 또한, 제안된 시스템으로 획득된 간섭무늬를 해석하기 위해, 위상 천이 알고리즘을 적용한 간섭무늬 해석 프로그램을 개발하였다. 본 논문에서 제안한 FPSI 시스템의 측정 결과는 업계 표준으로 사용되고 있는 Zygo 사의 간섭계 측정 장치인 Mark IV와 직접 비교함으로써 그 타당성을 입증하였다. 평가된 고차 비구면 렌즈의 표면 오차에 대한 PV(Peak-to-Valley) 및 RMS 값은 각각 0.845 wave 및 0.1871 wave로 측정되었고 Mark IV 와 비교한 결과, 측정 오차는 각각 ${\lambda} /100$ 이하로 계산되었다. 또한, 비구면 렌즈의 성능평가 시스템의 반복능도 ${\lambda}/100$ 이하의 신뢰할 만한 결과를 얻었다.

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2-단계 위상 천이 디지털 홀로그래피를 이용한 이진 정보 광 암호화 기법 (Optical Encryption of Binary Information using 2-step Phase-shifting Digital Holography)

  • 변현중;길상근
    • 한국광학회지
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    • 제17권5호
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    • pp.401-411
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    • 2006
  • 보안 시스템에서 2-단계 위상 천이 홀로그래피를 이용하여 이진 정보 광 암호화 기법을 제안하였다. 위상 천이 디지털 간섭계는 CCD 카메라를 이용하여 위상과 크기 정보를 기록할 수 있는 기법이다. 2-단계 위상 천이는 0과 ${\pi}/2$의 위상 천이 각을 갖도록 PZT 거울을 움직여서 구현하였다. 이진 정보와 암호키는 랜덤 코드와 랜덤 위상으로 표현하였고, 디지털 홀로그램은 푸리에변환 홀로그램으로 간섭무늬는 CCD를 이용하여 256 레벨의 양자화 된 광세기로 획득되었다. 데이터 복원 시 DC 성분 제거 방법을 사용하였다. 컴퓨터 모의실험을 통하여 데이터 복원과 양자화 과정에서의 양자화 레벨 변화량과 디지털 홀로그램 간섭무늬의 오차 픽셀수에 따른 오차 분석을 수행하였다. 이 결과를 이용하여 정보의 광학적 암호화에 적용이 가능함을 확인하였다.

Sagnac 간섭계를 이용한 광섬유 음향 센서의 동적 범위 향상 기법 (A New Technique for Improvement of Dynamic Range in Fiber Optic Acoustic Sensor using Sagnac Interferometers)

  • 남성현
    • 센서학회지
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    • 제9권6호
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    • pp.416-423
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    • 2000
  • Sagnac 간섭계를 이용한 광섬유 음향 센서에서 음향 신호를 간단하면서도 효과적으로 복조할 수 있는 이중위상 천이 신호처리 기법을 제안하고 실험을 통하여 그 특성을 검증하였다. 이 기법을 사용하여 기존의 ${\pi}/2$ 위상 바이어스 복조 방식이 갖는 동적 범위의 이론적 한계를 근본적으로 제거하였다. 이 기법은 고주파의 위상 변조를 하지 않으므로 간단한 전자 회로만으로도 음향 신호의 복조가 가능하다. 또한 디지털 신호처리에 적합하며 다른 간섭계에도 적용이 가능하다.

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삼차원 좌표 측정을 위한 부피 간섭계의 오차분석 및 성능평가 (Error analysis and Performance test of the Volumetric interferometer for Absolute distance measurement)

  • 이혁교;주지영;김승우
    • 한국정밀공학회:학술대회논문집
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    • 한국정밀공학회 2002년도 추계학술대회 논문집
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    • pp.387-390
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    • 2002
  • In this paper, we accomplish uncertainty evaluation and performance test of the volumetric interferometer using two spherical wavefronts emitted from the ends of two single mode fibers. We verify that the volumetric interferometer has the volume uncertainty of 690nm through the error analysis and it has the resolution of 0.1 0.1$\mu\textrm{m}$ for x axis which is the same order of repeatability for x axis. Also, we obtain the systematic error of $1\mu\textrm{m}$ for $60\times 60\times 20 mm^3$ working volume using self-calibration with an artifact plate.

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위상천이 디지털 홀로그래피를 이용한 평판의 표면 평면도 측정 (Refractive media flatness measurement by phase shifting digital holography)

  • 전성빈;김도형;조장현;박노철;양현석;박경수;박영필
    • 정보저장시스템학회논문집
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    • 제8권2호
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    • pp.44-49
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    • 2012
  • We measured the surface flatness of both sides for refractive media using the transmitted digital holography method. To enhance the accuracy of the result, phase-shifting system was used. With two different phase modulation of reference beam, the phase profile of object can be easily obtained. Thus, we proposed the surface measurement method which can measure large area fast, compared with conventional methods. To guarantee the reliability of obtained result, we compared with Zygo measurement system. With the proposed method, the surface flatness of $3.45{\mu}m$ resolution could be obtained.