• 한국정보통신학회논문지
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• 제17권5호
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• pp.1055-1063
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• 2013

전자파 내성 및 전자파 장해 측정을 위한 표준 전자파 발생 장치 중 하나인 CTL cell에서 두 개의 입력 단자에 동일 신호와 역위상 신호 입력에 따른 다양한 전계와 자계 발생에 대해 살펴보았다. 기본 공진주파수 TE011이 2.20GHz인 CTL cell을 이용하여 우세 전계장과 우세 자계장 조건에서 입력 전력의 변화에 따른 전계 특성, 측정 위치에 따른 전계 특성, 주파수 변화에 따른 전계 특성을 측정하였고, 이를 이용하여 CTL cell의 측정 영역에서의 동작 특성과 공진주파수의 영향을 받지 않고 사용 가능한 주파수 대역을 살펴보았다.