• JOURNAL OF ELECTRICAL WORLD
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• s.336
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• pp.38-43
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• 2004

• Korean Journal of Materials Research
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• v.4 no.4
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• pp.439-444
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• 1994

The influence of the direction of applied compressive stress on degradation mechanism ofpoled PZT sample was studied. When compressive stress perpendicular to poling direction was appliedon poled PZT sample, the degradation phenomena was explained by the diffusion of space chargepolarization. On the contrary, compressive stress parallel to poling direction was applied, it wasexplained by the rearrangement of 90" domains. As the grain size increased, the degradation phenomenawas promoted. It is attributed to different internal stress due to difference of grain size. of grain size.

• Proceedings of the Korean Society of Broadcast Engineers Conference
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• 1998.06a
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• pp.87-90
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• 1998

움직임 열화(motion blur)현상은 카메라와 피사체간의 상대적임 움직임에 발생되는 영상의 번짐 현상으로, 본 논문에서는 새롭게 제시한, 노이즈의 분산을 산출해 내기 위한 노이즈 지배영역과, 움직임 열화와 각도와 길이를 추정해내기 위한 신호 지배영역을 통하여 움직임 열화의 파라메터를 효율적으로 추정할 수 있는 방법을 제시하였다. 또한, 새롭게 제안한 가변가중치(weight)를 적용한 최소자승법(Least Man Square)은 극점 자취의 방향 추정에 있어 정밀한 측정이 가능케 한다. 열화의 방향이 얻어지면, 1차원 셉스트럼(Cepstrum)방법으로 빠르게 움직임 열화의 길이를 구할 수 있게 된다. 이러한 방법으로 얻어진 정보들을 이용하여, 실제 손상되어진 영상을 효과적으로 복원할 수 있었다.

• Proceedings of the KSR Conference
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• 2007.11a
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• pp.1267-1272
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• 2007

In the case of the railway bridge, there are following the progress of works after the drainage method of a bridge surface - vibration proof rubber establishment, track gravel construction and rail construction etc. But these works are not enforced consecutively by the execution and economical reason. This is the reason of the long period of exposure after drainage execution. In many case, from the deterioration phenomenon by long term exposure of surface, there are a lot of occasions that do not keep primitive penetration depth waterproof primitive time. It is the most important that select the drainage method that have durability - it is not fallen in long-term exposure of surface. The major objective of this study is to deduce objective analysis result through examination about the Deterioration Restraining Agent method and to master KNOW-HOW of DRA drainage method. Through the study, minimize economical damage by frequent repair and reinforcement and present the reasonable standard of judgement fot drainage method of construction.

• Proceedings of the KIEE Conference
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• 1997.07d
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• pp.1612-1614
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• 1997

고분자 절연재료의 결함에 의하여 발생하는 부분방전은 고분자 재료의 화학적, 전기적 열화를 가져오며 때로는 전기 트리로 성장하여 재료의 절연파괴에 이르게 하기도 한다. 따라서 부분 방전 현상의 메카니즘 뿐만 아니라 측정법에 대한 많은 연구들이 있었으나 부분방전 열화가 고분자 재료에 미치는 열화과정에 대하여서는 명확한 메카니즘이 보고되지 않았다. 본 논문에서는 부분방전에 의한 고분자 절연재료 내의 공간전하 축적 현상에 대하여 연구하였다. 고분자 재료로는 현재 전력용 케이블에 주로 사용되고 있는 가교 폴리에틸렌(XLPE)를 사용하였으며, 1kHz의 주파수로6kV, 8kV, 10kv 및 11kV로 수시간 부분방전을 발생시킨 후 펄스정전응력법(PEA)으로 공간전하를 측정하였다. 실험결과 부분방전에 의하여 고분자 재료 내에 이종공간전하의 주입이 확인되었으며 따라서 부분방전에 의하여 고분자 재료가 열화되며 이러한 열화에 의한 전자의 방출율의 변화와 같은 고분자 표면의 상태 변화에 의하여 부분방전의 패턴에 지배적인 영향을 미친다. 이러한 공간전하의 축적에 의하여 부분방전 현상에 미치는 영향은 추후 보고할 예정이다.

• 전기의세계
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• v.45 no.3
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• pp.3-15
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• 1996

본 고에서는 케이블 시스템 진단을 위하여, 열화 현상의 확인, 관련된 성질 변화의 측정과 검출방법의 개발 및 운전 지침등에 대해, 관련 문헌에 대한 조사를 토대로 정리하였으며, 이론적인 접근보다는 실제적인 것을 채택하고 케이블 사용자에 적용될 수 있는 방법을 제시하고자 하였다. 진단 시험에 대해서는, 진단법을 다루었거나, 현장이건 아니건 다양한 시험을 고려할 때 진단 시험으로서 정의 -"운전조건에서 케이블이나 액세서리의 사고에 원인이 될 수 있는 열화 현상을 평가하고 찾아내는 것"- 할 수 있다면 본 고에 포함시켰다. 따라서, 사고가 발생되어 교체된 케이블 샘플에 대한 실험실 시험과 현장에서의 비파괴 시험은 모두 진단시험으로 간주하여 정리하였다. 본 고에서는 고전압 OF 케이블과 사출케이블 및 액세서리에 대해 다루었으며, 열화 현상보다는 진단법에 주력하였고 DC 케이블은 제외하였다.이블은 제외하였다.

• Proceedings of the KIEE Conference
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• 2004.05b
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• pp.192-197
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• 2004

전국적인 분포를 갖고 있는 배전망에 유일한 과전압 보호 및 절연보호장치인 피뢰기는 배전계통에서의 사고율을 감소시키는 중요한 역할을 수행한다. 이러한 피뢰기의 수명은 동작횟수의 증가에 의해서 서서히 열화되게 된다. 이러한 열화의 과정은 피뢰기의 저항성 전류가 증가하는 현상과 일치한다. 그러나 배전계통에서 저항성 전류를 검출하기 위한 전압요소에 대한 정보를 얻기가 쉽지않다. 본 논문에서는 이러한 피뢰기의 열화현상을 파악하기 위하여 이론적으로 피뢰기의 열화정도가 고조파의 분석만으로 가능하다는 점을 증명하고 특히 3고조파의 증가와 저항성 전류의 증가가 비례함을 현장에서 수집한 피뢰기의 실증을 통해 입증하였다. 이러한 연구결과를 현장에 적용하여 현장의 가혹한 조건의 전자계영향에도 불구하고 정밀한 피뢰기 진단이 가능하다는 결론에 도달하였다. 결론적으로 본 연구의 결과로 현장의 피뢰기 진단이 간편해지고 효율적으로 이루어 질 수 있음을 실증하였고, 앞으로 배전계통에서의 안정적인 전력공급에 기여할 것으로 기대하고 있다.

• Journal of the Korea Construction Safety Engineering Association
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• s.19
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• pp.30-37
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• 1996

• 레미콘
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• no.12 s.22
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• pp.12-29
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• 1989

• Journal of the Korean Institute of Telematics and Electronics D
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• v.35D no.10
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• pp.60-66
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• 1998

The hot carrier induced performance degradation of 0.8${\mu}{\textrm}{m}$ RF NMOSFET has been investigated within the general framework of the degradation mechanism. The device degradation model of an unit finger gate MOSFET could be applied for the device degradation of the multi finger gate RF NMOSFET. The reduction of cut-off frequency and maximum frequency can be explained by the transconductance reduction and the drain output conductance increase, which are due to the interface state generation after the hot carrier stressing. From the correlation between hot carrier induced DC and RF performance degradation, we can predict the RF performance degradation just by the DC performance degradation measurement.