Displacement measurement in nanometer region and calibration of transducers using combined optical and x-ray interferometer (광/엑스선 복합간섭계를 이용한 나노미터 영역의 변위 측정 및 trnasducer의 비선형 교정)
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- Proceedings of the Korean Society of Precision Engineering Conference
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- 2005.06a
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- pp.515-518
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- 2005