Study on Misfit Dislocations and Critical Thickness in a $Si_xGe_{1-x}$ Epitaxial Film on a Si Substrate
(Si 모재 위의 $Si_xGe_{1-x}$ 박막에서 부정합 전위와 임계두께에 관한 연구)
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- Proceedings of the KSME Conference
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- 2001.06a
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- pp.298-303
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- 2001