The variation of chracteristics induced by $Co^60$ -$\gamma$ ray at the interface and oxide layer of MOS sructure
($Co^60$ -$\gamma$ 선 조사에 따른 MOS구조의 계면 및 산화막내에서의 특성변화)
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- Electrical & Electronic Materials
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- v.1 no.3
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- pp.269-277
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- 1988