근적외선 영상을 이용한 후지사과의 결점 검출에 관한 연구 (I) -결점의 광학적 특성 구명 및 유의파장 선정- (Defect Detection of ‘Fuji’ Apple using NIR Imaging(I) -Optical characteristics of defects and selection of significant wavelelength-)
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- Journal of Biosystems Engineering
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- 제26권2호
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- pp.169-176
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- 2001