• Title/Summary/Keyword: 불량

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A Study of Measuring Yield Rate and Error Rate in Steel Pipe Production using Decision Tree Technique (의사결정트리 기법을 이용한 스틸 파이프 생산 수율 및 불량률 측정에 관한 연구)

  • Kim, Woong-Kyung;Kim, Jong-Wan;Kim, Su-Yeon;Nam, In-Gil
    • Journal of Korea Society of Industrial Information Systems
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    • v.14 no.4
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    • pp.116-127
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    • 2009
  • This research aims to improve the efficiency of production by selecting production configuration with high yield rate and lower error rate based on production history of steel pipe. To achieve this, we identify the properties of various types of MTO(make-to-order) steel pipe products and determine properties affecting yield rate and error rate using decision tree technique. From experimental results, we find out that specification is critical to determine yield rate and error rate of ERW steel pipes with mostly small and medium caliber, and an external diameter range in case of roll benders or spiral steel pipes with mostly large caliber. This research classified and embodied the patterns of yield rate and error rate mathematically by product properties.

Failure Analysis of Ferroelectric $(Bi,La)_4Ti_3O_{12}$ Capacitor in Fabricating High Density FeRAM Device (고밀도 강유전체 메모리 소자 제작 시 발생하는 $(Bi,La)_4Ti_3O_{12}$ 커패시터의 불량 분석)

  • Kim, Young-Min;Jang, Gun-Eik;Kim, Nam-Kyeong;Yeom, Seung-Jin;Hong, Suk-Kyoung;Kweon, Soon-Yong
    • Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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    • 2007.06a
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    • pp.257-257
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    • 2007
  • 고밀도 FeRAM (Ferroe!ectric Random Access Memory) 소자를 개발하기 위해서는 강유전체 물질을 이용한 안정적인 스텍형의 커패시터 개발이 필수적이다. 특히 $(Bi,La)_4Ti_3O_{12}$ (BLT) 강유전체 물질을 이용하는 경우에는 낮은 열처리 온도에서도 균질하고 높은 값의 잔류 분극 값을 확보하는 것이 가장 중요한 과제 중의 하나이다. 불행히도, BLT 물질은 a-축으로는 약 $50\;{\mu}C/cm^2$ 정도의 높은 잔류 분극 값을 갖지만, c-축 방향으로는 $4\;{\mu}C/cm^2$ 정도의 낮은 잔류 분극 값을 나타내는 동의 강한 비등방성 특성을 보인다. 따라서 BLT 박막에서 각각 입자들의 크기 및 결정 방향성을 세밀하게 제어하는 것은 무엇보다 중요하다. 본 연구에서는 16 Mb의 1T/1C (1-transistor/1-capacitor) 형의 FeRAM 소자를 BLT 박막을 적용하여 제작하였다. 솔-젤 (sol-gel) 용액을 이용하여 스핀코팅법으로 BLT 박막을 증착하고, 후속 열처리 공정을 RTP (rapid thermal process) 공정을 이용하여 수행하였다. 커패시터의 하부 전극 및 상부 전극은 각각 Pt/IrOx/lr 및 Pt을 적용하였다. 반응성 이온 에칭 (RIE: reactive ion etching) 공정을 이용하여 커패시터를 형성시킨 후, 32k-array (unit capacitor: $0.68\;{\mu}m$) 패턴에서 측정한 스위칭 분극 (dP=P*-P^) 값은 약 $16\;{\mu}C/cm^2$ 정도이고, 웨이퍼 내에서의 균일도도 2.8% 정도로 매우 우수한 특성을 보였다. 그러나 단위 셀들의 특성을 평가하기 위하여 bit-line의 전압을 측정한 결과, 약 10% 정도의 커패시터에서 불량이 발생하였다. 그리고 이러한 불량 젤들은 매우 불규칙적으로 분포함을 확인할 수 있었다. 이러한 불량 원인을 파악하기 위하여 양호한 젤과 불량이 발생한 셀에서의 BLT 박막의 미세구조를 분석하였다. 양호한 셀의 BLT 박막 입자들은 불량한 셀에 비하여 작고 비교적 균일한 크기를 갖고 있었다. 이에 비하여 불량한 셀에서의 BLT 박막에는 과대 성장한 입자들이 존재하고 이에 따라서 입자 크기가 매우 불균질한 것으로 확인되었다. 또 이러한 과대 성장한 입자들은 거의 모두 c-축 배향성을 나타내었다. 이상의 실험 결과들로부터, BLT 박막을 이용하여 제작한 FeRAM 소자에서 발생하는 불규칙한 셀 불량의 주된 원인은 c-축 배향성을 갖는 과대 성장한 입자의 생성임을 알 수 있었다. 즉 BLT 박막을 이용하여 FeRAM 소자를 제작하는 경우, 균일한 크기의 입자 및 c-축 배향성의 입자 억제가 매우 중요한 기술적 요소임을 알 수 있었다.

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통신서비스 신용불량정보의 공동관리 추진

  • Choe, Yeong-Chan
    • 정보화사회
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    • s.125
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    • pp.58-61
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    • 1998
  • 통신서비스 요금 연체.미납자에 대한 신용정보 공동관리시스템을 한국정보통신진흥협회에 구축하여 동 시스템에 신용불량정보를 집중하고 사업자는 가입자 유치시 동 시스템을 조회하여 신용불량자로 등록되어 있는 자에 대해서는 가입을 제한하도록 한다. 또한 악성 신용불량자에 대해서는 신용정보업자의 전산망에 등록하여 각종 신용거래에 제한을 받게 함으로써 신용정보공동 관리의 실효성을 높여 나갈 방침이다.

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INFORMATION 정부시책: 불량 유아용품 우리 아이를 위협한다! -위험성이 높은 불량 어린이용품 리콜조치

  • 한국전기제품안전협회
    • Product Safety
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    • s.209
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    • pp.16-17
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    • 2011
  • 지식정제부 기술표준원은 5월 가정의 달을 맞이하여 한국제품안전협회 제품 수거를 의뢰하여 지난 4월중 백화점, 대형할인마트 전문매장 등에서 판매중인 완구, 유모차, 보행기등 어린이용품 867개 제품에 대한 안전성 점검을 실시했다.

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논단 - 나무가 숨쉬는 토양 -나무와 토양환경(3)-

  • Park, Hyeon-Jun
    • Landscaping Tree
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    • s.123
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    • pp.46-55
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    • 2011
  • 수목이 토양환경에 의해 피해를 보았을 때 토양 자체의 건조 괴습 문제 등 토양불량과 사람에 의해 복토, 심식되었을 때 문제로 나누어 볼 수 있으며, 공통적으로 토양의 심상중 토양공극 내 수분과 공기의 불균형으로 인하여 발생하는 문제로 볼 수 있다. 이번 연재에서는 토양환경 불량에 대한 여러 가지 예와 병징, 방제법에 대해 살펴보았다.

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하절기 냉각기 및 우사관리

  • 김종환
    • 월간낙농육우
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    • v.17 no.7 s.183
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    • pp.119-121
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    • 1997
  • 원유 관리에 필수 기기인 냉각기는 하절기에 환기 불량, 응축기 청소 불량, 전기사정 악화 등으로 빈번한 고장이 발생한다. 따라서 사전예방 점검을 하여 원인제거를 하여야하며 또한 우사 환기를 적절히 시켜 고온으로 인한 스트레스를 최소화 하여야 한다. 하절기에 낙농가가 알아야 할 냉각기 및 우사관리 요령에 대하여 알아보기로 하자.

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INFORMATION 정부시책: 제품사고를 당했다면 이제 위해조사팀을 찾으세요! -기술표준원 '위해조사팀' 운영으로 위해사고 능동적 대처

  • 한국전기제품안전협회
    • Product Safety
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    • s.208
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    • pp.19-19
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    • 2011
  • 사고조사는 안전사고 발생시 원인을 분석하여 사용자 과실로 인한 사고 인지 불량 및 불법제품에 기인한 것인지 명확하게 파악하는 것으로 이러한 제도를 운영하는 것은 이번이 처음이다. 그동안 기표원은 시판품조사 등 불량 불법제품을 조사하여 조치하는데 힘써왔으나. 사고원인을 분석하여 재발을 막는 것에는 소홀했다는 지적도 받아왔다.

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A study on the Methodology of Extracting the Poor Deprived Districts by Using Geospatial Information (국토정보를 활용한 빈곤·취약지구 추출 방법에 관한 연구)

  • Lee, Hee-Yeon;An, Eun-Kyung
    • Journal of Cadastre & Land InformatiX
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    • v.46 no.2
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    • pp.5-25
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    • 2016
  • The purpose of this study develops the methodology to extract the poor deprived districts using the data from the national spatial data infrastructure portal. Particularly this study tries to select more acute indicators and to test the operability of such indicators. Also this study is focused on the versatile methodology that can be adjusted to incorporate alternative indicators that might be appropriate according to the hierarchy of the spatial unit. The indicator sets are composed of three dimensions: the poor class, the poor old housing, and poor residential neighborhood environment. Each representative indicator is selected based on the characteristics of the poor deprived districts. As a result, at the level of administrative Dong, key indicators for extracting the poor deprived districts are number of recipients of national basic living security per thousand persons and ratio of households living at old detached house. At the level of the national based zip code district, the ratio of buildings built on parcels located at roads below 4m in width, the ratio of small parcels below $60m^2$ and the ratio of poor old buildings are very important indicators. The result of grid analysis by overlaying the coverage of multiple indicators shows that relatively more vulnerable and deprived districts can be extracted at the small sub-district level. This study suggests the possibility to create the high value-added information, using the data from the national spatial data infrastructure portal. This methodology enables policymakers to select the priority target districts of poor deprived district more effectively.

Comparison of Stereoscopic Fusional Area between People with Good and Poor Stereo Acuity (입체 시력이 양호한 사람과 불량인 사람간의 입체시 융합 가능 영역 비교)

  • Kang, Hyungoo;Hong, Hyungki
    • Journal of Korean Ophthalmic Optics Society
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    • v.21 no.1
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    • pp.61-68
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    • 2016
  • Purpose: This study investigated differences in stereoscopic fusional area between those with good and poor stereo acuity in viewing stereoscopic displays. Methods: Stereo acuity of 39 participants (18 males and 21 females, $23.6{\pm}3.15years$) was measured with the random dot stereo butterfly method. Participants with stereo-blindness were not included. Stereoscopic fusional area was measured using stereoscopic stimulus by varying the amount of horizontal disparity in a stereoscopic 3D TV. Participants were divided into two groups of good and poor stereo acuity. Criterion for good stereo acuity was determined as less than 60 arc seconds. Measurements arising from the participants were statistically analyzed. Results: 26 participants were measured to have good stereo acuity and 13 participants poor stereo acuity. In case of the stereoscopic stimulus farther than the fixation point, threshold of horizontal disparity for those with poor stereo acuity were measured to be smaller than the threshold for those with good stereo acuity, with a statistically significant difference. On the other hand, there was no statistically significant difference between the two groups, in case of the stereoscopic stimulus nearer to the fixation point. Conclusions: In viewing stereoscopic displays, the boundary of stereoscopic fusional area for the poor stereo acuity group was smaller than the boundary of good stereo acuity group only for the range behind the display. Hence, in viewing stereoscopic displays, participants with poor stereo acuity would have more difficulty perceiving the fused image at farther distances compared to participants with good stereo acuity.

2D/3D Visual Optical Inspection System for Quad Chip (Quad Chip 외관 불량 검사를 위한 2D/3D 광학 시스템)

  • Han, Chang Ho;Lee, Sangjoon;Park, Chul-Geon;Lee, Ji Yeon;Ryu, Young-Kee;Ko, Kuk Won
    • Journal of the Korea Academia-Industrial cooperation Society
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    • v.17 no.1
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    • pp.684-692
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    • 2016
  • In the manufacturing process of the LQFP/TQFP (Low-profile Quad Flat Package/Thin Quad Flat Package), the requirement of a 3 dimensional inspection is increasing rapidly and a 3D inspection of the shape of a chip has become an important report of quality control. This study developed a 3 dimensional measurement system based on PMP (Phase Measuring Profilometry) for an inspection of the LQFP/TQFP chip and image processing algorithms. The defects of the LQFP/TQFP chip were classified according to the dimensions. The 2 dimensional optical system was designed by the dorm illumination to achieve constant light distribution, In the 3 dimensional optical system, PZT was used for moving 90 degree in phase. The problem of 2 ambiguity was solved from the measured moir? pattern using the ambiguity elimination algorithm that finds the point of ambiguity and refines the phase value. The proposed 3D measurement system was evaluated experimentally.