수렴성 빔 전자회절법을 이용한 $SiC_p/Al$ 복합재에서의 계면 생성물의 상분석
(Phase Identification of the Interfacial Reaction Product of $SiC_p/Al$ Composite Using Convergent Beam Electron Diffraction Technique)
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- Applied Microscopy
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- 제26권1호
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- pp.95-104
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- 1996