• Title/Summary/Keyword: 반도체센서

Search Result 508, Processing Time 0.027 seconds

The fabrication and evaluation of CdS sensor for diagnostic x-ray detector application (진단 X선 검출기 적용을 위한 CdS 센서 제작 및 성능 평가)

  • Park, Ji-Koon;Lee, Mi-Hyun;Choi, Young-Zoon;Jung, Bong-Zae;Choi, Il-Hong;Kang, Sang-Sik
    • Journal of the Korean Society of Radiology
    • /
    • v.4 no.2
    • /
    • pp.21-25
    • /
    • 2010
  • Recently, various semiconductor compounds as radiation detection material have been researched for a diagnostic x-ray detector application. In this paper, we have fabricated the CdS detecton sensor that has good photosensitivity and high x-ray absorption efficiency among other semiconductor compounds, and evaluated the application feasibility by investigating the detection properties about energy range of diagnostic x-ray generator. We have fabricated the line voltage selector(LCV) for a signal acquisition and quantities of CdS sensor, and designed the voltage detection circuit and rectifying circuit. Also, we have used a relative relation algorithm according to x-ray exposure condition, and fabricated the interface board with DAC controller. Performance evaluation was investigated by data processing using ANOVA program from voltage profile characteristics according to resistive change obtained by a tube voltage, tube current, and exposure time that is a exposure condition of x-ray generator. From experimental results, an error rates were reduced according to increasing of a tube voltage and tube current, and a good properties of 6%(at 90 kVp) and 0.4%(at 320 mA) ere showed. and coefficient of determination was 0.98 with relative relation of 1:1. The error rate according to x-ray exposure time showed exponential reduction because of delayed response velocity of CdS material, and the error rate has 2.3% at 320 msec. Finally, the error rate according to x-ray dose is below 10%, and a high relative relation was showed with coefficient of determination of 0.9898.

Development of Transportation Robots in Semiconductor Logistics (반도체 물류 이송로봇의 개발)

  • Woohyeon Hwang;Iljun Jang;Nayun Hwang;Seungbyeong Chae;Seongyun Kim
    • Proceedings of the Korean Society of Computer Information Conference
    • /
    • 2024.01a
    • /
    • pp.307-309
    • /
    • 2024
  • 세계적으로 물류 자동화 시장은 2026년까지 약 44조원으로 예상되며, 연평균 10.6%의 성장률을 기록할 것으로 예측된다. 특히 국내 시장은 2025년까지 연평균 성장률 11.5%로 1조원 이상으로 전망되고 있다. 2025년까지 물류 자동화 시장은 270억 달러로 급성장할 것으로 예상되며, 반도체 분야에서 로봇이 상품 입고, 보관, 상품 피킹, 분류, 출고 작업을 담당하는 트렌드가 강조된다. 본 논문은 반도체 물류 분야를 대상으로 작은 크기와 민첩성을 갖춘 로봇을 개발하여 작업 공간을 효율적으로 활용하고 인력을 최소화하려는 목적이다. 수직 및 수평 로봇은 효율적인 자동화 시스템을 제공하며, UI를 사용하여 AGV, 선반, 스카라 로봇을 하나의 통합 시스템으로 개발하고자 한다. 특히 코드 인식, 초음파 센서, 아두이노 MCU, 스카라 로봇, AGV 등을 활용한 로봇 시스템을 개발하여 반도체 물류 작업을 효율적으로 수행하고자 한다. 다양한 분야에서 활용 가능한 스카라 로봇을 개발하기 위해 마이크로 스텝과 풀리, 타이밍 벨트를 이용한 구동 방식 등을 채택한다. 반도체 물류 센터에서의 자동화는 물류 공간의 확대와 인건비 절감을 기대할 수 있으며, 로봇 및 드론을 활용하여 인건비 절감과 효율성 향상을 통해 기업 비용 절감에 기여할 것으로 예상된다.

  • PDF

저압 광산란 입자측정센서 개발 및 성능 평가

  • Mun, Ji-Hun;U, Dae-Gwang;Kim, Myeong-Jun;Yun, Jin-Uk;Jeong, Hyeok;Gwon, Yong-Taek;Gang, Sang-U;Yun, Ju-Yeong;Sin, Yong-Hyeon;Kim, Tae-Seong
    • Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
    • /
    • 2010.02a
    • /
    • pp.327-327
    • /
    • 2010
  • 디스플레이 및 반도체 산업이 발전함에 따라 회로의 선폭이 점차 줄어들고 있으며, 이에 따라서 대표적인 오염원이 되는 오염입자의 임계 직경(critical diameter) 또한 작아지고 있다. 현재 반도체 및 디스플레이 산업에서 사용되는 측정방법은 레이저를 이용하여 공정 후 표면에 남아 있는 오염입자를 측정하는 ex-situ 방법이 주를 이루고 있다. Ex-situ 방법을 이용한 오염입자의 제어는 웨이퍼 전체를 측정할 수 없을 뿐만 아니라 실시간 측정이 불가능하기 때문에 공정 모니터링 장비로 사용이 어려우며 오염입자와 공정 간의 상관관계 파악에도 많은 제약이 따르게 된다. 이에 따라 저압에서 in-situ 방법을 이용한 실시간 오염입자 측정 기술 개발이 요구되고 있다. 본 연구에서는 저압 환경에서 실시간으로 입자를 모니터링 할 수 있는 장비를 입자의 광산란 원리를 이용하여 개발하였다. 빛이 입자에 조사되면 크게 산란 및 흡수현상이 일어나게 되는데, 이 때 발생하는 산란광은 입자의 크기와 관계가 있으며 Mie 이론으로 널리 알려져 있다. 현재 이를 이용한 연구가 국내 및 국외에서 진행되고 있다. 수 백 nm 대의 입자를 측정하기 위해서는 빛의 강도가일정 수준 이상 되어야 하며, 이를 측정할 수 있는 수신부의 감도 또한 중요하다. 본 연구에서는 빛의 직경을 100 um 이하까지 집속할 수 있는 광학계를 상용 프로그램을 이용하여 설계하였으며, 강도가 약한 산란광 측정을 위하여 노이즈 제거 필터링 기술 등이 적용된 수신부 센서를 개발하여 전체 시스템에 적용하였다. 교정은 상압과 저압에서 수행 하였으며 약 5%의 측정효율로 최소 300 nm 이하의 입자까지 측정이 가능함을 확인 하였다. 또한, 타사의 실시간 입자 측정 센서와의 비교 실험을 통하여 성능평가를 수행하였다. 기존 광산란 방식 센서보다 높은 성능의 센서를 개발하기 위하여 추후 연구를 진행할 계획이며, 약 200 nm 이하의 입자까지 측정이 가능할 것으로 기대된다.

  • PDF

Measurement of effective cure shrinkage of EMC using dielectric sensor and FBG sensor (유전 센서 및 광섬유 센서를 이용한 EMC 유효 경화 수축 측정)

  • Baek, Jeong-hyeon;Park, Dong-woon;Kim, Hak-sung
    • Journal of the Microelectronics and Packaging Society
    • /
    • v.29 no.4
    • /
    • pp.83-87
    • /
    • 2022
  • Recently, as the thickness of the semiconductor package becomes thinner, warpage has become a major issue. Since the warpage is caused by differences in material properties between package components, it is essential to precisely evaluate the material properties of the EMC(Epoxy molding compound), one of the main components, to predict the warpage accurately. Especially, the cure shrinkage of the EMC is generated during the curing process, and among them, the effective cure shrinkage that occurs after the gelation point is a key factor in warpage. In this study, the gelation point of the EMC was defined from the dissipation factor measured using the dielectric sensor during the curing process similar with actual semiconductor package. In addition, DSC (Differential scanning calorimetry) test and rheometer test were conducted to analyze the dielectrometry measurement. As a result, the dielectrometry was verified to be an effective method for monitoring the curing status of the EMC. Simultaneously, the strain transition of the EMC during the curing process was measured using the FBG (Fiber Bragg grating) sensor. From these results, the effective cure shrinkage of the EMC during the curing process was measured.

Optical and electrical properties of AZO thin films deposited on OHP films (OHP 필름위에 증착된 AZO 반도체 박막의 광학 및 전기적인 특성 분석)

  • Kim, Kyoung-Bo;Lee, Jongpil;Kim, Moojin
    • Journal of Convergence for Information Technology
    • /
    • v.10 no.9
    • /
    • pp.28-34
    • /
    • 2020
  • In this paper, an optical sensor based on an AZO semiconductor material is fabricated on an OHP film with high transmittance, and the characteristics of the optical element and the properties of the semiconductor material are described. In order to realize a flexible optical device, which is a major issue in the field of near-electronic devices, a transparent and bendable OHP film was used as a substrate. In addition, ITO, which is used for mass production as a transparent electrode and a semiconductor material, is expensive due to the scarcity of indium. Therefore, it is necessary to find a material that can replace it. The optical and electrical properties of the Au/Al/AZO/OHP structure are implemented to evaluate whether AZO is possible. It was found that devices and materials had no characteristic change by bending, and these results provide a possibility for application to a next-generation device. However, it is necessary to remove fine scratches on the surface of the OHP film, as well as optimized devices based on materials and structures that can improve the photocurrent.

Development of hyperspectral image-based detection module for internal defect inspection of 3D-IC semiconductor module (3D-IC 반도체 모듈의 내부결함 검사를 위한 초분광 영상기반 검출모듈 개발)

  • Hong, Suk-Ju;Lee, Ah-Yeong;Kim, Ghiseok
    • Proceedings of the Korean Society for Agricultural Machinery Conference
    • /
    • 2017.04a
    • /
    • pp.146-146
    • /
    • 2017
  • 현대의 스마트폰 및 태블릿pc등을 가능하게 만든 집적 기술 중의 하나는 3차원 집적 회로(3D-IC)와 같은 패키징 기술이다. 이러한 첨단 3차원 집적 기술은 메모리집적을 통한 대용량 메모리 모듈 개발뿐만 아니라, 메모리와 프로세서의 집적, high-end FPGA, Back side imaging (BSI) 센서 모듈, MEMS 센서와 ASIC 집적, High Bright (HB) LED 모듈 등에 적용되고 있다. 3D-IC의 3차원 모듈 제작 시에는 기존에 발생하지 않았던 여러 가지 파괴 모드들이 발생하고 있는데 Thermal/Photonic Emission 장비 등 기존의 2차원 결함분리 (Fault Isolation) 기술로는 첨단의 3차원 적층 제품들에서 발생하는 불량을 비파괴적으로 혹은 3차원적으로 분리하는 것이 불가능하므로, 비파괴 3차원 결함 분리 기술은 향후 선행 제품 적기 개발에 매우 필수적인 기술이다. 본 연구는 3D-IC 반도체의 비파괴적 내부결함 검사를 위하여 가시광선-근적외선 대역(351nm~1770nm)의 InGaAs (Indium Galium Arsenide) 계열 영상검출기 (imaging detector)를 사용하여 분광 시스템 광학 설계를 통한 초분광 영상 기반 검출 모듈을 제작하였다. 제작된 초분광 영상 기반 검출 모듈을 이용하여 구리 회로 위에 실리콘 웨이퍼가 3단 적층 된 반도체 더미 샘플의 초분광 영상을 촬영하였으며, 촬영된 초분광 영상에 대하여 Chemometrics model 기반의 분석기술을 적용하여 실리콘 웨이퍼 내부의 집적 구조에 대한 검사가 가능함을 확인하였다.

  • PDF

A Study of the Market Trend and Policy Implications on Automotive Semiconductor (차량용 반도체 시장 동향 및 대응 방안)

  • Chun, Hwang-Soo
    • Proceedings of the Korean Institute of Information and Commucation Sciences Conference
    • /
    • 2015.05a
    • /
    • pp.783-785
    • /
    • 2015
  • Automotive Semiconductor revenue grew 3.9% in 2013 to $26.7 billion, driven by strength in LED lighting, ASSPs and analog ICs. Renesas Electronics held onto the No.1 spot despite a revenue decline, while Freescale Semiconductor, NXP, Texas Instruments and Robert Bosch made strong gains. Global Semiconductor manufacturers are paying attention to the Korean auto market, which reflects the reality of the local auto industry. The local industry has a long way go in the automotive semiconductor sector, even though it has grown to become the six-largest in the world. The reason for global semiconductors companies' interest in the local market lies in the fact that are the use of semiconductors in cars is on the rise, since smart and eco-friendly cars are becoming popular.

  • PDF

A Visibility Sensor using a 905nm Pulsed Mode Laser (905nm 펄스 레이저를 이용한 시정계 센서)

  • 김광웅;전호경;송동혁;박정호
    • Proceedings of the Optical Society of Korea Conference
    • /
    • 2002.07a
    • /
    • pp.210-211
    • /
    • 2002
  • 산업의 발전과 급속한 대도시화는 환경오염이라는 새로운 사회적 이슈를 발생시켰다. 시정(Visual Range)이란 대기의 혼탁도를 나타내는 기상요소로서, 정상적인 시각을 가진 사람이 목표를 식별할 수 있는 최대거리를 의미한다 시정은 대기오염을 판단할 수 있는 척도이며, 항만 및 공항 등에서는 인명 및 재산과 직접적인 관계를 갖고 있어, 최근 시정 측정에 대한 중요성이 높아지고 있다. 본 논문에서는 배경 잡음에 좋은 특성을 가지며, 보디- 정확한 시정 측정을 위하여 905nm 펄스 모드 반도체 레이저 다이오드를 이용한 시정계 센서를 제작하여 실험하였다. (중략)

  • PDF

Research about manufacture of NH$_3$ sensor that use semiconductor metal oxides (반도체 금속산화물을 이용한 NH$_3$센서의 제조에 관한 연구)

  • Kim, Han-Su;Kim, Sun-Tae;Lee, Chul-Hyo;Kim, Heon;Han, Sang-Do
    • Proceedings of the Korea Air Pollution Research Association Conference
    • /
    • 2002.11a
    • /
    • pp.123-124
    • /
    • 2002
  • 최근 인간의 생활환경에 존재하는 유해가스 및 대기환경에 대한 관심이 고조되면서 환경유해가스를 손쉽게 감지할 수 있는 센서의 필요성이 중요하게 인식되고 있다. 그 중 암모니아 가스는 생활환경 내에 존재하는 악취성분일 뿐만 아니라 냉각기의 냉매로 사용되는 가스로써 대기 중 배출허용농도가 50ppm으로 알려져 있다. (중략)

  • PDF

RFID 기술 및 표준화 동향

  • 표철식;채종석
    • TTA Journal
    • /
    • s.95
    • /
    • pp.37-47
    • /
    • 2004
  • RFID 시스템은 물품 등 관리할 사물에 태그를 부착하고 전파를 이용하여 사물의 정보(Identification) 및 주변 환경정보를 인식하여 각 사물의 정보를 수집, 저장, 가공 및 추적함으로써 사물에 대한 측위, 원격처리$\cdot$관리 및 사물간 정보교환 등 다양한 서비스를 제공하며, 칩, 태그, 리더, 미들웨어 및 응용서비스 플랫폼으로 구성된다. 이러한 RFID 기술은 반도체 기술의 지속적인 발전에 의한 컴퓨팅 능력의 급성장과 통신망 인프라의 융합화를 기반으로 이제까지의 사람 중심(anyone) 정보화에서 사물을 중심(anything)으로 정보화의 지평을 확대시킬 수 있는 핵심기술로서 부각되고 있으며, 10m 이내의 사물 정보화를 위한 u-센서(유비쿼터스 센서) 네트워크로 발전될 전망이다. 또한 현재 완료단계인 ISO/IEC 국제 표준제정이 완성되면 초기의 물류$\cdot$유통 분야에서 전 산업분야로 확대되어 사용될 것이다.

  • PDF