경수형 원자로의 운전과 안전성 해석을 위해 열수력학적 모형을 개발하는 것이 하나의 중요한 과제이다. 특히, 2상류의 열수력학적 모형을 개발하기 위해서는 기포율, 액체막 두께, 유동 영역과 같은 중요한 변수들을 실제로 측정한 값이 필요하다. 본 연구의 목적은 초음파 Pulse-echo 방법을 이용하여 액체 두께를 실험적으로 측정하고, 이론치와 비교 분석하여 (1) 관벽의 두께, (2) 초음파의 주파수, (3) 관벽의 재질 등이 액체막 두께 측정에 미치는 영향을 분석하는 데에 있다. 평판협 (Plate-type)과 관(Tube-type)으로 된 시험관을 이용하여 수평으로 놓인 물-공기의 층류계 (a horizontal airwater stratified system)를 만들어 일련의 액체막 두께 측정 실험을 수행하였다. 시험관의 벽 두께와 초음파 Pulse-echo 의 주파수를 변화시키면서 액체막 두께 측정을 반복하였다. 또한, 관벽의 acoustic impedance가 초음파 Pulse-echo 방법으로 액체막 두께를 측정할 때, 어떠한 영향을 주는가도 아울러 파악하기 위해서 스텐레스 강과 폴리아크릴 (Polyacrylate) 등 재질이 다른 두 개의 격리봉 (Standonff rod) 을 사용하여 액체막 두께를 측정하였다. 이렇게 하여 얻은 실험 결과를 제시하고 실제로 측정한 액체막 두께와 비교 분석하였다.
저온 동시 소성 세라믹(LTCC, Low Temperature Co-firing) 기술 중에서 테이프 캐스팅(tape casting)은 얇고 균일한 세라믹 그린 쉬트를 연속 성형할 수 있으며 성형된 쉬트의 밀도, 표면상태, 두께제어 등이 매우 중요하다. 얇고 균일한 세라믹 그린 쉬트를 제작하기 위해서 슬러리의 분산성과 레오로지 특성은 매우 중요한 요소이며 첨가되는 유기물 첨가제들의 종류와 함량비는 슬러리의 분산성과 점도에 큰 영향을 미친다. 본 연구에서는 유기물 첨가제의 종류와 함량에 따른 슬러리의 점도와 그린 쉬트의 밀도 및 두께 제어에 미치는 영향을 고찰하였다. 바인더로는 acryl, polyvinyl 계를 사용하였으며, 가소제는 glycol, phatalate 계를 사용하였다. 각각 2 종류의 바인더와 가소제의 함량에 따른 레올로지 거동과 그런 쉬트의 밀도를 측정하였다. 각 조성별로 준비된 슬러리를 사용하여 테이프 캐스팅 방법으로 제작된 그린 쉬트의 두께를 측정하여 유기물 첨가제 조성이 그린 쉬트의 두께제어에 미치는 영향을 평가하였다.
Pulsed DC magnetron sputter 진공 웹코팅 연속증착기를 사용하여 PET 또는 PEN 기판 위에 Al2O3 가스 배리어 박막을 형성 하였다. 주사전자현미경 측정으로 표면을 분석하였고, PERMATRAN-W3/33을 사용하여 투습률 값을 결정하였다. PEN과 PET 기판위의 가스 배리어 막 모두 O2 분압이 증가 할수록 투습률이 증가하였다. O2 분압이 증가함에 따라 결정립들 사이에 크랙이 발생하여 투습률값에 영향을 미치는 것을 확인하였다. PET 보다 PEN 기판위에 증착막이 더 O2분압이 증가할수록 크랙이 증가하였다. PET 위에 SiO2, SiOC 및 SiON 박막을 증착하여 SiO2는 두께에 따른 변화를 SiOC와 SiON는 부분압의 변화에 따른 투습률값과 투과도값을 측정하였다. SiO2 박막 두께가 500 nm일 때 최소의 투습률인 6.63 g/m2/day를 얻었고, SiO2 박막 두께가 $1{\mu}m$ 일 때 투습률값이 9.46 g/m2/day로 증가하였다. 투과도값은 두께가 증가할수록 감소하는 것을 보였다. 이러한 결과는 투습률값이 두께 변화에 따른 영향보다 표면의 결정립들의 영향에 더 민감함을 알 수 있었다. 부분압이 $6.6{\times}10^{-4}Torr$일 때 SiOC와 SiON의 최소의 투습률이 각각 7.85 g/m2/day 이고 8.1 g/m2/day 이며 SiOC 박막의 투습률 보다 작았다.
목적: 본 연구는 하부구조물과 축성된 도재의 두께 차이에 따른 색상의 차이를 비교연구하여 보고자 함이다. 연구 재료 및 방법: 금속하부구조물과 완전도재 하부구조물위에 0.5 mm 간격으로 도재의 두께를 다르게 축성을 한 후에 spectrophotometer를 이용하여, 색상을 측정하였다. 이후 측색값과 ${\Delta}E*$값을 통계학적으로 비교 분석하였다. 결과: 도재의 두께가 증가함에 따라 명도가 감소하였다(P < 0.05). 세라믹 하부구조물의 경우 축성된 도재의 두께가 증가할수록 $a^*$값이 감소였으나(P < 0.05), 두께는 $b^*$값에 유의한 영향을 주지 않았다. 도재 두께 차이가 0.5 mm 이하일 경우 ${\Delta}E*$값이 1이하였다. 결론: 하부구조물의 종류에 따라 차이가 있으나, 도재의 두께가 색상에 영향을 주는 요소이며, 두께에 따른 색조 변화 양상의 인지를 통하여, 임상에서 도재 두께변화를 이용한 색상조절에 도움이 될 것이라 사료된다.
본 연구에서는 선 자세에서 팔굽관절 각도에 따른 악력과 위팔노근의 두께 변화를 확인하여 팔굽관절 각도가 악력에 미치는 영향을 알아보고자 하였다. 연구를 위해 건강한 대학생 30명을 선별한 후, 선 자세에서 팔굽관절 $0^{\circ}$, $90^{\circ}$, $135^{\circ}$ 굽힘을 취하게 하고 각각의 최대악력과 위팔노근 두께를 전자악력계와 초음파 영상 진단 장비를 이용하여 측정하였다. 그 결과 남자 대학생과 여자대학생 모두 팔굽관절 각도가 $0^{\circ}$일 때 악력이 가장 컸으며, 각도가 증가할수록 악력이 감소하였으나, 통계적으로 유의미한 차이는 없었다(p<.05). 남자대학생과 여자대학생 모두 팔굽관절 각도가 $0^{\circ}$일 때 위팔노근의 두께가 가장 작았으며, 각도가 증가할수록 위팔노근의 두께가 증가하였으며 통계적으로 유의미한 차이가 있었다(p<.05). 본 연구의 결과를 통해 팔굽관절 각도변화가 악력에는 큰 영향을 미치지 않으나, 위팔노근의 두께에는 영향을 미친다는 것을 알 수 있었다.
본 연구에서는 Oxide 두께가 각각 4, 6 nm인 Symmetric NMOSFET의 전기적 특성 분석에 관한 연구를 진행하였다. 게이트 전압에 따른 Drain saturation current (IDSAT), Threshold Voltage(VT) 및 드레인 전압에 따른 Off-states 특성 변화를 분석하였다. 소자 측정 결과 oxide 두께가 4 nm인 경우 Vt는 0.3 V, IDSAT은 73 ${\mu}A$ (@VD=0.05)로, oxide 두께가 6 nm인 경우 Vt는 0.65 V, IDSAT은 66 ${\mu}A$ (@VD=0.05)로 각각 측정되었다. 이는 oxide 두께가 얇은 경우 게이트 전압 인가 시 Electric field 증가에 따른 것으로 판단된다. 또한 드레인 전압 인가에 따른 소자 특성 분석 결과 oxide 두께가 4nm인 경우 급격한 Gate leakage 증가를 보였으며, 이에 따라 Off-state에서의 leakage current가 증가함을 확인하였다. 본 연구는 Oxide 두께에 따른 MOSFET 소자의 전기적 특성 분석을 위해 진행되었으며, 상기 결과와 같이 oxide 두께 가변은 Idsat, Vt, leakage current 등의 주요 파라미터에 영향을 주어 NMOSFET 소자의 전기적 특성을 변화시킴을 확인하였다.
우물두께가 각각 1.5, 3.0, 4.5, 6.0 nm이고 장벽두께가 7.5 nm로 일정한 10 주기의 In0.15Ga0.8SN/GaN 다중 양자우물 구조(MQW)의 구조적 특성변화를 HRXRD(high resolution X-ray diffraction)를 이용하여 조사하였다. 구조적 특성변화를 살펴보기 위해 GaN (0002) 회절면의 ω/2θ-scan과 ω-scan 그리고 GaN (10-15) 역격자점 주위의 산란강도 분포도를 측정하였다. 우물두께가 증가할수록 시료의 평균변형률이 증가하였고, 우물두께가 1.5, 3.0, 4.5 nm인 MQW는 GaN 에피층과 격자정합을 이루며 성장된 반면 6.0 nm인 시료에서는 격자이완이 나타나 결정성이 저하된 것을 확인할 수 있었다. (그림 1) 따라서 본 연구에서 사용한 시료에서 6.0 nm의 우물두께가 격자이완의 임계두께임을 알 수 있었다. PL(photoluminescence) 스펙트럼 결과를 통하여 6.0 nm 우물두께의 시료가 다른 시료에 비하여 상대발광강도가 낮아지는 것을 관찰하였으며 이것은 XRD를 이용한 시료의 결정성 변화와 잘 일치하였다. (그림 2) 따라서 PL 발광강도는 격자이완에 의하여 생성된 결함에 의하여 영향을 받는 것을 알 수 있었다.
비대칭 이중게이트 MOSFET는 다른 상하단 게이트 산화막 두께를 갖는다. 상하단 게이트 산화막 두께 비에 대한 문턱전압이하 스윙 및 전도중심의 변화에 대하여 분석하고자한다. 문턱전압이하 스윙은 전도중심에 따라 변화하며 전도중심은 상하단의 산화막 두께에 따라 변화한다. 비대칭 이중게이트 MOSFET는 문턱전압이하 스윙의 저하 등 단채널효과를 감소시키기에 유용한 소자로 알려져 있다. 포아송방정식의 해석학적 해를 이용하여 문턱전압이하 스윙을 유도하였으며 상하단의 산화막 두께 비가 전도중심 및 문턱전압이하 스윙에 미치는 영향을 분석하였다. 문턱전압이하 스윙 및 전도중심은 상하단 게이트 산화막 두께 비에 따라 큰 변화를 나타냈다. 특히 하단 게이트 전압은 문턱전압이하 스윙에 큰 영향을 미치며 하단게이트 전압이 0.7V 일 때 $0<t_{ox2}/t_{ox1}<5$의 범위에서 문턱전압이하 스윙이 약 200 mV/dec 정도 변화하는 것을 알 수 있었다.
본 연구는 깔짚 두께가 한우의 사료섭취량, 혈액성상 및 바닥 환경에 미치는 영향을 검토하기 위해 수행되었다. 사료 섭취량은 깔짚의 두께가 얇은 것보다 두꺼울 때 증가되는 경향을 보였다. 깔짚 두께의 증가는 혈중 total protein, HDL-cholesterol, LDL-cholesterol 및 GGT 농도에 긍정적인 영향을 미쳤다. 깔짚의 수분 함량 및 대장균수는 깔짚의 두께 10 cm 보다 15 및 20 cm에서 뚜렷하게 낮은 결과를 보였다. 따라서 한우의 건강과 생산성 향상을 위해서는 깔짚의 두께는 20 cm 정도가 이상적이며, 최소한 깔짚의 두께는 15 cm 이상을 유지하는 것이 바람직한 것으로 판단된다.
저장 중 단감은 과피 및 과육의 변색 발생으로 인한 품질저하가 심각하게 발생하고 있는데, 아직까지 이를 방지하기 위한 원인 규명은 매우 미흡한 실정이다. 이에 본 연구에서는 단감의 재배지, 수확시기, 크기, 예조기간, 저장온도, 저장기간, 포장재의 두께 등을 달리하여 저장하면서 처리조건에 따른 단감 과육의 갈변 발생 관련성을 조사하였다. 단감의 변색발생 증상은 저장 1개월 이후부터 일부 나타나기 시작하여 저장기간이 경과할수록 심하였다. 단감의 갈변 발생률 및 갈변 정도를 실험 처리구별로 살펴보면 과수원, 수확시기, 예조기간, 저장온도, 포장재의 두께, 포장 내 가스조성에 따라 차이를 보였는데 단감의 수확시기가 늦을수록, 수확후 예조기간이 짧을수록, 저장을 위해 사용한 포장필름의 두께가 얇을수록 갈변발생정도가 심하였다. 또한 단감의 과수원에 따라서도 갈변의 발생률이 차이를 보여 동일지역이더라도 재배조건에 의하여서도 영향을 받는 것으로 나타났다. 이와 같은 결과를 종합하여 보면 단감 과육의 갈변발생은 수확 전 및 수확 후 인자들의 단독적인 영향이기보다는 복합적인 영향에 의한 것으로 추정되었다.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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