Comparative Analysis of PBTI Induced Device Degradation in Junctionless and Inversion Mode Multiple-Gate MOSFET (PBTI에 의한 무접합 및 반전모드 다중게이트 MOSFET의 소자 특성 저하 비교 분석)
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- Journal of the Korea Institute of Information and Communication Engineering
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- v.17 no.1
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- pp.151-157
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- 2013