• Proceedings of the Korean Information Science Society Conference
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• 1999.10b
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• pp.545-547
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• 1999

본 논문에서는 불량 하드디스크 드라이브의 수리판정 자동화를 위해 필요한 하드디스크 드라이브(Hard Disk Drive, HDD) 결함이 분포패턴의 분류에 관한 연구 결과를 소개한다. HDD 제조공정에서는 테스트 진행중 검출된 결함에 관한 정보를 HDD 내부에 기록한다. 불량으로 판별된 HDD는 내부에 기록된 결함의 분포를 관찰한 후, 불량의 종류 및 그에 따르는 처리방안을 결정한다. 본 논문에서는 효율적인 결함분포 패턴의 특징추출을 위해, 하드디스크의 물리적 특성에 대한 분석을 바탕으로 극좌표(Polar Coordinates) 방식으로 표현된 결함 위치데이터를 직교좌표(Cartesian Coordinates)로 변환한다. 그리고 디스크 상의 두 동심원 사이의 공간을 정해진 회전각별로 등분한 후, 나누어진 구간별로 결함 발생빈도 히스토그램(Histogram) 분석을 수행하여 결함분포의 패턴을 분류하는 알고리즘을 제시한다. 설계된 알고리즘은 실제 HDD 제조공정에서 발생한 불량 HDD Set을 대상으로 적용한 결과, 그 효용성이 검증되었다.

• Journal of The Institute of Information and Telecommunication Facilities Engineering
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• v.2 no.1
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• pp.71-77
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• 2003

본 논문에서는 불량 하드디스크 드라이브의 수리판정 자동화를 위해 필요한 하드디스크 드라이브(Hard Disk Drive, HDD) 결함의 분포패턴의 분류에 관한 연구 결과를 소개한다. HDD 제조공정에서는 테스트 진행 중 검출된 결함에 관한 정보를 HDD 내부에 기록한다. 불량으로 판별된 HDD는 내부에 기록된 결함의 분포론 관찰한 후, 불량의 종류 및 그에 따른 처리방안을 결정한다. 본 논문에서는 효율적인 결함분포 패턴의 특징추출을 위해, 하드디스크의 물리적 특성에 대한 분석을 바탕으로 극좌표 (Polar Coordinates) 방식으로 표현된 결함 위치 데이터를 직교좌표(Cartesian Coordinates)로 변환한다. 그리고 디스크 상의 두 동심원 사이의 공간을 정해진 회전각별로 등분한 후, 나누어진 구간별로 결함 발생빈도 히스토그램 (Histogram) 분석을 수행하여 결함분포의 패턴을 분류하는 알고리즘을 제시한다. 설계된 알고리즘은 실제 HDD 제조공정에서 발생한 불량 HDD Set을 대상으로 적용한 결과, 그 효용성이 검증되었다.

• Proceedings of the Korean Society of Marine Engineers Conference
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• 2011.06a
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• pp.185-185
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• 2011

CNCO-W 케이블의 절연결함 형태의 추정을 위해 곡률반경은 10 ${\mu}m$의 침(needle) 및 트래킹(tracking) 결함을 모의하고 부분방전 펄스의 위상분포를 분석하였다. 트래킹 결함에서는 $40^{\circ}{\sim}120^{\circ}$ 및 $200^{\circ}{\sim}285^{\circ}$에 분포하였으며, 침 결함과 비교하여 트래킹 결함에서는 펄스수가 증가하였으며, 정극성에서 넓게 분포하였다.

• Proceedings of the Korean Vacuum Society Conference
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• 1999.07a
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• pp.42-42
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• 1999

본 연구에서는 극 저 에너지 이온 주입에 관한 연구를 위하여 새로이 제안된 PLDAM(phenomenological local damage accumulation model)을 효과적인 분자동역학 이온 주입 분포 계산 방법(highly efficient molecular dynamics (MD) schemes)에 적용하여 극 저 에너지 이온 주입에 관하여 연구하였다. PLDAM은 셀에 축적된 에너지와 이온 발생 순서(history of recoil event) 및 열 전도를 고려하여 실리콘 자기 이완과 재결합을 고려하고 있다. 효과적인 분자동역학 이온 주입방법으로는 MDRANGE code를 사용하였다. 국부적인 격자결함을 고려하지 않은 MDRANGE의 결과는 불순물 분포의 실험치와 꼬리 부분에서 많은 차이를 보여주었다. 그러나 본 연구에서 사용된 국부적인 격자결함 축적을 고려한 MDRANGE의 결과는 극 저 에너지 이온 주입 실험치와 잘 일치하였다. 또한 본 연구에서는 <100> 실리콘 기판 위의 0.1$\mu\textrm{m}$$\times$0.1$\mu\textrm{m}$ 영역에 도즈에 해당하는 이온만큼을 주입하여 불순물 분포를 계산하였다. 붕소와 비소의 경우에, 도즈와 이온주입 에너지가 증가하에 따라서 국부적으로 축적된 격자결함이 불순물의 분포에 미치는 영향이 커지는 것을 알 수 있었다. 특별히 이온 주입 에너지와 함께 무관하게 도즈 1014/cm2 이상에서는 국부적으로 축적된 격자 결함이 불순물의 분포에 크게 영향을 미치는 것으로 나타났다.

• Korean Journal of Crystallography
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• v.14 no.2
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• pp.84-92
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• 2003

The fast pulling is easy to modify the distribution of grown-in defects toward fine size, which can be readily removed by additional treatment. In this experiment, The fast pulled crystals with high pulling late over 1.0 mm/min were grown and their grown-in defect distributions were investigated. In our recent developments in the growth of Cz-Si, it could be found that the cooling rate in a specific temperature range and the uniformity of temperature gradient at solid/liquid interface are more important for the formation of grown-in defect than the pulling rate itself. We analyzed these cooling rates and temperature gradients for the various fast pulled crystals and compared them to the observed formation behavior of the grown-in defects. The effective factor (Ω) for the void defect formation was introduced and it could explain the radial distribution of void defects in the fast-pulled crystals effectively.

• Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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• 2004.11a
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• pp.285-288
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• 2004

탄화규소 기판의 에피 박막결함으로는 dislocation, micropipe, pin-hole 및 에피층 표면의 여러 가지 결함들이 있다. 이러한 결함들이 탄화규소 쇼트키 다이오드의 항복전압과 어떠한 상관관계가 존재하는지 알아 보기 위해 탄화규소 쇼트키 다이오드를 제작하고, 제작된 소자의 항복전압을 측정하였다. 에피 박막내의 결함 분포를 알아보기 위해 항복전압 측정후 KOH 용액을 이용한 SiC의 에칭을 수행하였으며, 제작된 여러소자들에 대해 항복전압의 분포도와 결함 분포도를 작성, 비교 관찰하였다.

• Journal of Korea Multimedia Society
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• v.13 no.8
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• pp.1115-1127
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• 2010

In order to increase the productivity in manufacturing TFT-LCD(thin film transistor-liquid crystal display), it is essential to classify defects that occur during the production and make an appropriate decision on whether the product with defects is scrapped or not. The decision mainly depends on classifying the defects accurately. In this paper, we present an effective classification method for film defects acquired in the panel production line by analyzing the intensity distribution and shape feature of the defects. We first generate a binary image for each defect by separating defect regions from background (non-defect) regions. Then, we extract various features from the defect regions such as the linearity of the defect, the intensity distribution, and the shape characteristics considering intensity, and construct a referential image database that stores those feature values. Finally, we determine the type of a defect by matching a defect image with a referential image in the database through the matching cost function between the two images. To verify the effectiveness of our method, we conducted a classification experiment using defect images acquired from real TFT-LCD production lines. Experimental results show that our method has achieved highly effective classification enough to be used in the production line.

• Journal of the Korean Society for Nondestructive Testing
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• v.16 no.2
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• pp.86-94
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• 1996

In the life management safety evaluation of constructs base on a fracture mechanics, the size of defect is the very important parameter. ICFPD (Induced Current Focusing Potential Drop)technique has been developed for detecting and sizing of defects that exist not only on surface but also inside and interior of structural components. The principle of this technique is to induce a focusing current at an exploration region by a straight induction wire through which an alternating current (AC)flows that has constant amplitude and frequency. The potential distributed on the surface of metallic material is measured by potential pick-up pins that are settled on the probe. In this paper, this NDI technique was applied to the evaluation of surface cracks and blind cracks in plate specimens. The results of this study show that in the case of surface crack, the distribution of potential drop is varied with the inched angle of surface crack, and the potential drops in the crack region and the crack edge region are varied with the inclined angle and depth of crack. The distribution of potential drop for the blind crack is distingulished from that for the surface crack, and the potential drop in the crack region is varied with the depth of crack.

• Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea TC
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• v.41 no.8
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• pp.69-78
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• 2004

In this paper, we estimated the exact software defect density to build up a suitable model that is closely related to the size of module in the probability model proposed by MD (Malaiya and Denton). To put it concretely, we predict that the software defect density using some practical data sets that are the outcomes from the system test performed our three projects for the types of distribution (exponential and geometric), per a unit of module, and the size of source line that have been recommended by KLOC(kilo-line-of-code). Then, we make comparison between our proposed defect density model and those examined real data.

• Proceedings of the Korean Information Science Society Conference
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• 2008.06c
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• pp.482-486
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• 2008

본 논문에서는 하드 디스크 드라이브(Hard Disk Drive, HDD) 생산 공정 과정에서 발생할 수 있는 불량 HDD의 결함 분포에 대해서 패턴을 자동으로 분류해주는 기법을 제시한다. 이를 위해서 표준 패턴 클래스로 분류되어 있는 불량 HDD의 각 클래스의 확률 모델을 GMM(Gaussian Mixture Model)로 가정한다. 실험은 전문가에 의해 분류된 실제 HDD 결함 분포로부터 5가지의 특징 값들을 추출한 후, 결함 분포의 클래스를 표현할 수 있는 GMM의 파라미터(Parameter)를 학습한다. 각 모델의 파라미터를 추정하기 위해 EM(Expectation Maximization) 알고리즘을 사용한다. 학습된 GMM의 분류 테스트는 학습에 사용되지 않은 HDD 결함 분포에서 5가지의 특징 값을 입력 값으로 추정된 모델들의 파라미터 값에 의해 사후 확률을 구한다. 계산된 확률 값 중 가장 큰 값을 갖는 모델의 클래스를 표준 패턴 클래스로 분류한다. 그 결과 제시된 GMM을 이용한 HDD의 패턴 분류의 결과 96.1%의 정답률을 보여준다.