• Title/Summary/Keyword: 결맞음

Search Result 75, Processing Time 0.072 seconds

The Phase Sensitivity of a Michelson Interferometer (Michelson 간섭계의 위상감도)

  • Ha, Yang;Kim, Heon-O;Shin, Jong-Tae;Park, Gu-Dong;Kim, Il-Won;Kim, Tae-Soo
    • Proceedings of the Optical Society of Korea Conference
    • /
    • 2000.02a
    • /
    • pp.120-121
    • /
    • 2000

  • Michelson 간섭계에 결맞음광을 입사시킬 때와 비고전광인 수 상태광을 입사시켰을 때의 위상감도에 대하여 이론적으로 계산하여 비교하였다. 수 상태광이 입사하는 경우라도 고전광인 결맞음광에서의 한계를 능가할 수 없음을 보였으며, 두 경우 모두 위상차의 불확정도 $\Delta$$ heta$는 1/(equation omitted) (N은 광자수)에 비례하였다. 또한 사용하는 광검출기의 양자효율에 따라 $\Delta$$\theta$가 어떤 영향을 받는지 분석하였다. (중략)

  • PDF

Expressions for Ellipsometric Constants of Samples Covered with Two Thick Incoherent Films (결맞음길이보다 두꺼운 두 개의 막에 덮여있는 시료의 타원식)

  • Kim, Sang Youl
    • Korean Journal of Optics and Photonics
    • /
    • v.24 no.2
    • /
    • pp.92-98
    • /
    • 2013

  • The expressions for ellipsometric constants of a sample covered with two thick films are derived, where incoherent superposition of multiply reflected lights inside thick films is properly considered in the frame of the rotating analyzer ellipsometry. The derived expressions are successfully applied to the analysis of a silicon wafer with a thin silicon dioxide film on it, which is placed beneath a cover glass and an air gap.

  • https://doi.org/10.3807/KJOP.2013.24.2.092 인용 PDF KSCI