• Journal of Korean Electronics
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• v.17 no.10
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• pp.33-36
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• 1997

• 월간낙농육우
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• s.50
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• pp.30-33
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• 1986

• NEWSLETTER 전기공업
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• no.98-10 s.203
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• pp.2-9
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• 1998

• 발명특허
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• v.32 no.4 s.369
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• pp.56-64
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• 2007

• Proceedings of the KIPE Conference
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• 2007.07a
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• pp.117-119
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• 2007

본 논문에서는 램프가 한개 이상 개방 시 피드백 제어 회로를 동작하지 않도록 하면서, 램프를 보호할 수 있는 개방전압을 출력하는 LCD 백라이트 구동용 인버터 회로도에 관한 것이다. 램프 개방전압 출력을 위한 회로는 램프 전류 피드백 블록, 개방전압시 이상신호를 감지하는 전압 피드백 블록, 램프 개수에 상관없이 최고치 값을 감지하는 블록으로 되어 있다. 전술한 회로가 내장된 인버터는 램프의 개방 시 램프의 개수 상관없이 CCFL의 보호 스펙인 2500V의 개방전압을 출력한다. 이러한 인버터가 내장된 LCD패널은 향상된 안정화 동작을 구현하게 된다.

• Journal of the Korean Institute of Telematics and Electronics D
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• v.35D no.9
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• pp.26-34
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• 1998

This paper presents a characterization method for faults of circuit patterns on MCM(Multichip Module) or PCB(Printed Circuit Board) substrates with electron beams of a SEM(Scanning Electron Microscope) by inducing voltage contrast on the signal line. The experimentation employes dual potential electron beams for the fault characterization of circuit patterns with a commercial SEM without modifying its structure. The testing procedure utilizes only one electron gun for the generation of dual potential electron beams by two different accelerating voltages, one for charging electron beam which introduces the yield of secondary electron $\delta$ < 1 and the other for reading beam which introduces $\delta$ > 1. Reading beam can read open's/short's of a specific net among many test nets, simultaneously discharging during the reading process for the next step, by removing its voltage contrast. The experimental results of testing the copper signal lines on glass-epoxy substrates showed that the state of open's/short's had generated the brightness contrast due to the voltage contrast on the surface of copper conductor line, when the net had charged with charging electron beams of 7KV accelerating voltages and then read with scanning reading electron beams of 2KV accelerating voltages in 10 seconds. The experimental results with Au pads of a IC die and Au plated Cu pads of BGA substrates provided the simple test method of circuit lines with 7KV charging electron beam and 2KV reading beam. Thus the characterization method showed that we can test open and short circuits of the net nondestructively by using dual potential electron beams with one SEM gun.

• Journal of Korean Electronics
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• v.27 no.4
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• pp.6-13
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• 2007

한.미 FTA 타결로 우리경제는 새로운 개방과 경쟁의 시대를 맞이하였다. 본격적인 글로벌 스탠다드 시대에 IT.전자산업의 새로운 도전과 비전을 조명해 본다.

• Product Safety
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• s.43
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• pp.42-45
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• 1996

WTO체제 출범에 따라 유통시장의 완전 개방시대를 맞았다. 이에 지방의 상권형성과 앞으로의 시장성을 예측하기 위해 지역별 여건과 사권에 대해 알아보자. 먼저 충청지역을 입지적여건과 상권분석으로 나누어 2회에 연속 게재한다.

• Product Safety
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• s.42
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• pp.36-39
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• 1996

WTO체제 출범에 따라 유통시장의 완전 개방시대를 맞았다. 이에 지방의 상권형성과 앞으로의 시장성을 예측하기 위해 지역별 여건과 사권에 대해 알아보자. 먼저 충청지역을 입지적여건과 상권분석으로 나누어 2회에 연속 게재한다.

• Proceedings of the KIPE Conference
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• 2017.11a
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• pp.103-104
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• 2017

영구자석 전동기는 전력 밀도가 높고 효율이 좋은 특징으로 견인, 의료, 군사 분야 등 다양한 산업 분야에서 사용되고 있다. 이러한 분야에서 사용되는 전동기 구동 시스템은 높은 신뢰성이 요구되므로 인버터에서 발생하는 전력 반도체 스위치 고장을 빠르게 감지해야한다. 본 논문에서는 제어기 상전압 지령과 추정된 상전압 사이의 오차를 통해 전력 반도체 개방 고장을 감지하고 진단하는 방법을 제시하였다. 제안된 방법은 추가적인 측정 회로 없이 제어기 내부 값을 사용하여 개방 고장을 감지하고 개방된 스위치를 진단할 수 있다. 특히 부하 변동을 고려한 감지 방법을 제안하여 고장 감지의 신뢰성을 개선한다.