Indium oxide nanocrystals ($In_2O_3$ NCs) with sizes of 5.5 nm-10 nm were synthesized by hot injection of the mixture precursors, indium acetate and oleic acid, into alcohol solution (1-octadecanol and 1-octadecence mixture). Field emission transmission electron microscopy (FE-TEM), High resolution X-Ray diffraction (X-ray), Nuclear magnetic resonance (NMR), and Fourier transform infrared spectroscopy (FT-IR) were employed to investigate the size, surface molecular structure, and crystallinity of the synthesized $In_2O_3$ NCs. When covered by oleic acid as a capping group, the $In_2O_3$ NCs had a high crystallinity with a cubic structure, demonstrating a narrow size distribution. A high mobility of $2.51cm^2/V{\cdot}s$ and an on/off current ratio of about $1.0{\times}10^3$ were observed with an $In_2O_3$ NCs thin film transistor (TFT) device, where the channel layer of $In_2O_3$ NCs thin films were formed by a solution process of spin coating, cured at a relatively low temperature, $350^{\circ}C$. A size-dependent, non-monotonic trend on electron mobility was distinctly observed: the electron mobility increased from $0.43cm^2/V{\cdot}s$ for NCs with a 5.5 nm diameter to $2.51cm^2/V{\cdot}s$ for NCs with a diameter of 7.1 nm, and then decreased for NCs larger than 7.1 nm. This phenomenon is clearly explained by the combination of a smaller number of hops, a decrease in charging energy, and a decrease in electronic coupling with the increasing NC size, where the crossover diameter is estimated to be 7.1 nm. The decrease in electronic coupling proved to be the decisive factor giving rise to the decrease in the mobility associated with increasing size in the larger NCs above the crossover diameter.
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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1988.10a
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pp.29-32
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1988
Polycrystalline CdS films were prepared by coating a slurry, which consisted of Cds, 11w/o of CdCl$_2$ and various amounts of InCl$_3$on the glass substrate and by sintering in a nitrogen atmosphere. Measurements on the electrical and optical Properties and observation on the microstructure of the sintered films were made. It was observed that the carrier concentration in the films remains almost constant on the addition of InCl$_3$. Optical transmittance remains constant on the addition of InCl$_3$ up to 3w/o but it decreases with further increase in InCl$_3$.
Journal of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
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v.15
no.6
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pp.504-510
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2002
Recently, thin film capacitors of high dielectric constant and low leakage current are applied to integrated devices. In this study, (Ba, Sr)$TiO_3$ (BST) thin films for low cost were prepared by Sol-Gel method. BST solution was spin-coated on Pt/$SiO_2$/Si substrate at 4,000 rpm for 10 seconds. Coating process was repeated 3 times and then sintered at $700^{\circ}C$ for 30 minutes. Structural and electrical characteristics of each specimen were analyzed by TG-DTA, SEM, fractal phenomenon, voltage-current and dielectric factor. Thickness of BST ceramics thin films are about 2,600~2,800 ${\AA}$ at depositing 3 times. Dielectric constant of thin films was decreased in 1 kHz~1 MHz. Dielectric constant and loss to frequency were 250 and 0.02 in $(Ba_{0.7}Sr_{0.3})TiO_3$ (BST3). Leakage current of BST3 was $10^{-9}\sim10^{-11}$/ A under 3 V.
Journal of the Korean Crystal Growth and Crystal Technology
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v.11
no.2
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pp.49-55
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2001
ZnO films were fabricated on p-type Si(100) wafer ITO glass and quartz glass by the sol-gel process using zinc acetate dihydrate as starting material. A homogeneous and stable solution was prepared by dissolving the zinc acetate dihydrate in a solution of 2-methoxyethanol and monoethanolamine (MEA). ZnO films were deposited by spin-coating at 2800 rpm for 25 s and were dried on a hot plate at $250^{\circ}C$ for 10 min. Crystallization of the films was carried out at $400^{\circ}C$~$800^{\circ}C$ for 1 h in air. X-ray diffraction (XRD) analysis, scanning electron microscopy (SEM), UV-vis transmittance spectroscopy, FTIR transmittance spectroscopy and Photoluminescence (PL) spectroscopy measurements have been used to study the structural and optical properties of the films. ZnO films highly oriented along the (002)plane were obtained. In all cases the films were found to be transparent (above 70%) in visible range with a sharp absorption edge at wavelengths of about 380nm, which is very close to the intrinsic band-gap of ZnO(3.2 eV). The low temperature band-edge photoluminescence revealed a complicated multi-line structure in terms of bound exciton complexes and the phonon replicas.
Seung-Jin Lee;Min-Ki Jeon;Seung-Tae Jeong;In-Hwan Yang
Journal of the Korean Recycled Construction Resources Institute
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v.12
no.1
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pp.94-101
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2024
In this paper, the performance of air pollution reduction by coating the photocatalyst solution on the mortar surface was analyzed to ensure the possibility of applying the photocatalyst to structures with a large specific surface area. The photocatalytic concentrations of the coating solution were set to 1.5 % and 3.0 %, and the types of binders were considered as experimental variables, such as ultra-high performance concrete (UHPC), ordinary portland cement (OPC), and blast furnace slag. As the photocatalyst concentration increases, the air pollution reduction performance increases. In addition, as a result of the air pollution reduction performance, the NOx concentration reduction rate was the highest for UHPC, and the air pollution reduction performance increased as the blast furnace slag was replaced. Therefore, the amount of TiO2 remaining on the surface varies depending on the density of the tissue due to the difference in particles caused by the difference in the amount of TiO2 remaining on the surface.
Proceedings of the Korean Society Of Semiconductor Equipment Technology
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2006.05a
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pp.194-197
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2006
Lead-free bismuth-layered perovskite ferroelectric europium-substituted $Bi_{4}Ti_{3}O_{12}(BTO)$ thin films have been successfully deposited on Pt/Ti/$SiO_2$/Si substrate by a sol-gel spin-coating process. $Bi(TMHD)_3,\;Eu(THMD)_3,\;Ti(OiPr)_4$ were used as the precursors, which were dissolved in 2-methoxyethanol. The thin films were annealed at various temperatures from $600^{\circ}\;to\;720^{\circ}C$ in oxygen ambient for 1 hr, which was followed by post-annealed for 1 hr after depositing a Pt electrode to enhance the electrical properties. X-ray diffraction (XRD) and scanning electron microscopy (SEM) were used to analyze the crystallinity and surface morphology of layered perovskite phase, respectively. The remanent polarization value of the BET thin films annealed at $720^{\circ}C\;was\;25.95{\mu}C/cm^2$ at an applied voltage of 5 V.
Non-passivated electrolytic tinplates withour conventinal chemical treatment self-oxidize in ambient atmosphere to from yellow stain on the outermost surface during the long-term storage. The degree of yellowness of the stain increased linerly with the oxide thickness due to the interfeefence color of the $SnO_2$ Even though the thickness of the oxide layer was very thin, less than 100$\AA$ , it exerts an undesirable influence on the can-making processes, particularly the stripping behavior after ironing. Investigations were carried out on the morphologies of the coating layer, the changes in oxide thickness during successive can-making processes and the averge friction coefficients with the different oxide thinkness. These oxide layers were broken up and distributed within the bulk tin coating during the ironing process. This redistribution of the oxide layer prvented smooth pressing-aside of the tin coating layer, resulting in an increase in the ironing friction coefficient. As the friction was increased, the residual stress along the can wall thinkness(i.e., the hoop stress) was also increased. Due to both the oxibe layer accumulation, which increased the friction coefficient, and the hoop stress, can stripping efficiency without roll-back is reduced.
The Transactions of the Korean Institute of Electrical Engineers C
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v.53
no.7
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pp.387-394
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2004
Diamond films were deposited on the cemented tungsten carbide WC-Co cutting insert substrates by using both microwave plasma chemical vapor deposition(MWPCVD) and radio frequency plasma chemical vapor deposition (RFPCVD) from $CH_4$$-H_2$$-O_2$ gas mixture. Scanning electron microscopy and X-ray diffraction techniques were used to investigate the microstructure and phase analysis of the materials and Raman spectrometry was used to characterize the quality of the diamond coating. Diamond films deposited using MWPCVD from $CH_4$$-H_2$$-O_2$ gas mixture show a dense, uniform, well faceted and polycrystalline morphology. The compressive stress in the diamond film was estimated to be (1.0∼3.6)$\pm$0.9 GPa. Diamond films which were deposited on the WC-Co cutting insert substrates by RFPCVD from $CH_4$$-H_2$$-O_2$ gas mixture show relatively good adhesion, very uniform, dense and polycrystalline morphology.
High porous AlO(OH) gel is used in precursor of ceramic material, coating material and porous catalyst. For use of these, not only physiochemical control for particle morphology, pore characteristic and peptization but also studies of synthetic method for preparation of high porous AlO(OH) gel were required. In this study, high porous AlO(OH) gel was prepared through the aging and filtration process of aluminum hydroxides gel precipitated by the hydrolysis reaction of $Na_2CO_3$ solution and $Al_2(SO_4)_3$ and $Na_2SO_4$ mixed solution. In this process, optimum synthetic condition of AlO(OH) gel having excellent pore volume as studying the effect of hydrolysis pH on gel precipitates has been studied. Hydrolysis pH brought about numerous changes on crystal morphology, surface area, pore volume and pore size. Physiochemical properties of gel were investigated as using XRD, TEM, TG/DTA, FT-IR and $N_2$ BET method.
Kim, Kyoung-Tae;Lee, Sung-Gap;Kim, Chang-Il;Lee, Young-Hie
Proceedings of the Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers Conference
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2000.04b
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pp.56-59
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2000
In this study, Ferroelectric $Pb(Zr_x,Ti_{1-x})O_3$(x=0.53) thin films were fabricated by the spin-coating on the Pt/Ti/$SiO_2$/Si substrate using the PZT metal alkoxide solutions with various excess Pb contents. Etching of PZT film was performed using planar inductively coupled Ar(20)$/Cl_2/BCl_3$ plasma. The etch rate of PZT film was 2450 ${\AA}/min$ at Ar(20)$/BCl_3$(80) gas mixing ratio and substrate temperature of $80^{\circ}C$. The leakage current densities of before etching and after etching PZT thin film were $6.25\times10^{-8}A/cm^2$, $8.74\times10^{-7}A/cm^2$ with electric field of 0.07MV/em, respectively.
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[게시일 2004년 10월 1일]
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