References
- H. X. Jiang, S. X. Jin, J. Li, J. Shakya, and J. Y. Lin, Appl. Phys. Lett., 78, 1303 (2001). https://doi.org/10.1063/1.1351521
- C. Y. Wang, L. Y. Chen, C. P. Chen, Y. W. Cheng, M. Y. Ke, M. Y. Hsieh, H. M. Wu, L. H. Peng, and J. J. Huang, Opt. Express, 16, 10549 (2008). https://doi.org/10.1364/OE.16.010549
- R. Koester, J. S. Hwang, D. Salomon, X. Chen, C. Bougerol, J. P. Barnes, D. L. S. Dang, L. Rigutti, A. de Luna Bugallo, G. Jacopin, M. Tchernycheva, C. Durand, and J. Eymery, Nano Lett., 11, 4839 (2011). https://doi.org/10.1021/nl202686n
- B. O. Jung, S. Y. Bae, S. Y. Kim, S. Lee, J. Y. Lee, D. S. Lee, Y. Kato, Y. Honda, and H. Amano, Nano Energy, 11, 294 (2015). https://doi.org/10.1016/j.nanoen.2014.11.003
- Y. H. Ra, R. Navamathavan, J. H. Park, and C. R. Lee, Nano Lett., 14, 1537 (2014). https://doi.org/10.1021/nl404794v
- M. Tchernycheva, V. Neplokh, H. Zhang, P. Lavenus, L. Rigutti, F. Bayle, F. H. Julien, A. Babichev, G. Jacopin, L. Largeau, R. Ciechonski, G. Vescovi, and O. Kryliouk, Nanoscale, 7, 11692 (2015). https://doi.org/10.1039/c5nr00623f
- H. S. Yang, S. Y. Han, K. H. Baik, and S. J. Pearton, Appl. Phys. Lett. 86, 102104 (2005). https://doi.org/10.1063/1.1882749
- Q. Li, K. R. Westlake, M. H. Crawford, S. R. Lee, D. D. Koleske, J. Figiel, K. C. Cross, S. Fathololoumi, Z. Mi, and G. T. Wang, Opt. Express, 19, 25528 (2011). https://doi.org/10.1364/OE.19.025528
- Q. Li, J. B. Wright, W. W. Chow, T. S. Luk, I. Brener, L. F. Lester, and G. T. Wang, Opt. Express, 20, 17873 (2012). https://doi.org/10.1364/OE.20.017873
- S. Y. Bae, D. J. Kong, J. Y. Lee, D. J. Seo, and D. S. Lee, Opt. Express, 21, 16854 (2013). https://doi.org/10.1364/OE.21.016854
- C. Li, J. B. Wright, S. Liu, P. Lu, J. J. Figiel, B. Leung, W. W. Chow, I. Brener, D. D. Koleske, and T. S. Luk, Nano Lett. 17, 1049 (2017). https://doi.org/10.1021/acs.nanolett.6b04483
- S. Fernandez-Garrido, T. Auzelle, J. Lahnemann, K. Wimmer, A. Tahraouia, and O. Brandt, Nanoscale Adv. 1, 1893 (2019). https://doi.org/10.1039/c8na00369f
- Y. H. Ra and C. R. Lee, Nano Lett., 20, 4162 (2020). https://doi.org/10.1021/acs.nanolett.0c00420
- M. Nami, I. E. Stricklin, K. M. DaVico, S. Mishkat-Ul-Masabih, A. K. Rishinaramangalam, S. R. J. Brueck, I. Brener, and D. F. Feezell, Sci. Rep. 8, 1, (2018).
- Z. Bi, F. Lenrick, J. Colvin, A. Gustafsson, O. Hultin, A. Nowzari, T. Lu, R. Wallenberg, R. Timm, A. Mikkelsen, B. J. Ohlsson, K. Storm, B. Monemar, and L. Samuelson, Nano Lett., 19, 2832 (2019). https://doi.org/10.1021/acs.nanolett.8b04781
- H. Park, B. J. Kim, and J. Kim Opt. Express, 20, 25249 (2012). https://doi.org/10.1364/OE.20.025249
- M. C. Chou, C. Y. Lin, B. L. Lin, C. H. Wang, S. H. Chang, W. C. Lai, K. Y. Lai, and Y. C. Chang, ACS Nano, 12, 8748 (2018). https://doi.org/10.1021/acsnano.8b04933
- X. Dai, A. Messanvi, H. Zhang, C. Durand, J. Eymery, C. Bougerol, F. H. Julien, and M. Tchernycheva, Nano Lett. 15, 6958 (2015). https://doi.org/10.1021/acs.nanolett.5b02900
- M. Asad, R. Wang, Y. H. Ra, P. Gavirneni, Z. Mi, and W. S. Wong npj Flexible Electron., 3, 1 (2019). https://doi.org/10.1038/s41528-018-0045-x
- Y. H. Ra and C. R. Lee, Nano Energy, 84, 1 (2021).
- P. Gilet and I. C. Robin, SID Symp. Dig. Pap. 49. 684 (2018).
- H. K. Park, S. W. Yoon, Y. J. Eo, W. W. Chung, G. Y. Yoo, J. H. Oh, K. N. Lee, W. Kim, and Y. R. Do, Sci. Rep. 6, 1 (2016). https://doi.org/10.1038/s41598-016-0001-8