References
- J. Akedo, J. Am. Ceram. Soc., 89, 1834 (2006). [DOI: http://doi.org/10.1111/j.1551-2916.2006.01030.x]
- J. Akedo, J. Therm. Spray Technol., 17, 181 (2008). [DOI: http://doi.org/10.1007/s11666-008-9163-7]
- Y. Imanaka, N. Hayashi, M. Takenouchi, and J. Akedo, J. Eur. Ceram. Soc., 27, 2789 (2007). [DOI: https://doi.org/10.1016/j.jeurceramsoc.2006.11.055]
- J. M. Oh and S. M. Nam, Jpn. J. Appl. Phys., 48, 09KA07 (2009). [DOI: https://doi.org/10.1143/jjap.48.09ka07]
- J. Ryu, D. S. Park, B. D. Hahn, J. J. Choi, W. H. Yoon, K. Y. Kim, and H. S. Yun, Appl. Catal., B, 83, 1 (2008). [DOI: https://doi.org/10.1016/j.apcatb.2008.01.020]
- T. Fujihara, M. Tsukamoto, N. Abe, S. Miyake, T. Ohji, and J. Akedo, Vacuum, 73, 629 (2004). [DOI: https://doi.org/10.1016/j.vacuum.2003.12.082]
- M. Y. Cho, D. W. Lee, P. J. Ko, S. M. Koo, J. S. Kim, Y. K. Choi, and J. M. Oh, Electron. Mater. Lett., 15, 227 (2019). [DOI: https://doi.org/10.1007/s13391-018-00111-w]
- M. Y. Cho, S. J. Park, S. M. Kim, D. W. Lee, H. K. Kim, S. M. Koo, K. S. Moon, and J. M. Oh, Ceram. Int., 44, 16548 (2018). [DOI: https://doi.org/10.1016/j.ceramint.2018.06.076]
- J. J. Park, D. Y. Kim, J. G. Lee, D. Kim, J. H. Oh, T. Y. Seong, M.F.A.M. Van Hest, and S. S. Yoon, J. Am. Ceram. Soc., 96, 1596 (2013). [DOI: https://doi.org/10.1111/jace.12164]
- I. S. Kim, P. J. Ko, M. Y. Cho, H. K. Kim, D. W. Lee, S. M. Koo, D. Lee, C. Park, and J. M. Oh, Ceram. Int., 45, 20634 (2019). [DOI: https://doi.org/10.1016/j.ceramint.2019.07.046]
- M. Y. Cho, D. W. Lee, I. S. Kim, W. J. Kim, S. M. Koo, D. Lee, Y. H. Kim, and J. M. Oh, Ceram. Int., 45, 6702 (2019). [DOI: https://doi.org/10.1016/j.ceramint.2018.12.159]
- D. W. Lee, M. C. Shin, Y. N. Kim, and J. M. Oh, Ceram. Int., 43, 1044 (2017). [DOI: https://doi.org/10.1016/j.ceramint.2016.10.037]
- J. G. Liang, E. S. Kim, C. Wang, M. Y. Cho, J. M. Oh, and N. Y. Kim, Sens. Actuators, B, 265, 632 (2018). [DOI: https://doi.org/10.1016/j.snb.2018.03.093]
- M. Y. Cho, S. Kim, I. K. Kim, E. S. Kim, Z. J. Wang, N. Y. Kim, S. W. Kim, and J. M. Oh, Adv. Funct. Mater., 30, 1907449 (2020). [DOI: https://doi.org/10.1002/adfm.201907449]
- D. W. Lee, H. J. Kim, and S. M. Nam, J. Korean Phys. Soc., 57, 1115 (2010). [DOI: https://doi.org/10.3938/jkps.57.1115]
- M. Y. Cho, D. W. Lee, I. K. Kim, W. H. Lee, J. W. Yoo, P. J. Ko, S. M. Koo, Y. K. Choi, and J. M. Oh, Jpn. J. Appl. Phys., 57, 11UF05 (2018). [DOI: https://doi.org/10.7567/JJAP.57.11UF05]
- J. M. Oh, N. H. Kim, S. C. Choi, and S. M. Nam, Mater. Sci. Eng. B, 161, 80 (2009). [DOI: https://doi.org/10.1016/j.mseb.2009.01.028]