References
- (a) Seto, C. T.; Whitesides, G. M. J. Am. Chem. Soc. 1990, 112, 6409. https://doi.org/10.1021/ja00173a046
- (b) Kroto, H. W.; Heath, J. R.; O'Brien, S. C.; Curl, R. F.; Smalley, R. E. Nature 1985, 318, 162. https://doi.org/10.1038/318162a0
- Kratschmer, W.; Lamb, L. D.; Fostiropoulos, K.; Huffman, D. R. Nature 1990, 347, 354. https://doi.org/10.1038/347354a0
- Zhang, Q.-M.; Yi, J.-Y.; Bernholc, J. Phys. Rev. Lett. 1991, 66, 2633. https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.66.2633
- Scuseria, G. E. Science 1996, 271, 942. https://doi.org/10.1126/science.271.5251.942
- Schmalz, T. G.; Seitz, W. A.; Klein, D. J.; Hite, G. E. J. Am. Chem. Soc. 1988, 110, 1113. https://doi.org/10.1021/ja00212a020
- Li, B.; Wang, H.; Yang, J.; Hou, J. G. Ultramicroscopy 2004, 98, 317. https://doi.org/10.1016/j.ultramic.2003.08.024
- Pascual, J. I.; Gomez-Herrero, J.; Rogero, C.; Baro, A. M.; Sanchez-Portal, D.; Artacho, E.; Ordejon, P.; Soler, J. M. Chem. Phys. Lett. 2000, 321, 78. https://doi.org/10.1016/S0009-2614(00)00337-7
- Costantini, G.; Rusponi, S.; Giudice, E.; Boragno, C.; Valbusa, U. Carbon 1997, 37, 727. https://doi.org/10.1016/S0008-6223(98)00262-0
- Stimpel, T.; Schraufstetter, M.; Baumgartner, H.; Eisele, I. Materials Sci. Eng. B 2002, 89, 394. https://doi.org/10.1016/S0921-5107(01)00841-8
- Guo, S.; Nagel, P. M.; Deering, A. L.; Van Lue, S. M.; Alex Kandel, S. Surf. Sci. 2007, 601, 994. https://doi.org/10.1016/j.susc.2006.11.042
- Paradhan, N. A.; Liu, N.; Ho, W J. Phys. Chem. B 2005, 109, 8513. https://doi.org/10.1021/jp045289b
- Orzali, T.; Petukhov, M.; Sambi, M.; Tondello, E. Applied Surf. Sci. 2006, 252, 5534. https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2005.12.149
- Hou, J. G.; Yang, J.; Wang, H.; Li, Q.; Zeng, C.; Yuan, L.; Wang, B.; Chen, D. M.; Zhu. Q. Nature 2001, 409, 304. https://doi.org/10.1038/35053163
- Manoharan, H. C.; Lutz, C. P.; Eigler, D. M. Nature 2000, 403, 512. https://doi.org/10.1038/35000508
- Odom, T. W.; Huang, J.-L.; Kim, P.; Lieber, C. M. Nature 1998, 391, 62. https://doi.org/10.1038/34145
- Hou, J. G.; Yang, J.; Wang, H.; Li, Q.; Zeng, C.; Lin, H.; Wang, B.; Chem, D. M.; Zhu, Q. Phys. Rev. Lett. 1999, 83, 3001. https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.83.3001
- Hla, S.-W.; Bartels, L.; Meyer, G.; Rieder, K.-H. Phys. Rev. Lett. 2000, 85, 2777. https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.85.2777
- Lee, K. H.; Causa, M.; Park, S. S J. Phys. Chem. B. 1998, 102, 6020. https://doi.org/10.1021/jp980639d
- Altman, E. I.; Colton, R. J. Surf. Sci. 1992, 279, 49. https://doi.org/10.1016/0039-6028(92)90741-N
- Lu, X.; Grobis, M.; Khoo, K. H.; Louie, S. G.; Crommie, M. F. Phys. Rev. B. 2004, 70, 115418. https://doi.org/10.1103/PhysRevB.70.115418
- Chen, C. J. Introduction to Scanning Tunneling Microscopy; Oxford University Press: 1993.
- Wisendange, R. Scanning Probe Microscopy and Spectroscopy, Cambridge University Press: 1994.
- Tersoff, J.; Hamann, D. R. Phys. Rev. Lett. 1983, 50, 1998. https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.50.1998
- Frisch, M. J.; Trucks, G. W.; Schlegel, H. B.; Scuseria, G. E.; Robb, M. A.; Cheeseman, J. R.; Scalmani, G.; Barone, V.; Mennucci, B.; Petersson, G. A.; Nakatsuji, H.; Caricato, M.; Li, X.; Hratchian, H. P.; Izmaylov, A. F.; Bloino, J.; Zheng, G.; Sonnenberg, J. L.; Hada, M.; Ehara, M.; Toyota, K.; Fukuda, R.; Hasegawa, J.; Ishida, M.; Nakajima, T.; Honda, Y.; Kitao, O.; Nakai, H.; Vreven, T.; Montgomery, J. A.; Peralta, Jr., J. E.; Ogliaro, F.; Bearpark, M.; Heyd, J. J.; Brothers, E.; Kudin, K. N.; Staroverov, V. N.; Kobayashi, R.; Normand, J.; Raghavachari, K.; Rendell, A.; Burant, J. C.; Iyengar, S. S.; Tomasi, J.; Cossi, M.; Rega, N.; Millam, J. M.; Klene, M.; Knox, J. E.; Cross, J. B.; Bakken, V.; Adamo, C.; Jaramillo, J.; Gomperts, R.; Stratmann, R. E.; Yazyev, O.; Austin, A. J.; Cammi, R.; Pomelli, C.; Ochterski, J. W.; Martin, R. L.; Morokuma, K.; Zakrzewski, V. G.; Voth, G. A.; Salvador, P.; Dannenberg, J. J.; Dapprich, S.; Daniels, A. D.; Farkas, O.; Foresman, J. B.; Ortiz, J. V.; Cioslowski, J.; Fox, D. J. Gaussian 09, Revision A; Gaussian, Inc., Wallingford CT, 2009.
- (a) Magonov, S. N.; Whangbo, M.-H. Adv. Mater. 1994, 6, 355. https://doi.org/10.1002/adma.19940060504
- (b) Magonov, S. N.; Whangbo, M.-H. Surface Analysis with STM and AFM; Wiley-VCH: 1996.
- (c) Park, S. S.; Lee, J.; Lee, W. R.; Lee, K. H. Bull. Korean Chem. Soc. 2007, 28, 81. https://doi.org/10.5012/bkcs.2007.28.1.081
- (d) Whangbo, M.-H.; Hoffmann, R. J. Am. Chem. Soc. 1978, 100, 6093. https://doi.org/10.1021/ja00487a020