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집단보호장비 내의 회로카드조립체 고장 원인 분석 및 품질 향상

Analysis of Causes PCB Failure for Collective Protection Equipment and Improvement of Quality

  • 투고 : 2019.02.19
  • 심사 : 2019.05.03
  • 발행 : 2019.05.31

초록

본 논문은 집단보호장비에 들어가는 회로카드조립체의 고장 원인 분석 및 품질 개선에 관한 연구이다. 해당 장비는 현재 운용중인 무기체계의 구성품으로 냉난방 기능뿐만 아니라, 화생 방어 역할을 한다. 그런데 군에서 운용중에 응축부조립체의 팬이 동작하지 않는 현상이 다수 발생되었다. 이에 따라 고장 원인을 분석하였고 특정 회로카드조립체가 소손됨을 확인하였다. 고온의 환경조건에서 지속적인 냉방가동에 따라 부품이 가열되고 이에 따라 고온에 노출된 전자부품이 열화되어 소손됨을 알 수 있었다. 따라서 본 논문은 이를 해결하기 위해 방열판을 적용하여 과온 동작에 의한 고장빈도를 낮추고 회로카드조립체의 수명을 연장한 품질 개선에 관한 연구이다. 개선된 회로카드조립체는 실험을 통해 방열성능을 확인하였다. 뿐만 아니라 체계 호환성 검사, 양압유지, 소음 시험, 작동시험 등을 통해 성능검사를 마쳤으며 현재 개선된 제품을 적용중이다. 이번 개선을 통해 현재까지 해당 회로카드조립체에서 발생한 고장은 없으며 해당 장비의 품질이 향상됨을 확인하였다.

This study is the analysis of causes of printed circuit board (PCB) in collective protection equipment failure and quality improvement. The equipment is a component of the weapon system currently in operation and serves to defend against enemy chemical and biological attack as well as heating and cooling functions. However, during operation in the military, fans of condensate assembly failed to operate. The cause of the failure is the burning of PCB. It was found that the parts were heated according to the continuous cooling operation under the high temperature environmental conditions. Accordingly, the electronic components exposed to high temperature were deteriorated and destroyed. To solve this problem, PCB apply to heatsink. The performance test of improved PCB has been completed. Futhermore system compatibility, positive pressure maintenance and noise test were performed. This improvement confirmed that no faults have occurred in PCB so far. Therefore, the quality of the equipment has improved.

키워드

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Fig. 1. Operating Principles of Heating and Cooling Equipment

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Fig. 2. Printed Circuit Board

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Fig. 3. IGBT Combustion(a) Inside of IGBT Driver(b) Scale Up Combustion Area

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Fig. 4. IGBT Driver Manufacturer Cause Analysis

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Fig. 5. The datasheet of IGBT SKHI 71 R

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Fig. 6. Heatsink Shape A(a), Heatsink Shape B(b), Heatsink Shape C(c),

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Fig. 7. Temperature Measurement Point (a) Gate 1 (b) Gate 2 (c) Gate (d) CPU Circuit Card

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Fig. 9. Installation Eviroment of Gate 1,2

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Fig. 10. Installation Environment of Gate

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Fig. 8. (a) Data Logger GL820 (b) Temperature Measurement Environment

Table 1. The Result of Experiment

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Table 2. Temperature Condition

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Table 3. The Result of Experiment before Applying Heatsink

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Table 4. The Result of Experiment After Applying Heatsink

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참고문헌

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