참고문헌
- W. P. Mulligan, D. H. Rose, M. J. Cudzinovic, D. M. D. Ceuster, K. R. McIntosh, D. D. Smith and R. M. Swanson, in Proc., 19th IEEE EPVSEC, (2004), p. 387.
- D. L. Meier, V. Chandrasekaran, H. P. Davis, A. M. Payne, X. Wang, V. Yelundur, J. E. Oeill, Y. W. Ok, F. Zimbardi and A. Rohatgi, in Proc., 1 IEEE J. Photovolt. (2011), p. 123.
- A. Cuevas, T. Allen, J. Bullock, Yi. Wan, D. Van, X. Zhang, in Proc., 42nd IEEE PVSC, (2015), p. 1.
- L. G. Gerling, S. Mahato, C. Voz, R. Alcubilla and J. Puigdollers, Appl. Sci., 5, 695 (2015). https://doi.org/10.3390/app5040695
- J. Geissbuhler, J. Werner, S. Martin de Nicolas, L. Barraud, A. Hessler-Wyser, M. Despeisse, S. Nicolay, A. Tomasi, B. Niesen, S. De Wolf and C. Ballif, Appl. Phys. Lett., 107, 081601 (2015). https://doi.org/10.1063/1.4928747
- D. K. Nandi and S. K. Sarkar, Appl. Mech. Mater., 492, 375 (2014). https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/AMM.492.375
- M. Diskus, O. Nilsena and H. Fjellvag, J. Mater. Chem., 21, 705 (2011). https://doi.org/10.1039/C0JM01099E
- T. Sun, R. Wang, R. Liu, C. Wu, Y. Zhong, Y. Liu, Y. Wang, Y. Han, Z. Xia, Y. Zou, T. Song, N. Koch, S.Duhm and B. Sun, Phys. Status Solidi RRL, 1700107, 3 (2017).
- D. Xiang, C. Han, J. Zhang and W. Chen, Sci. Rep., 4, 4891 (2014). https://doi.org/10.1038/srep04891
- A. L. F. Cauduro, R. Reis, G. Chen, A. K. Schmid, Horst-Gunter Rubahn, Morten Madsen, Ultramicroscopy., 183, 99, (2017). https://doi.org/10.1016/j.ultramic.2017.03.025
- C. Battaglia, X. Yin, M. Zheng, I. D. Sharp, T. Chen, S. McDonnell, A. Azcatl, C. Carraro, B. Ma, R. Maboudian, R. M. Wallace, and A. Javey, Nano Lett., 14, 967 (2014). https://doi.org/10.1021/nl404389u
- G. Gregory, M. Wilson, H. Ali and K. O. Davis, in Proc., 7th IEEE WCPEC, (2018), p. 2006.
- L. Neusel, M. Bivour and M. Hermle, Energy Procedia., 124, 425 (2017). https://doi.org/10.1016/j.egypro.2017.09.268
- M. Vasilopoulou, A. M. Douvas, D. G. Georgiadou, L. C. Palilis, S. Kennou, L. Sygellou, A. Soultati, I. Kostis, G. Papadimitropoulos, D. Davazoglou and P. Argitis, J. Am. Chem. Soc., 134, 16178 (2012). https://doi.org/10.1021/ja3026906
- W. J. Yoon, J. E. Moore, E. h. Cho, D. Scheiman, N. A. Kotulak, E. Cleveland, Y. W. Ok, P. P. Jenkins, A. Rohatgi and R. J. Walters, Jpn. J. Appl. Phys., 56, 08MB18 (2017). https://doi.org/10.7567/JJAP.56.08MB18