References
- A. K. Geim, Science, 324, 1530 (2009). https://doi.org/10.1126/science.1158877
- A. K. Geim and K. S. Novoselov, Nat. Mater., 6, 183 (2007). https://doi.org/10.1038/nmat1849
- X. Du, I. Skachko, A. Barker and E. Y. Andrei, Nat. Nanotechnol., 3, 491 (2008). https://doi.org/10.1038/nnano.2008.199
- R. R. Nair, P. Blake, A. N. Grigorenko, K. S. Novoselov, T. J. Booth, T. Stauber, N. M. R. Peres and A. K. Geim, Science, 320, 1308 (2008). https://doi.org/10.1126/science.1156965
- R. S. Edwards and K. S. Coleman, Nanoscale, 5, 38-51 (2013). https://doi.org/10.1039/C2NR32629A
- K. S. Novoselov, A. K. Geim, S. V. Morzov, D. Jiang, Y. Zhang, S. V. Dubonos, I. V. Grigorieva and A. A. Firsov, Science, 306, 666 (2004). https://doi.org/10.1126/science.1102896
- Y. Zhang, Y. -W. Tan, H. L. Stormer and P. Kim, Nature, 438, 201 (2005). https://doi.org/10.1038/nature04235
- C. Berger, Z. Song, T. Li, X. Li, A. Y. Ogbazghi, R. Feng, Z. Dai, A. N. Marchenkov, E. H. Conrad, P. N. First and W. A. Heer, J. Phys. Chem. B, 108, 19912 (2004). https://doi.org/10.1021/jp040650f
- S. Stankovich, D. A. Dikin, R. D. Piner, K. A. Kohlhaas, A. Kleinhammers, Y. Jia, Y. Wu, S. T. Nguyen and R. S. Ruoff, Carbon, 45, 1558 (2007). https://doi.org/10.1016/j.carbon.2007.02.034
- K. S. Kim, Y. Zhao, H. Jang, S. Y. Lee, J. M. Kim, K. S. Kim, J. -H. Ahn, P. Kim, J. -Y Choi and B. H. Hong, Nature, 457, 706 (2009). https://doi.org/10.1038/nature07719
- X. Li, W. Cai, J. An, S. Kim, J. Nah, D. Yang, R. Piner, A. Velamakanni, I. Jung, E. Tutuc, S. K. Banerjee, L. Colombo and R. S. Ruoff, Science, 324, 1312 (2009). https://doi.org/10.1126/science.1171245
- S. Bae, H. Kim, Y. Lee, X. Xu, J. -S. Park, Y. Zheng, J. Balakrishnan, T. Lei, H. R. Kim, Y. I. Song, Y. -J. Kim, K. S. Kim, B. Ozyilmaz, J. -H. Ahn, B. H. Hong and S. Iijima, Nat. Nanotechnol., 5, 574 (2010). https://doi.org/10.1038/nnano.2010.132
- I. Vlassiouk, M. Regmi, P. Fulvio, S. Dai, P. Datskos, G. Eres and S. smirnov, ACS Nano, 5, 6069 (2011). https://doi.org/10.1021/nn201978y
- A. Reina, S. Thiele, X. Jia, S. Bhaviripudi, M. S. Dresselhaus, J. A. Schaefer and J. Kong, J. Nano Res., 2, 509 (2009). https://doi.org/10.1007/s12274-009-9059-y
- H. Zhou, W. J. Yu, L. Liu, R. Cheng, Y. Chen, X. Huang, Y. Liu, Y. Wang, Y. Huang and X. Duan, Nat. Commun., 4, 2096 (2013). https://doi.org/10.1038/ncomms3096
- K. L. Cashdollar, I. A. Zlochower, G. M. Green, R. A. Thomas and M. Hertzberg, J. Loss Prev. Process Indust., 13, 327 (2000). https://doi.org/10.1016/S0950-4230(99)00037-6
- M. Kumar and Y. Ando, J. Nanosci. Nanotechnol., 10, 3739 (2010). https://doi.org/10.1166/jnn.2010.2939
- M. Ahmed, N. Kishi, R. Sugita, A. Fukaya, I. Khatri, J. Liang, S. M. Mominuzzaman, T. Soga, and T. Jimbo, J. Mater. Sci.: Mater. Electron., 24, 2151 (2013). https://doi.org/10.1007/s10854-013-1073-x
- Y. Miyata, K. Kamon, K. Ohashi, R. Kitaura, M. Yoshimura and H. Shinohara, Appl. Phys. Lett., 96, 263105 (2010). https://doi.org/10.1063/1.3458797
- A. Srivastava, C. Galande, L. Ci, L. Song, C. Rai, D. Jariwala, K. F. Kelly and P. M. Ajayan, Chem. Mater., 22, 3457 (2010). https://doi.org/10.1021/cm101027c
- G. Kalita, M. Matsushima, H. Uchida, K. Wakita and M. Umeno, J. Mater. Chem., 20, 9713 (2010). https://doi.org/10.1039/c0jm01352h
- S. Sharma, G. Kalita, R. Hirano, S. M. Shinde, R. Papon, H. Ohtani and M. Tanemura, Carbon, 72, 66 (2014). https://doi.org/10.1016/j.carbon.2014.01.051
- G. Ruan, Z. Sun, Z. Peng and J. M. Tour, ACS Nano., 5, 7601-7607 (2011). https://doi.org/10.1021/nn202625c
- P. J. Barham, J. M. Hill, A. Keller and C. D. Rosney, J. Mater. Sci. Lett., 7, 1271 (1988). https://doi.org/10.1007/BF00719956
- W. Wu, Q. Yu, P. Peng, Z. Liu, J. Bao and S. S. Pei, Nanotechnology, 23, 035603 (2011). https://doi.org/10.1088/0957-4484/23/3/035603
- L. S. Panchakarla, K. S. Subrahmanyam, S. K. Saha, A. Govindaraj, H. R. Krishnamurthy, U. V. Waghmare and C. N. R. Rao, Adv. Mater., 21, 2726 (2009).
- R. Lv, Q. Li, A. R. Botello-Mendez, T. Hayashi, B. Wang, A. Berkdemir, Q. Hao, A. L. Elias, R. Cruz-Silva, H. R. Gutierrez, Y. A. Kim, H. Muramatsu, J. Zhu, M. Endo, H. Terrones, J. -C. Charlier, M. Pan and M. Terrones, Sci. Rep., 2, 1 (2012).
- C. Wang, Y. Zhou, L. He, T. -W. Ng, G. Gong, Q. -H. Wu, F. Gao, C. -S. Lee and W. Zhang, Nanoscale, 5, 600 (2013). https://doi.org/10.1039/C2NR32897F
- Eckmann, A. Felten, I. Verzhbitskiy, R. Davey and C. Casiraghi, Phys. Rev. B, 88, 035426 (2013). https://doi.org/10.1103/PhysRevB.88.035426
- W. Choi, M. A. Shehzad, S. Park and Y. Seo, RSC Adv., 7, 6943 (2017). https://doi.org/10.1039/C6RA27436F
- T. M. G. Mohiuddin, A Lombardo, R. R. Nair, A. Bonetti, G. Savini, R. Jalil, N. Bonini, D. M. Basko, C. Galiotis, N. Marzari, K. S. Novoselov, A. K. Geim and A. C. Ferrari, Phys. Rev. B, 79, 205433 (2009). https://doi.org/10.1103/PhysRevB.79.205433
- A. C. Ferrari and D. M. Basko, Nat. Nanotechnol., 8, 235 (2013). https://doi.org/10.1038/nnano.2013.46
- Eckmann, A. Felten, A. Mishchenko, L. Britnell, R. Krupke, K. S. Novoselov and C. Casiraghi, Nano Lett., 12, 3925 (2012). https://doi.org/10.1021/nl300901a