전계전자방출 에미터 기술

  • 이철진 (고려대학교 공과대학 전기전자공학부)
  • Published : 2018.08.31

Abstract

Keywords

References

  1. S. Dushman, Rev. Mod. Phys,. 2, 381 (1930). https://doi.org/10.1103/RevModPhys.2.381
  2. R. H. Fowler, F. R. S, L. Nordheim, Proceedings of the Royal Society A, 173, (1928).
  3. W. W. Dolan, Phys. Rev., 91, 510 (1953). https://doi.org/10.1103/PhysRev.91.510
  4. C. A. Spindt, J. Appl. Phys., 39, 3504 (1968). https://doi.org/10.1063/1.1656810
  5. C. A. Spindt, I. Brodie, L. Humphrey, E. R. Westerberg, J. Appl. Phys., 47, 5248 (1976). https://doi.org/10.1063/1.322600
  6. J. Liu, V. V. Zhirnov, G. J. Wojak, A. F. Myers, W. B. Choi, J. J. Hren, S. D. Wolter, M. T. McClure, B. R. Stoner, J. T. Glass, Appl. Phys. Lett., 65, 2842 (1994). https://doi.org/10.1063/1.112538
  7. F. Watanabe, M. Arita, T. Motooka, K.. Okano, T. Yamada, Jpn. J. Appl. Phys., 37, L 562 (1998). https://doi.org/10.1143/JJAP.37.L562
  8. S. Itoh, T. Watanabe, Ka Ohtsu, M. Taniguchi, S. Uzawa, N. Nishimura, JVST B, 13, 487 (1995).
  9. K. L. J ensena, P. Mukhopadhyay-Phillips, E. G. Zaidman, K. Nguyen, M. A, Kodis, L. Malsawm, C. Hor, Appl. Surf. Sci., 111, 204 (1997). https://doi.org/10.1016/S0169-4332(96)00726-X
  10. A. G. Rinzler, J. H. Hafner, P. Nikolaev, P. Nordlander, D. T. Colbert, R. E. Smalley, L. Lou, S. G. Kim, D. Tomanek, Science, 269, 5230 (1995).
  11. Walt A. de Heer, A. Chatelain, D. Ugarte, Science, 270, 1179 (1995). https://doi.org/10.1126/science.270.5239.1179
  12. Y. Saito, K. Hamaguchi, K. Hata, K. Uchida, Y. Tasaka, F. Ikazaki, M. Yumura, A. Kasuya, Y. Nishina, Nature, 389, 554 (1997).
  13. C. J. Lee, D. W. Kim, T. J. Lee, Y. C. Choi. Y. S. Park, Y. H. Lee, W. B. Choi, N. S. Lee, G. S. Park. J. M. Kim, Chem. Phys. Lett,. 312, 461 (1999). https://doi.org/10.1016/S0009-2614(99)01074-X
  14. W. B. Choi, D. S. Chung, J. H. Kang, H. Y. Kim, Y. W. Jin, I. T. Han, Y. H. Lee, J. E. Jung, N. S. Lee, G. S. Park, J. M. Kim, Appl. Phys. Let.,. 75, 3129 (1999). https://doi.org/10.1063/1.125253
  15. Y. Saito, S. Uemura, Carbon, 38, 169 (2000). https://doi.org/10.1016/S0008-6223(99)00139-6
  16. C. J. Lee, T. J. Lee, S. C. Lyu, Y. Zhang, Appl. Phys. Lett., 81, 3648 (2002). https://doi.org/10.1063/1.1518810
  17. B. Cao, W. Cai, G. Duan, Y. Li, Q. Zhao, D. Yu, Nanotechnology, 16, 2567 (2005). https://doi.org/10.1088/0957-4484/16/11/017
  18. C. Liu, K. S. Kim, J. H. Baek, Y. M. Cho, S. W. Han, S. W. Kim, N. K. Min, Y. M. Choi, J. U. Kim, C. J. Lee, Carbon, 47, 1158 (2009). https://doi.org/10.1016/j.carbon.2008.12.054
  19. H. Ham, G. Shen, J. H. Cho, T. J. Lee, S. H. Seo, C. J. Lee, Chem. Phys. Lett., 404, 69 (2005). https://doi.org/10.1016/j.cplett.2005.01.084
  20. Jean-Marc Bonard, Jean-Paul Salvetat, Thomas Stockli, Walt A. de Heer, Laszlo Forro, Andre Chatelain, Appl. Phys. Lett,. 73, 918 (1998). https://doi.org/10.1063/1.122037
  21. Y. Song, Y. Sun, D. H. Shin, K. N. Yun, Y. H. Song3, W. I. Milne, C. J. Lee, Appl. Phys. Lett., 104, 163102 (2014). https://doi.org/10.1063/1.4870655
  22. K. N.Yun, Y. Sun, J. S. Han, Y..H. Song, C. J. Lee, ACS Appl. Mater. Interfaces, 9, 1562 (2017). https://doi.org/10.1021/acsami.6b10713
  23. Z. S. Wu, S. Pei, W. Ren, D. Tang, L. Gao, B. Liu, F. Li, C. Liu, H. M. Cheng, Adv. Mater., 21, 1756 (2009). https://doi.org/10.1002/adma.200802560
  24. T. W. Ebbesen, H. J. Lezec, H. Hiura, J. W. Bennett, H. F. Ghaemi, T. Thio, Nature 382, 54 (1996). https://doi.org/10.1038/382054a0
  25. M. M. J. Treacy, T. W. Ebbesen, J. M. Gibson, Nature, 381, 678 (1996). https://doi.org/10.1038/381678a0
  26. A. Thess, R.Lee, P. Nikolaev, H. Dai, P. Petit, J. Robert, C. Xu, Y. H. Lee, S. G. Kim, A. G. Rinzler, D. T. Colbert, G. E. Scuseria, D. Tomanek, J. E. Fischer, R. E. Smalley, Science, 26, 483 (1996).
  27. J. Hone, M. Whitney, C. Piskoti, A. Zettl, Phys. Rev. B, 59, R2514(R) (1999). https://doi.org/10.1103/PhysRevB.59.R2514
  28. P. Kim, L. Shi, A. Majumdar, P. L. McEuen, Phys. Rev. Lett., 87, 215502 (2001). https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.87.215502
  29. C. J. Lee, J. Park, S. Y. Kang, J. H. Lee, Chem. Phys. Lett., 326, 175 (2000). https://doi.org/10.1016/S0009-2614(00)00751-X
  30. B. Gao, G. Z. Yue, Q. Qiu, Y. Cheng, H. Shimoda, L. Fleming, Otto Zhou, Adv. Mater., 13, 1770 (2001). https://doi.org/10.1002/1521-4095(200112)13:23<1770::AID-ADMA1770>3.0.CO;2-G
  31. S. l. Jung. J. S. Choi, H. C. Shim, S. Kim, S. H. Jo, C. J. Lee, Appl. Phys. Lett., 89, 233108 (2006). https://doi.org/10.1063/1.2402222
  32. J. H. Ryu, J. S. Kang, K. C. Park, Materials, 5, 2353 (2012). https://doi.org/10.3390/ma5112353
  33. Y. Sun, Y. Song, D. H. Shin, K. N. Yun, S. -G. Jeon, J. I. Kim, Y. Saito, C. J. Lee, Appl. Phys. Lett., 104 (2014).
  34. J. W. Kim, J. W. Jeong, J. T. Kang, S. Y. Choi, S. Park. M. S. Shin, S. J. Ahn, Y. H. Song, Carbon, 82, 245 (2015). https://doi.org/10.1016/j.carbon.2014.10.068
  35. S. I. Jung, S. H. Jo, H. S. Moon, J. M. Kim, D. S. Zang, C. J. Lee, J. Phys. Chem. C, 111, 4175, (2007). https://doi.org/10.1021/jp0676078
  36. D. H. Shin, K. N. Yun, S. -G. Jeon, J. I. Kim, Y. Saito, W. I. Milne, C. J. Lee, Carbon, 89, 404 (2015). https://doi.org/10.1016/j.carbon.2015.03.041
  37. S. H. Lee, J. S. Han, H. B. Go, J. H. Jeon, J. H. Yang, P. Kim, C. J. Lee, IVNC 2018, 86 (2018).