Abstract
Lead zinc niobate (PZN) added lead zirconate titanate (PZT) thick films with thickness of $5{\sim}10{\mu}m$ were fabricated on silicon and sapphire substrates using aerosol deposition method. The contents of PZN were varied from 0 %, 20 % and 40 %. The initial particles (PZT, 2PZN-8PZT, 4PZN-6PZT) had irregular shape and submicron sizes. The as-deposited film had fairly dense microstructure without any crack, and showed only a perovskite single phase formed with nano-sized grains. The as-deposited films on silicon were annealed at the temperatures of $700^{\circ}C$, and the films deposited on sapphire were annealed at $900^{\circ}C$ in the electrical furnace. The effects of PZN addition on the microstructural evolution were observed using by FE-SEM and HR-TEM.
에어로졸 증착법에 의해서 상온에서 $6{\mu}m/min$의 속도로 $5{\sim}10{\mu}m$ 두께의 PZT-PZN(0 %, 20 %, 40 %) 복합체의 막을 실리콘/사파이어 기판위에서 제조하였다. 에어로졸 증착에 사용된 PZT, 2PZN-8PZT, 4PZN-6PZT 초기분말입자는 불규칙한 형상을 가지고 있으며 submicron 크기임을 확인하였다. 증착된 막은 어떠한 뜯김이나 기공도 없는 치밀한 막임을 확인하였고 나노크기의 입자를 가진 페로브스카이트 단상이었다. 실리콘기판 및 사파이어 기판위에서 증착된 막은 전기로에서 $700^{\circ}C$ 및 $900^{\circ}C$에서 각각 어닐링처리 하였으며 PZT에 40 %의 PZN이 첨가된 조성의 막의 경우 pyrochlore의 2차상이 형성되었다. 미세구조에 미치는 PZN 첨가의 영향을 관찰하기 위해 FE-SEM 및 HR-TEM이 사용되었다.