초록
잡음전력스펙트럼 (noise power spectrum, NPS)는 noise 진폭의 측정과 균일한 방사선 영역으로부터 획득된 영상의 품질에 가장 일반적인 방법 중 하나이다. 이 연구의 목적은 megavoltage X-ray 에너지를 사용하여 다른 잡음 전력스펙트럼 방법론들을 비교하는 것이다. 진단 영역에서의 잡음전력스펙트럼 평가 방법들은 국제 전기 규격 international electro-technical commission(IEC 62220-1) 기준을 사용하여 치료 영역에 적용되었다. 우리가 사용한 전자포털영상장치(electronic portal imaging device, EPID)는 Varian TrueBeam$^{TM}$, Siemens BEAMVIEW$^{PLUS}$, Elekta iViewGT 그리고 Varian Clinac$^R$ iX aS1000이었다. 잡음전력스펙트럼의 관심영역을 측정하기 위해, 우리는 겹침 (overlapping), 비겹침 (non-overlapping), 평탄도 (flatness), 반음영 (penumbra) 4가지 인자를 사용하였다. 결과적으로는 Siemens BEAMVIEW$^{PLUS}$, Varian TrueBeam$^{TM}$ flattening filter, Varian Clinac$^R$ iX aS1000, Varian TrueBeam$^{TM}$ flattening filter free에서의 잡음 (noise) 분포는 기존의 첫번째, 두번째, 세번째 실험방법보다는 Elekta iViewGT보다 현격하게 높은 noise 분포가 나타남을 알 수 있다. 이번 연구는 다양한 인자들이 잡음전력스펙트럼의 megavoltage imaging (MVI)영상에서 MVI영역에서 잡음전력 스펙트럼의 기준의 방법론으로 사용되어질 수 있다는 것을 보여주었다.
The noise power spectrum (NPS) is one of the most general methods for measuring the noise amplitude and the quality of an image acquired from a uniform radiation field. The purpose of this study was to compare different NPS methodologies by using megavoltage X-ray energies. The NPS evaluation methods in diagnostic radiation were applied to therapy using the International Electro-technical Commission standard (IEC 62220-1). Various radiation therapy (RT) devices such as TrueBeam$^{TM}$(Varian), BEAMVIEW$^{PLUS}$(Siemens), iViewGT(Elekta) and Clinac$^R$ iX (Varian) were used. In order to measure the region of interest (ROI) of the NPS, we used the following four factors: the overlapping impact, the non-overlapping impact, the flatness and penumbra. As for NPS results, iViewGT(Elekta) had the higher amplitude of noise, compared to BEAMVIEW$^{PLUS}$ (Siemens), TrueBeam$^{TM}$(Varian) flattening filter, Clinac$^{R}$iXaS1000(Varian) and TrueBeam$^{TM}$(Varian) flattening filter free. The present study revealed that various factors could be employed to produce megavoltage imaging (MVI) of the NPS and as a baseline standard for NPS methodologies control in MVI.