References
- J. Kido, W. Ikeda, M. Kimura, and K. Nagai, Jpn. J. Appl. Phys., 35, L394 (1996). https://doi.org/10.1143/JJAP.35.L394
- S. Tokito, K. Noda, H. Tanaka, Y. Taga, and T. Tsutsui, Synth. Met., 111, 393 (2000).
- J. Thompson, V. Maiorano, S. Carallo, E. Perrone, A. Biasco, R. Cingolani, A. Croce, A. Daneu, and R. I. R. Blyth, Synth .Met., 152, 69 (2005). https://doi.org/10.1016/j.synthmet.2005.07.146
- D. E. Kim, W. S. Kim, B. S. Kim, B. J. Lee, and Y. S. Kwon, Colloids Surf. A, 313, 320 (2008).
- F. J. Zhu, Y. L. Hua, S. G. Yin, J. C. Deng, K. W. Wu, X. Niu, X.M. Wu, and M. C. Petty, J. Lumin., 122, 717 (2007).
- Y. K. Jang, D. E. Kim, W. S. Kim, O. K. Kwon, B. J. Lee, and Y. S. Kwon, Jpn. J. Appl. Phys., 45, 3725 (2006). https://doi.org/10.1143/JJAP.45.3725
- P. E. Burrows and S. R. Forrest, Appl. Phys. Lett., 64, 2285 (1993).
- W. Brutting, S. Berleb, and A. G. Muckl, Synth. Met., 122, 99 (2001). https://doi.org/10.1016/S0379-6779(00)01342-4
- S. C. Jain, A. K. Kapoor, W. Geens, J. Poortmans, R. Mertens, and M. Willander, J. Appl. Phys., 92, 3579 (2002). https://doi.org/10.1063/1.1503857
- J. S. Kim, M. Granstrom, R. H. Friend, N. Johansson, W. R. Salaneck, R. Daik, W. J. Feast, and F. Cacial, J. Appl. Phys., 84, 6859 (1998). https://doi.org/10.1063/1.368981
- X. Y. Zheng, W. Q. Zhu, Y. Z. Wu, X. Y. Jiang, R. G. Sun, Z. I. Zhang, and S. H. Xu, Displays, 24, 121 (2003). https://doi.org/10.1016/j.displa.2003.09.004
- C. W. Ko and Y. T. Tao, Appl. Phys. Lett., 79, 4234 (2001). https://doi.org/10.1063/1.1425454
- J. S. Kim, M. Granstrom, R. H. Friend, N. Johansson, W. R. Salaneck, R. Daik, W. J. Feast, and F. Cacial, J. Appl. Phys., 84, 6859 (1998). https://doi.org/10.1063/1.368981
- H. Kanno, K. Ishikawa, Y. Nishio, A. Endo, C. Adachi, and K. Shibata, Appl. Phys. Lett., 90, 123509 (2007). https://doi.org/10.1063/1.2643908
- D. E. Kim, W. S. Kim, B. S. Kim, B. J. Lee, and Y. S. Kwon, Thin Solid Films, 516, 3637 (2008). https://doi.org/10.1016/j.tsf.2007.08.103
- X. T. Tao, H. Suzuki, T. Wada, H. Sasabe, and S. Miyata, Appl. Phys. Lett., 75, 1955 (1999). https://doi.org/10.1063/1.124883
- M. M. Mandoc, B. de Boer, and P.W.M. Blom, Phys. Rev. B, 73, 155205 (2006). https://doi.org/10.1103/PhysRevB.73.155205
- C. F. Qiu, L. D. Wang, H. Y. Chen, M. Wong, and H. S. Kwok, Appl. Phys. Lett., 79, 2276 (2001). https://doi.org/10.1063/1.1407300
- T. Nakamura, N. Tsutsumi, N. Juni, and H. Fujii, J. Appl. Phys. 97, 054505 (2005). https://doi.org/10.1063/1.1858875
- C. W. Tang, S. A. VanSlyke, and C. H. Chen, J. Appl. Phys., 65, 3610 (1989). https://doi.org/10.1063/1.343409
- S. C. Jain, A. K. Kapoor, W. Geens, J. Poortmans, R. Mertens, and M. Willander, J. Appl. Phys., 92, 3579 (2002). https://doi.org/10.1063/1.1503857
- M. mazzeo, D. Pisignano, Laura Favartto, G. Sotgiu, G. Barbarella, R. Cingolani, and G. Gigli, Synth. Met., 139, 657 (2003). https://doi.org/10.1016/S0379-6779(03)00243-1
- P.W.M. Blom, M.J.M. de Jong, and M. G. van Munster, Phys. Rev. B, 55, R656 (1997). https://doi.org/10.1103/PhysRevB.55.R656
- N. C. Greenham, I.D.W. Samuel, G. R. Hayes, R. T. Phillips, Y.A.R.R. Kessener, S. C. Moratti, A. B. Holmes, and R. H. Friend, Chem. Phys. Lett., 241, 89 (1995). https://doi.org/10.1016/0009-2614(95)00584-Q
- Z. Yang, B. Hu, and F. E. Karasz, J. Macromol. Sci., Pure. Appl. Chem., A35, 233 (1998).
- S. Reineke, F. Lindner, G. Schwartz, N. Seidler, K. Walzer, B. Lussem, and K. Leo, Nature, 459, 234 (2009). https://doi.org/10.1038/nature08003