참고문헌
- Z. Y. Wang, L. Z. Hu, J. Zhao, J. Sun, and Z. J. Wang, Vacuum, 78, 53 (2005). https://doi.org/10.1016/j.vacuum.2004.12.014
- T. Minami, Nanto, and S. Takata, J. Jap, 23(5), L280 (1984).
- G. Frank, E. Kauer, H. Kostlin, and F. J. Schmitte, Solar Energy Materials, 8, 387 (1983). https://doi.org/10.1016/0165-1633(83)90004-7
- B. K. Choi, D. H. Chang, Y. S. Yoon, and S. J. Kang, J. Mater. Sci: Mater. Electron., 17, 1011 (2006).
- C. J. Tun, J. K. Sheu, B. J. Pong, M. L. Lee, C. K. Hsieh, C. C. Hu, and G. C. Chi, IEEE Photon. Technol. Lett., 18, 274 (2006). https://doi.org/10.1109/LPT.2005.861987
- S. Y. Kuo, W. C. Chen, and F. I. Lai, J. Cryst. Growth, 287, 78 (2006). https://doi.org/10.1016/j.jcrysgro.2005.10.047
- S. Zafar, C. S. Ferekides, and D. L. Morel, J. Vac. Sci. Technol., A13, 2177 (1955).
- T. D. Kang, H. S. Lee, W. I. Park, and G. C Yi. J. Korean Pyhs. Soc., 44, 129 (2004).
- M. S. Wang, E. J. Kim, J. S. Chung, E. W. Shin, S. H. Hahn, K. E. Lee, and C. H. Park, Phys. Stat. Sol. (a), 203, 2418 (2006). https://doi.org/10.1002/pssa.200521398
- K. H. Kim, K. C. Park, and D. Y. Ma, J. Appl. Phys., 81, 7764 (1997). https://doi.org/10.1063/1.365556
- Y. Zhang, G. Du, and B. Liu, J. Cryst. Growth, 262, 456 (2004). https://doi.org/10.1016/j.jcrysgro.2003.10.079
- D. H. Kong, W. C. Choi, Y. C. Shin, J. H. Park, and T. G. Kim, J. Korean. Phys. Soc., 48, 1214 (2006).
- D. M. Bagnall, Y. F. Chen, M. Y. Shen, Z. Zhu, T. Goto, and T. Yao, J. Cryst. Growth, 184/185, 605 (1998). https://doi.org/10.1016/S0022-0248(98)80127-9
- A. Van der Drift. Philips Res. Rep., 22, 267 (1967).
- B. D. Cullity, Elements of X-ray Diffractions, (Addison-Wesley, Reading, MA, 1978) p. 102.
- S. Kim, W. I. Lee, E. H. Lee, S. K. Hwang, and C. Lee. J Mater Sci., 42, 4845 (2007). https://doi.org/10.1007/s10853-006-0738-8
- B. E. Semelius, K. F. Berggren, Z. C. Jin, I. Hamberg, and C. G. Granqvist, Phys. Rev. B, 37, 10244 (1988). https://doi.org/10.1103/PhysRevB.37.10244
- I. Yasuhiro and S. Hiromi, Thin Solid Films, 199, 223 (1991). https://doi.org/10.1016/0040-6090(91)90004-H