References
- C. D. Dimitrakopoulos and P. R. L. Malenfant, Adv. Mater., 14, 99117 (2002).
- H. Klauk, Chem. Soc. Rev., 39, 2643 (2010). https://doi.org/10.1039/b909902f
- J. E. Anthony, D. L. Eaton, and S. R. Parkin, Org. Lett., 4, 15 (2002). https://doi.org/10.1021/ol0167356
- M. C. Delgado, K. R. Pigg, D. A. da Silva Filho, N. E. Gruhn, Y. Sakamoto, T. Suzuki, R. M. Osuna, J. Casado, V. Hernandez, J. T. L. Navarrete, N. G. Martinelli, J. Cornil, R. S. Sanchez-Carrera, V. Coropceanu, and J. L. Bredas, J. Am. Chem. Soc., 131, 1502 (2009). https://doi.org/10.1021/ja807528w
- D. Braga and G. Horowitz, Adv. Mater., 21, 1473 (2009). https://doi.org/10.1002/adma.200802733
- H. Sirringhaus, Adv. Mater., 21, 3859 (2009). https://doi.org/10.1002/adma.200901136
- T. Jung, Proc. 6th Int. Conf. on Convergence and Hybrid Information Technology (eds. G. Lee, D. Howard, J. J. Kang, and D. Slezak) (Daejeon, Korea, 2012) p. 453.
- K. K. Ryu, I. Nausieda, D. D. He, A. I. Akinwande, V. Bulovic, and C. G. Sodini, IEEE Trans. Elect. Dev., 57, 1003 (2010). https://doi.org/10.1109/TED.2010.2044282
- S. C. Deane, R. B. Wehrspohn, and M. J. Powell, Phys. Rev., B58, 12625 (1998).
- H. L. Gomes, P. Stallinga, F. Dinelli, M. Murgia, F. Biscarini, D. M. D. Leeuw, M. Muccini, and K. Mllen, Polym. Adv. Technol., 16, 227 (2005). https://doi.org/10.1002/pat.558
- H. H. Choi, M. S. Kang, M. Kim, H. Kim, J. H. Cho, and K. Cho, Adv. Funct. Mater., doi: 10.1002/adfm.201201545 (2012).
- M. Chan, X. Xi, J. He, K. M. Cao, M. V. Dunga, A. N. Niknejad, P. K. Ko, and C. Hu, Microelectron. Reliab., 43, 399 (2003). https://doi.org/10.1016/S0026-2714(02)00278-0