References
- Shioi, K.; Michiue, Y.; Hirosaki, N.; Xie, R.-J.; Takeda, T.; Matsushita, Y.; Tanaka, M.; Li, Y. Q. J. Alloys Compd. 2011, 509, 332. https://doi.org/10.1016/j.jallcom.2010.09.021
- Song, Y. H.; Park, W. J.; Yoon, D. H. J. Phys. Chem. Solids 2010, 71, 473. https://doi.org/10.1016/j.jpcs.2009.12.014
- Song, X.; He, H.; Fu, R.; Wang, D.; Zhao, X.; Pan, Z. J. Phys. D: Appl. Phys. 2009, 42, 065409. https://doi.org/10.1088/0022-3727/42/6/065409
- Yun, B.-G.; Horikawa, T.; Hanzawa, H.; Machida, K.-I. J. Electrochem. Soc. 2010, 157, J364. https://doi.org/10.1149/1.3479763
- Kimura, N.; Sakuma, K.; Hirafune, S.; Asano, K.; Hirosaki, N.; Xie, R.-J.; Hirosaki, N.; Xie, R.-J. Appl. Phys. Lett. 2007, 90, 051109. https://doi.org/10.1063/1.2437090
- Hirosaki, N.; Xie, R.-J.; Kimoto, K.; Sekiguchi, T.; Yamamoto, Y.; Suehiro, T.; Mitomo, M. Appl. Phys. Lett. 2005, 86, 211905. https://doi.org/10.1063/1.1935027
- Ryu, J. H.; Park, Y.-G.; Won, H. S.; Suzuki, H.; Kim, S. H.; Yoon, C. J. Ceram. Soc. Jpn. 2008, 116, 389. https://doi.org/10.2109/jcersj2.116.389
- Ryu, J. H.; Won, H. S.; Park, Y.-G.; Kim, S. H.; Song, W. Y.; Suzuki, H.; Yoon, C. Appl. Phys. A 2009, 95, 747. https://doi.org/10.1007/s00339-008-5044-7
- Wang, M.; Zhang, X.; Hao, Z.; Ren, X.; Luo, Y.; Wang, X.; Zhang, J. Opt. Mater. 2010, 32, 1042. https://doi.org/10.1016/j.optmat.2010.02.027
- Rubio, O. J. J. Phys. Chem. Solids 1991, 52, 101. https://doi.org/10.1016/0022-3697(91)90062-5
- Kortum, G. Reflectance Spectroscopy; Springer-Verlag: New York, 1969.