References
- T. Kamiya, K. Nomura, and H. Hosono, Sci. Technol. Adv. Mater., 11, 044305 (2010). https://doi.org/10.1088/1468-6996/11/4/044305
- H. H. Hsieh, H. H. Lu, H. C. Ting, C. S. Chuang, C. Y. Chen, and Y. Lin, J. Inf. Display, 11, 160 (2010). https://doi.org/10.1080/15980316.2010.9665845
- A. Gupta and A. D. Compaan, Appl. Phys. Lett., 85, 684 (2004). https://doi.org/10.1063/1.1775289
- K. Nomura, H. Ohta, A. Takagi, T. Kamiya, M. Hirano, and H. Hosono, Nature, 432, 488 (2004). https://doi.org/10.1038/nature03090
- E. M. C. Fortunato, L. M. N. Pereira, P. M. C. Barquinha, A. M. Botelho do Rego, G. Goncalves, A. Vila, J. R. Morante, and R. F. P. Martins, Appl. Phys. Lett., 92, 222103 (2008). https://doi.org/10.1063/1.2937473
- D. S. Ginley, Handbook of Transparent Conductors, 1st ed. (Springer, New York, 2010) p. 28.
- R. E. Presley, C. L. Munsee, C. H. Park, D. Hong, J. F. Wager, and D. A. Keszler, J. Phys. D: Appl. Phys., 37, 2810 (2004). https://doi.org/10.1088/0022-3727/37/20/006
- Y. S. Rim, D. L. Kim, W. H. Jeong, and H. J. Kim, Appl. Phys. Lett., 97, 233502 (2010). https://doi.org/10.1063/1.3524514
- S. Jeong, Y. Jeong, and J. Moon, J. Phys. Chem., C112, 11082 (2008).
- G. H. Kim, H. S. Shin, B. D. Ahn, K. H. Kim, W. J. Park, and H. J. Kim, J. Electrochem. Soc., 156, H7 (2009). https://doi.org/10.1149/1.2976027
- L. S. Prabhumirashi and J. K. Khoje, Thermochim. Acta., 383, 109 (2002). https://doi.org/10.1016/S0040-6031(01)00683-9
- T. N. Soitah, C. Yang, L. Sun, Mat. Sci. Semicon. Proc., 13, 125 (2010). https://doi.org/10.1016/j.mssp.2010.03.002
- X. Ma, P. Chen, R. Zhang, and D. Yang, J. Alloy. Compd., 509, 6599 (2011). https://doi.org/10.1016/j.jallcom.2011.03.101
- J. Szuber, G. Czempik, R. Larciprete, D. Koziej, and B. Adamowicz, Thin Solid Films, 391, 198 (2001). https://doi.org/10.1016/S0040-6090(01)00982-8
- T. Kawabe, K. Tabata, E. Suzuki, Y. Yamaguchi, and Y. Nagasawa, J. Phys. Chem., B105, 4239 (2001).
- I. Tanaka, K. Tatsumi, M. Nakano, and H. Adachi, J. Am. Ceram. Soc., 85, 68 (2002).
- F. A. Selim, M. H. Weber, D. Solodovnikov, and K. G. Lynn, Phys. Rev. Lett., 99, 085502 (2007). https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.99.085502
- G. H. Kim, B. D. Ahn, H. S. Shin, W. H. Jeong, H. J. Kim, and H. J. Kim, Appl. Phys. Lett., 94, 233501 (2009). https://doi.org/10.1063/1.3151827