References
- Ertl, G. Adv. Catal. 2000, 45, 1. https://doi.org/10.1016/S0360-0564(02)45012-2
- Chen, M. S.; Wang, X. V.; Zhang, L. H.; Tang, Z. Y.; Wan, H. L. Langmuir 2010, 26, 18113. https://doi.org/10.1021/la103140w
- Gao, F.; Goodman, D. W. Langmuir 2010, 26, 16540. https://doi.org/10.1021/la1014626
- Gao, F; Wang, Y.; Cai, Y.; Goodman, D. W. J. Phys. Chem. 2009, 113, 174.
- McClure, S. M.; Goodman, D. W. Chem. Phys. Lett. 2009, 469, 1. https://doi.org/10.1016/j.cplett.2008.12.066
- Ackermann, M. D.; Pedersen, T. M.; Hendriksen, B. L. M.; Robach, O.; Bobaru, S. C.; Popa, I.; Quiros, C.; Kim, H.; Hammer, B.; Ferrer, S.; Frenken, J. W. M. Phys. Rev. Lett. 2005, 95, 4.
- Grass, M. E.; Zhang, Y. W.; Butcher, D. R.; Park, J. Y.; Li, Y. M.; Bluhm, H.; Bratlie, K. M.; Zhang, T. F.; Somorjai, G. A. Angew. Chem. Int. Ed. 2008, 47, 8893. https://doi.org/10.1002/anie.200803574
- Hendriksen, B. L. M.; Frenken, J. W. M. Phys. Rev. Lett. 2002, 89, 4.
- Over, H.; Balmes, O.; Lundgren, E. Surf. Sci. 2009, 603, 298. https://doi.org/10.1016/j.susc.2008.11.012
- Over, H.; Kim, Y. D.; Seitsonen, A. P.; Wendt, S.; Lundgren, E.; Schmid, M.; Varga, P.; Morgante, A.; Ertl, G. Science 2000, 287, 1474. https://doi.org/10.1126/science.287.5457.1474
- Knudsen, J.; Merte, L. R.; Peng, G. W.; Vang, R. T.; Resta, A.; Laegsgaard, E.; Andersen, J. N.; Mavrikakis, M.; Besenbacher, F. Acs Nano. 2010, 4, 4380. https://doi.org/10.1021/nn101241c
- Peng, G. W.; Merte, L. R.; Knudsen, J.; Vang, R. T.; Laegsgaard, E.; Besenbacher, F.; Mavrikakis, M. J. Phys. Chem. C 2010, 114, 21579. https://doi.org/10.1021/jp108475e
- Zhao, B.; Ke, X.-K.; Bao, J.-H.; Wang, C.-L.; Dong, L.; Chen, Y.- W.; Chen, H.-L. J. Phys. Chem. C 2009, 113, 14440. https://doi.org/10.1021/jp904186k
- Wang, D. S.; Xu, R.; Wang, X.; Li, Y. D. Nanotechnol. 2006, 17, 979. https://doi.org/10.1088/0957-4484/17/4/023
- Rajasree, R.; Hoebink, J. H. B. J.; Schouten, J. C. J. Catal. 2004, 223, 36. https://doi.org/10.1016/j.jcat.2003.12.014
- Gong, X. J. Chem. Phys. 2003, 119, 6324. https://doi.org/10.1063/1.1602053
- Bergeld, J.; Kasemo, B.; Chakarov, D. V. Surf. Sci. 2001, 495, L815. https://doi.org/10.1016/S0039-6028(01)01598-9
- Moulder, J. F.; Stickle, W. F.; Sobol, P. E.; Bomben, K. D. Hankbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy; Chastain, J., King, R. C., Jr., Eds.; Physical Electronics, Inc: Minnesota, U.S.A., 1995.
- Greiner, M. T.; Helander, M. G.; Wang, Z.-B.; Tang, W.-M.; Lu, Z.-H. J. Phys. Chem. C 2010, 114, 19777. https://doi.org/10.1021/jp108281m
- Biesinger, M. C.; Payne, B. P.; Lau, L. W. M.; Gerson, A.; Smart, R. S. C. Surf. Interf. Anal. 2009, 41, 324. https://doi.org/10.1002/sia.3026
Cited by
- A new apparatus for carbon monoxide oxidation studies performed over thin film catalysts vol.24, pp.12, 2013, https://doi.org/10.1088/0957-0233/24/12/125901