DOI QR코드

DOI QR Code

Characterization of Few-Layer Graphene on Stretchable Substrate Using Thermally-Treated Exfoliation

  • Kim, Sung-Jin (College of Electrical and Computer Engineering, Chungbuk National University) ;
  • Choi, Seong-Gon (College of Electrical and Computer Engineering, Chungbuk National University)
  • Received : 2010.07.13
  • Accepted : 2011.03.21
  • Published : 2011.05.20

Abstract

Keywords

References

  1. Novoselov, K. S.; Geim, A. K.; Morozov, S. V.; Jiang, D.; Zhang, Y.; Dubonos, S. V.; Grigorieva, I. V.; Firsov A. A. Science 2004, 306, 666. https://doi.org/10.1126/science.1102896
  2. Novoselov, K. S.; Geim, A. K.; Morozov, S. V.; Jiang, D.; Katsnelson, M. I.; Grigorieva, I. V.; Dubonos, S. V.; Firsov, A. A. Nature 2005, 438, 197. https://doi.org/10.1038/nature04233
  3. Berger, C.; Song, Z.; Li, X.; Wu, X.; Brown, N.; Naud, C.; Mayou, D.; Li, T.; Hass, J.; Marchenkov, A. N.; Conrad, E. H.; First, P. N.; de Heer, W. A. Science 2006, 312, 1191. https://doi.org/10.1126/science.1125925
  4. Wei, Z.; Wang, D.; Kim, S.; Kim, S.-Y.; Hu, Y.; Yakes, M. K.; Laracuente, A. R.; Dai, Z.; Marder, S. R.; Berger, C.; King, W. P.; de Heer, W. A.; Sheehan, P. E.; Riedo, E. Science 2010, 328, 1191.
  5. Mori, T.; Kikuzawa, Y.; Takeuchi, H. Organic Electronics 2008, 9, 328. https://doi.org/10.1016/j.orgel.2008.01.002
  6. Lemme, M. C.; Echtermeyer, T. J.; Baus, M.; Szafranek, B. N.; Bolten, J.; Schmidt, M.; Wahlbrink, T.; Kurz, H. Solid-State Electrnics 2008, 52, 514. https://doi.org/10.1016/j.sse.2007.10.054
  7. Sanoand, E.; Otsuji, T. Jpn. J. Appl. Phys. 2009, 48, 011604. https://doi.org/10.1143/JJAP.48.011604
  8. Ryu, K.; Kim, S.-J. Journal of the Korean Physical Society 2008, 53, 2015. https://doi.org/10.3938/jkps.53.2015
  9. Schedin, F.; Geim, A. K.; Morozov, S. V.; Hill, E. W.; Blake, P.; Katsnelson, M. I.; Novoselov, K. S. Nature Materials 2007, 6, 652. https://doi.org/10.1038/nmat1967
  10. Liu, Q.; Liu, Z.; Zhang, Z.; Zhang, N.; Yang, L.; Yin, S.; Chen, Y. Appl. Phys. Lett. 2008, 92, 223303. https://doi.org/10.1063/1.2938865
  11. Kim, N.; Oh, M. K.; Park, S.; Kim, S. K.; Hong, B. H. Bull. Korean Chem. Soc. 2010, 31, 999. https://doi.org/10.5012/bkcs.2010.31.04.999
  12. Ryu, S.; Han, M. Y.; Maultzsch, J.; Heinz, T. F.; Kim, P.; Steigerwald, M. L.; Brus, L. E. Nano Letters 2008, 8, 4597. https://doi.org/10.1021/nl802940s
  13. Srivastava, A.; Galande, C.; Ci, L.; Song, L.; Rai, C.; Jariwala, D.; Kelly, K. F.; Ajayan, P. M. Chem. Mater. 2010, 22, 3457. https://doi.org/10.1021/cm101027c
  14. Reina, A.; Son, H.; Jiao, L.; Fan, B.; Dresselhaus, M. S.; Liu, Z.; Kong, J. J. Phys. Chem. C 2008, 112, 17741. https://doi.org/10.1021/jp807380s
  15. Ferrari, A. C.; Meyer, J. C.; Scardaci, V.; Casiraghi, C.; Lazzeri, M.; Mauri, F.; Piscanec, S.; Jiang, D.; Novoselov, K. S.; Roth, S.; Geim, A. K. Phys. Rev. Lett. 2006, 97, 187401. https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.97.187401
  16. Wang, F.; Liu, W.; Wu, Y.; Sfeir, M. Y.; Huang, L.; Hone, J.; O'Brien, S.; Brus, L. E.; Heinz, T. F.; Shen, Y. R. Phys. Rev. Lett. 2007, 98, 047402. https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.98.047402
  17. Yu T.; Ni, Z.; Du, C.; You, Y.; Wang, Y.; Shen, Z. J. Phys. Chem. 2008, 112, 12603.